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JIS C 5261:1993 廃止 規格情報
この規格の廃止理由、規格の分割・統合により廃止する。
JIS C 5261:1993 廃止 移動先 規格概要
この規格 C5261は、電子器機に用いる可変抵抗器の試験方法について規定。ただし,この規格と個別規格との間に相違がある場合は,個別規格の規定による。
- 規格 番号
- JIS C5261
- 規格 名称
- 電子機器用可変抵抗器の試験方法
- 規格 名称 英語訳
- Test methods of potentiometers for use in electronic equipment
- 制定 年月日
- 1973-11-01
- 廃止 年月日
- 2000-08-20
- 引用 JIS 規格
- JISB0251,JISB0252,JISB7502,JISB7503,JISB7507,JISC0010,JISC0020,JISC0021,JISC0022,JISC0023,JISC0024,JISC0025,JISC0026,JISC0027,JISC0028,JISC0029,JISC0040,JISC0041,JISC0042,JISC0050,JISC0051,JISC0052,JISC1102,JISC1302,JISC1303,JISC1601,JISC1602,JISC5036,JISC5037,JISC5260,JISC5441,JISC5602,JISC6484,JISC8306,JISK8839,JISZ3282
- 対応国際 規格 ISO
- IEC 60393-1:1989(MOD)
- 国際規格 分類 ICS
- 31.040.20
- 改訂 履歴
- 1973-11-01 制定日, 1977-01-01 確認日, 1980-01-01 確認日, 1985-02-01 確認日, 1987-11-01 改正日, 1993-03-01 改正 2000-08-20 廃止日
- 公示の種類
- 廃止
- 廃止の理由
- 規格の分割・統合により廃止する。
- 移行先(移動先)
- JISハンドブック
- 電子 III-1 2020, 電子 III-2 2020
JIS C 5261:1993の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB0251:2008
- メートルねじ用限界ゲージ
- JISB0252:1996
- メートル細目ねじ用限界ゲージ
- JISB7502:2016
- マイクロメータ
- JISB7503:2017
- ダイヤルゲージ
- JISB7507:2016
- ノギス
- JISC0010:1993
- 環境試験方法 ― 電気・電子 ― 通則
- JISC0020:1995
- 環境試験方法 ― 電気・電子 ― 低温(耐寒性)試験方法
- JISC0021:1995
- 環境試験方法 ― 電気・電子 ― 高温(耐熱性)試験方法
- JISC0022:1987
- 環境試験方法(電気・電子)高温高湿(定常)試験方法
- JISC0023:1989
- 環境試験方法(電気・電子)塩水噴霧試験方法
- JISC0024:2000
- 環境試験方法 ― 電気・電子 ― 塩水噴霧(サイクル)試験方法(塩化ナトリウム水溶液)
- JISC0025:1988
- 環境試験方法(電気・電子)温度変化試験方法
- JISC0026:2001
- 環境試験方法 ― 電気・電子 ― 封止(気密性)試験方法
- JISC0027:1988
- 環境試験方法(電気・電子)温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法
- JISC0028:1988
- 環境試験方法(電気・電子)温湿度組合せ(サイクル)試験方法
- JISC0029:1989
- 環境試験方法(電気・電子)減圧試験方法
- JISC0040:1999
- 環境試験方法 ― 電気・電子 ― 正弦波振動試験方法
- JISC0041:1995
- 環境試験方法 ― 電気・電子 ― 衝撃試験方法
- JISC0042:1995
- 環境試験方法 ― 電気・電子 ― バンプ試験方法
- JISC0050:1996
- 環境試験方法 ― 電気・電子 ― はんだ付け試験方法
- JISC0051:2002
- 環境試験方法 ― 電気・電子 ― 端子強度試験方法
- JISC0052:1995
- 環境試験方法 ― 電気・電子 ― 耐溶剤性(洗浄溶剤浸せき)試験方法
- JISC1102:1981
- 指示電気計器
- JISC1302:2018
- 絶縁抵抗計
- JISC1303:1972
- 高絶縁抵抗計
- JISC1601:1983
- 指示熱電温度計
- JISC1602:2015
- 熱電対
- JISC5036:1975
- 電子部品の長時間電気的動作試験方法
- JISC5037:1975
- 電子部品の機械的繰返し動作試験方法
- JISC5260:1996
- 電子機器用可変抵抗器通則
- JISC5441:1994
- 電子機器用スイッチの試験方法
- JISC5602:1986
- 電子機器用受動部品用語
- JISC6484:2005
- プリント配線板用銅張積層板―耐燃性ガラス布基材エポキシ樹脂
- JISC8306:1996
- 配線器具の試験方法
- JISK8839:2007
- 2-プロパノール(試薬)
- JISZ3282:2017
- はんだ―化学成分及び形状
JIS C 5261:1993の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60393-1:1989(MOD)
JIS C 5261:1993の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.040 : 抵抗器 > 31.040.20 : 電位差計,可変抵抗器