JIS B 7440-2:2013 製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）―座標測定機（ＣＭＭ）の受入検査及び定期検査―第２部：長さ測定

                                                                B 7440-2 : 2013 (ISO 10360-2 : 2009)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[2]
•  2 引用規格・・・・[2]
•  3 用語及び定義・・・・[3]
•  4 記号・・・・[5]
•  5 環境条件及び計測特性に対する要求・・・・[5]
•  5.1 環境条件・・・・[5]
•  5.2 操作条件・・・・[5]
•  5.3 長さ測定誤差,EL・・・・[5]
•  5.4 長さ測定誤差の繰返し範囲,R0・・・・[5]
•  5.5 測定物の質量による影響・・・・[6]
•  6 受入検査及び定期検査・・・・[6]
•  6.1 一般・・・・[6]
•  6.2 評価原理・・・・[6]
•  6.3 ラム軸スタイラスオフセットが0 mmにおける長さ測定誤差,E0・・・・[7]
•  6.4 長さ測定誤差の繰返し範囲,R0・・・・[10]
•  6.5 ラム軸スタイラスオフセットが150 mmにおける長さ測定誤差,E150・・・・[10]
•  6.6 デュアルラム座標測定機・・・・[14]
•  7 仕様との適合・・・・[15]
•  7.1 受入検査・・・・[15]
•  7.2 定期検査・・・・[15]
•  8 適用事例・・・・[16]
•  8.1 受入検査・・・・[16]
•  8.2 定期検査・・・・[16]
•  8.3 中間点検・・・・[16]
•  9 製品文書及びデータシートでの表記・・・・[16]
•  附属書A(参考)中間点検・・・・[17]
•  附属書B(規定)校正された検査用の長さを実現するアーティファクト・・・・[19]
•  附属書C(参考)標準器の方向調整・・・・[24]
•  附属書D(規定)低熱膨張係数をもつアーティファクトの補正計算・・・・[26]
•  附属書E(参考)GPSマトリックス・・・・[28]
•  参考文献・・・・[29]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS B 7440-2 pdf 1] ―――――

B 7440-2 : 2013 (ISO 10360-2 : 2009)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般財団法人日本
規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正すべきとの申出があり,日本工業標準
調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
  これによって,JIS B 7440-2:2003は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS B 7440の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS B 7440-1 第1部 : 用語
    JIS B 7440-2 第2部 : 長さ測定
    JIS B 7440-3 第3部 : ロータリテーブル付き座標測定機
    JIS B 7440-4 第4部 : スキャニング測定
    JIS B 7440-5 第5部 : シングル及びマルチスタイラス測定
    JIS B 7440-6 第6部 : ソフトウェア検査
    JIS B 7440-7 第7部 : 画像プローブシステム付き座標測定機(予定)
    JIS B 7440-8 第8部 : 光学式距離センサ(予定)
    JIS B 7440-9 第9部 : 複数のプローブによる測定(予定)

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS B 7440-2 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           B 7440-2 : 2013
                                                                         (ISO 10360-2 : 2009)

製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査−第2部 : 長さ測定

Geometrical product specifications (GPS)-Acceptance andreverification tests for coordinate measuring machines (CMM)-Part 2: CMMs used for measuring linear dimensions

序文

  この規格は,2009年に第3版として発行されたISO 10360-2を基に,技術的内容及び構成を変更するこ
となく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。
  この規格は,製品の幾何特性仕様(GPS)規格の一つであり,GPS基本規格(ISO/TR 14638参照)とし
て取り扱う。この規格は,サイズ,距離,半径,角度,形状,姿勢,位置,振れ及びデータムに関する規
格チェーンのリンク番号5に関係する。
  この規格と他の規格及びGPSマトリックスとの間の詳細な関係は,附属書Eを参照。
  この規格の検査は,次に示す三つの技術的目的をもつ。
− ラム軸スタイラスオフセットがないプロービングシステムによる,校正された検査用の長さ1) の指示
    誤差の検査
− 指定されたラム軸スタイラスオフセットをもつプロービングシステムによる,校正された検査用の長
    さの指示誤差の検査
− 校正された検査用の長さの繰返し検査
      注1) 校正された検査用の長さを実現する方法については,附属書Bを参照。
  これらの検査の効果は,それによって得られる測定結果が長さの単位であるメートルに対して直接トレ
ーサビリティが確保できること,及び長さに関する同様の測定を行った場合に,座標測定機の挙動につい
ての情報を得ることである。
  プローブシステムの検査は,JIS B 7440-5に規定されているので,この規格に規定する検査の実施に先
立ち,プロービングシステムが仕様のとおりに動作していることを検証するために,JIS B 7440-5に規定
するシングルスタイラスシステム,又はマルチスタイラスシステムのプロービング検査の適用可能な検査
項目を実施することが望ましい。
  箇条3に規定する用語の定義は,JIS B 7440-1に規定する定義を変更した。
  これらの変更された定義は,この規格によって導入された曖昧性を避けるために必要となる。記号を変
更及び拡張したために,3.6の定義も,JIS B 7440-1の定義から変更している。

――――― [JIS B 7440-2 pdf 3] ―――――

2
B 7440-2 : 2013 (ISO 10360-2 : 2009)

1 適用範囲

  この規格は,長さ測定における座標測定機の性能の受入検査及び定期検査について規定する。
  この規格で規定する受入検査及び定期検査は,離散点プロービングで使用する全ての形式の接触プロー
ビングシステムを用いた直交形座標測定機だけに適用する。
  この規格は,次の条件の場合には適用しない。
− 非直交形座標測定機(ただし,受渡当事者間の合意によってこの規格を非直交形座標測定機に適用し
    てもよい。)
− 光学式プローブを用いる座標測定機(ただし,受渡当事者間の合意によってこの規格を光学式座標測
    定機に適用してもよい。)
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          ISO 10360-2:2009,Geometrical product specifications (GPS)−Acceptance and reverification tests for
              coordinate measuring machines (CMM)−Part 2: CMMs used for measuring linear dimensions
              (IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS B 0641-1 製品の幾何特性仕様(GPS)−製品及び測定装置の測定による検査−第1部 : 仕様に対
        する合否判定基準
      注記 対応国際規格 : ISO 14253-1:1998,Geometrical Product Specifications (GPS)−Inspection by
             measurement of workpieces and measuring equipment−Part 1: Decision rules for proving
             conformance or non-conformance with specifications(IDT)
    JIS B 0672-1 製品の幾何特性仕様(GPS)−形体−第1部 : 一般用語及び定義
      注記 対応国際規格 : ISO 14660-1:1999,Geometrical Product Specifications (GPS)−Geometrical
             features−Part 1: General terms and definitions(IDT)
    JIS B 7440-1 製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査−第1部 : 
        用語
      注記 対応国際規格 : ISO 10360-1:2000,Geometrical Product Specifications (GPS)−Acceptance and
             reverification tests for coordinate measuring machines (CMM)−Part 1: Vocabulary(IDT)
    JIS B 7440-5 製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査−第5部 : 
        シングル及びマルチスタイラス測定
      注記 対応国際規格 : ISO 10360-5:2010,Geometrical product specifications (GPS)−Acceptance and
             reverification tests for coordinate measuring machines (CMM)−Part 5: CMMs using single and
             multiple stylus contacting probing systems(IDT)
    ISO/TS 23165:2006,Geometrical product specifications (GPS)−Guidelines for the evaluation of coordinate
        measuring machine (CMM)   est uncertainty
    ISO/IEC Guide 99,International vocabulary of metrology−Basic and general concepts and associated terms

――――― [JIS B 7440-2 pdf 4] ―――――

                                                                                              3
                                                                B 7440-2 : 2013 (ISO 10360-2 : 2009)
        (VIM)
      注記 上記ガイドは,TS Z 0032として公表されている。

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS B 7440-1,JIS B 0641-1,JIS B 0672-1,ISO/TS 23165及び
ISO/IEC Guide 99によるほか,次による。
3.1
ラム軸スタイラスオフセット,L(ram axis stylus tip offset)
  スタイラスチップと参照点のラム軸とに直交する方向における距離。
    注記1 参照点は,製造業者が定義する。製造業者が定義した参照点が分からない場合は,使用者は
            参照点をプローブシステムの取付け位置に近い位置に選ぶ。
    注記2 参照点は,通常,プローブシステムの中又は近くに設定する。
                1  参照点
                注a)   は0 mmではない,実用的に最も短いラム軸スタイラスオフセットの例
             図1−回転式プロービングシステムにおけるラム軸スタイラスオフセットの例
3.2
熱膨張係数,CTE,α(coefficient of thermal expansion)
  20 ℃における材料の線膨張係数。
3.3
ノーマルCTEをもつ材料(normal CTE material)
  CTEが8×10−6/℃13×10−6/℃の間にある材料。

――――― [JIS B 7440-2 pdf 5] ―――――

次のページ PDF 6