JIS Z 4338:2006 ハンドフットモニタ及び体表面汚染モニタ―α線及び／又はβ線用ハンドフットモニタ及び体表面汚染モニタ

                                                                                   Z 4338 : 2006

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,社団法人日本電気
計測器工業会(JEMIMA)/財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正す
べきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
IEC 61098:1992の技術記載内容には,“ハンドフットモニタ”と“体表面汚染モニタ”とが包含されてお
り,この国際規格と整合させたため,JIS Z 4315:1980とJIS Z 4338:1997を併合しJIS Z 4338とした。
  これによって,JIS Z 4338:1997は改正され,また,JIS Z 4315:1980及びJIS Z 4338:1997は廃止・統合
され,この規格に置き換えられる。
  改正に当たっては,日本工業規格(日本産業規格)と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格(日本産業規格)の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 61098:1992,Installed personnel
surface contamination monitoring assemblies for alfha and beta emittersを基礎として用いた。
  この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案権登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査
会は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用
新案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。
  JIS Z 4338には,次に示す附属書がある。
    附属書1(参考)JISと対応する国際規格との対比表

――――― [JIS Z 4338 pdf 1] ―――――

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pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1. 適用範囲・・・・[1]
•  2. 引用規格・・・・[1]
•  3. 定義・・・・[2]
•  4. 種類・・・・[2]
•  4.1 測定する放射線の種類による分類・・・・[2]
•  4.2 バックグラウンドの減算方法による分類・・・・[3]
•  4.3 測定部位による分類・・・・[3]
•  5. 性能・・・・[3]
•  5.1 機器効率の線源位置依存性・・・・[3]
•  5.2 最小検出表面放出率・・・・[3]
•  5.3 エネルギー特性・・・・[3]
•  5.4 他の放射線による影響・・・・[3]
•  5.5 警報動作・・・・[3]
•  5.6 オーバスケール特性・・・・[4]
•  5.7 温度特性・・・・[4]
•  5.8 耐湿性・・・・[4]
•  5.9 電源電圧の変動に対する安定性・・・・[4]
•  6. 構造・・・・[4]
•  6.1 構造一般・・・・[4]
•  6.2 検出チャネル・・・・[4]
•  6.3 信号処理部・・・・[5]
•  6.4 警報表示部・・・・[5]
•  6.5 電源・・・・[5]
•  7. 試験・・・・[5]
•  7.1 試験条件・・・・[5]
•  7.2 試験方法・・・・[6]
•  8. 検査・・・・[10]
•  8.1 形式検査・・・・[10]
•  8.2 受渡検査・・・・[11]
•  9. 表示・・・・[11]
•  10. 取扱説明書・・・・[11]
•  附属書(参考)JISと対応する国際規格との対比表・・・・[12]

(pdf 一覧ページ番号 3)

――――― [JIS Z 4338 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                             Z 4338 : 2006

ハンドフットモニタ及び体表面汚染モニタ

         −α線及び/又はβ線用ハンドフットモニタ及び体表面汚染モニター

Hand and foot monitors and personnel surface contamination monitors for alfha and /or beta emitters

序文

 この規格は,1992年に第1版として発行されたIEC 61098,Installed personnel surface cont
a-mination monitoring assemblies for alfha and beta emittersを翻訳し,技術的内容を変更して作成
した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,原国際規格を変更している事項である。変更
の一覧表をその説明を付けて,附属書(参考)に示す。

1. 適用範囲

 この規格は,原子力施設,放射線施設などで使用される,α線放出核種及び最大エ
ネルギー0.15 MeV以上のβ線を放出するβ線放出核種による,手,足及び身体表面の汚染を測定す
るα線及び/又はβ線用ハンドフットモニタ及び体表面汚染モニタ(以下,モニタという。)につい
て規定する。
 この規格は,測定中に被測定者が動かない装置だけに適用し,検出器を身体表面上に動かしたり,
装置を被測定者が通過するような装置には適用しない。また,α線用モニタは,手及び/又は足だけ
の汚染を測定する装置に適用する。
    備考 この規格の対応国際規格を,次に示す。
            なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21に基づき,IDT(一致している),
          MOD(修正している),NEQ(同等でない)とする。
          IEC 61098:1992,Installed personnel surface contamination monitoring assemblies for alpha and
              beta emitters (MOD)

2. 引用規格

 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を
構成する。これらの引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS Z 4001 原子力用語
        備考 IEC 60050-393:1996 International Electro technical Vocabulary − Chapter 393及びIEC
              60050-394:1995 International Electro technical Vocabulary − Chapter 394 からの引用事
              項は,この規格の該当事項と同等である。
    JIS Z 4334 放射性表面汚染計校正用線源
        備考 ISO 8769:1998 Reference sources for the calibration of surface contamination monitors−
              Beta-emitters (maximum beta energy greater than 0.15 MeV)   nd alpha-emitters からの引
              用事項は,この規格の該当事項と同等である。

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Z 4338 : 2006
    JIS Z 4915 胸・腹部用X線水ファントム
    JIS Z 8103 計測用語

3. 定義

 この規格で用いる主な用語の定義は,JIS Z 4001及びJIS Z 8103によるほか,次による。
a) 表面放出率(surface emission rate) 線源の表面又は線源窓から放出される単位時間当たりのα
    粒子又はβ粒子の数。
b) 最小検出表面放出率 (minimum detectable surface emission rate) モニタで有意に計測し得る
    表面放出率の最小限度。
c) 機器効率 (instrument efficiency) 標準線源に対して決められた幾何学的条件で測定したとき
    の,標準線源の表面放出率に対する各検出器の正味計数率の比。
d) 機器効率の線源位置依存性 (variation of response with source position) 検出面から一定距離の
    面上又はファントム上で線源位置を変化させた場合の機器効率の平均値に対する最大値及び最
    小値の比。
e) 実効機器効率 (effective instrument efficiency)  最小検出表面放出率を算出するときに用いる
    実効的な機器効率で,検出器全体にわたる機器効率の平均値。身体表面用検出器の場合はファ
    ントムを用いて測定した機器効率分布の平均値とし,手及び足用の検出器の場合は代表点の機
    器効率と等価である。
f)  代表点の機器効率 (instrument efficiency of a representation point) 形式試験で測定した実効機
    器効率の変化を確認するときに用いる代表位置での機器効率。
g) 環境バックグラウンド (ambient background) モニタが設置された場所のバックグラウンド。
    単位はμGy/h(空気カーマ率)を用いる。
h) 最大基準バックグラウンド (reference background) 環境バックグラウンドと人工的にγ線照
    射によって付加された線量の和。単位はμGy/h(空気カーマ率)を用いる。
i)  検出チャネル (detection channel) 検出器単体と,その検出器に対応する増幅器,波形整形回
    路及び波高弁別器を含む最小の検出系。
j)  測定部位 (part of monitoring) 右手,左足,腹部などのように,汚染の有無を判定する部位。
k) モニタリングチャネル (monitoring channel) 測定部位の汚染を測定するための,一つ又は二つ
    以上の検出チャネルで構成される装置。
l)  検出器の入射窓面積 (sensitive area of the detector) α線及びβ線が検出器に実際に入射し得
    る部分の面積。保護格子の部分を含む。
m) 身体表面 (surface of body) 手の表裏及び足の裏面を除く四肢及び体幹部の表面。

4. 種類

 モニタの種類は,次による。

4.1 測定する放射線の種類による分類

a) α線用モニタ α線専用のモニタで,手及び/又は足の測定だけに適用する。
b) β線用モニタ β線専用のモニタ。
c) α・β線用モニタ α線及びβ線を同時に測定するモニタ。ただし,α線については手及び/
    又は足の測定だけに適用する。

4.2 バックグラウンドの減算方法による分類

a) バックグラウンド継続減算形 被測定者がモニタを使用していない間,常に各検出器でバック

――――― [JIS Z 4338 pdf 4] ―――――

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                                                                                   Z 4338 : 2006
    グラウンドを測定しておき,被測定者の計数率から測定直前のバックグラウンドの計数率を差
    し引くモニタ。
b) バックグラウンド同時減算形 バックグラウンド用検出器を測定部位の汚染測定用検出器とは
    別にもち,汚染測定用検出器の計数率から,バックグラウンド用検出器の計数率に定数を乗じ
    た値を減算するモニタ。
c) バックグラウンド無補償形 バックグラウンド補償がないモニタ。

4.3 測定部位による分類

a) 体表面汚染モニタ 手,足及び身体表面の汚染を測定するモニタ。
b) ハンドフットモニタ 手及び足だけの汚染を測定するモニタ。
c) ハンドモニタ 手の汚染だけを測定するモニタ。
d) フットモニタ 足の汚染だけを測定するモニタ。

5. 性能

5.1 機器効率の線源位置依存性

 7.2.2 の方法で試験したとき,機器効率の線源位置依存性は,手
及び足に用いる検出器について,機器効率の平均値に対する最小値の比が0.5以上(1),及び機器効
率の平均値に対する最大値の比が2.0以下(1)とする。ただし,身体表面に用いる検出器については
規定しない。
    注(1)   M計数管を複数個並べたモニタについては,許容範囲を規定しないが,機器効率の線源
          位置依存性を取扱説明書に記載しなければならない。

5.2 最小検出表面放出率

 7.2.3 の方法で試験したとき,最小検出表面放出率は,α線については
20 s-1以下,β線については200 s-1以下とする。

5.3 エネルギー特性

 7.2.4 の方法で試験したとき,β線に対するエネルギー特性は,実効機器効
率の最大値に対する最小値の比が,取扱説明書(10. e))の値以上とする。
 なお,α線については規定しない。

5.4 他の放射線による影響

 他の放射線による影響は,次による。
5.4.1 γ線の影響 γ線の影響はモニタの種類によって,次の項目を満足しなくてはならない。
a) α線用モニタ 25 μGy/hで照射したとき,有意な計数値の上昇があってはならない。
b) β線用モニタ 製造業者は,線量率と計数値との関係を取扱説明書に記載しなければならない。
c) α/β線用モニタ 製造業者は,線量率とα線計数値及びβ線計数値との関係を取扱説明書に記
    載しなければならない。
5.4.2 α線の影響 α/β線用モニタの場合には,α線照射によるβ線計数値の上昇が,α線の計数
値を超えてはならない。
 なお,β線用モニタについては,α線の影響が少ないので規定しない。
5.4.3 β線の影響 α/β線用モニタは,β線照射によるα線計数値の上昇が,β線計数値の1/100
を超えてはならない。

5.5 警報動作

 7.2.5 の方法で試験したとき,警報動作は,6.4 b) に示す動作を確実に行わなければ
ならない。

5.6 オーバスケール特性

 7.2.6 の方法で試験したとき,オーバスケール特性は,最大指示範囲を
超えたことを示す表示を行いその測定部位を表示する。

5.7 温度特性

 7.2.7 の方法で試験したとき,温度特性は,基準値の±30 %とする。

――――― [JIS Z 4338 pdf 5] ―――――

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