JIS H 1287:2015 ニッケル及びニッケル合金―蛍光Ｘ線分析方法

                                                                                   H 1287 : 2015

pdf 目 次

ページ

•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  4 一般事項・・・・[2]
•  5 要旨・・・・[2]
•  6 装置・・・・[2]
•  6.1 蛍光X線分析装置・・・・[2]
•  6.2 装置の調整・・・・[2]
•  6.3 装置性能の確認・・・・[2]
•  7 測定条件・・・・[2]
•  8 検量線用試料及び分析試料・・・・[4]
•  8.1 検量線用試料・・・・[4]
•  8.2 分析試料・・・・[4]
•  9 試料の調製・・・・[4]
•  10 蛍光X線強度の測定・・・・[5]
•  11 検量線・・・・[5]
•  11.1 検量線の作成・・・・[5]
•  11.2 補正係数の決定・・・・[5]
•  11.3 基準検量線の作成・・・・[6]
•  11.4 検量線の校正方法・・・・[6]
•  12 計算・・・・[7]

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――――― [JIS H 1287 pdf 1] ―――――

H 1287 : 2015

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人日本伸銅協会(JCBA)及び一
般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,
日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                              H 1287 : 2015

ニッケル及びニッケル合金−蛍光X線分析方法

Nickel and nickel alloys- Methods for X-ray fluorescence spectrometric analysis

1 適用範囲

  この規格は,ニッケル,ニッケル合金及び超合金中の表1に規定する16成分の含有率を,蛍光X 線分
析方法によって定量する方法について規定する。この方法は,各成分について表1に規定する範囲の定量
に適用する。
                                 表1−適用分析成分及び定量範囲
                                                      単位 質量分率(%)
                             適用分析成分              定量範囲
                        けい素                    0.01以上   4.0以下
                        マンガン                  0.01以上  12.5以下
                        りん                     0.002以上 0.065以下
                        ニッケル                  25.0以上  99.9以下
                        クロム                    0.02以上  32.4以下
                        鉄                        0.03以上  55.0以下
                        モリブデン                0.01以上  30.0以下
                        コバルト                  0.01以上  25.0以下
                        銅                        0.01以上  40.0以下
                        タングステン              0.01以上  10.0以下
                        アルミニウム             0.002以上   6.0以下
                        チタン                    0.01以上   4.5以下
                        ニオブ                    0.01以上   6.0以下
                        タンタル                  0.01以上   3.5以下
                        バナジウム                0.01以上  0.60以下
                        ジルコニウム             0.002以上  0.15以下

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS G 0203 鉄鋼用語(製品及び品質)
    JIS H 1270 ニッケル及びニッケル合金−分析用試料採取方法及び分析方法通則
    JIS K 0119 蛍光X線分析通則
    JIS K 0211 分析化学用語(基礎部門)
    JIS K 0212 分析化学用語(光学部門)

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2
H 1287 : 2015
    JIS K 0215 分析化学用語(分析機器部門)
    JIS R 6001 研削といし用研磨材の粒度
    JIS R 6010 研磨布紙用研磨材の粒度

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS G 0203,JIS K 0119,JIS K 0211,JIS K 0212及びJIS K 0215
によるほか,次による。
3.1
冶金的履歴
  分析試料の化学組成が同一であっても,金属組織及び析出物・介在物の形態によって,蛍光X線強度測
定値に影響を及ぼすような,溶湯試料の凝固速度,熱処理・圧延・鍛造などにおける加熱温度などの履歴。

4 一般事項

  分析方法に共通な一般事項は,JIS H 1270及びJIS K 0119による。

5 要旨

  試料を切断又は切削した後,分析面を研削又は研磨して平面に仕上げ,蛍光X線分析装置の試料室に挿
入し,分析面に励起X線を照射して,試料中から発生する蛍光X線の強度を測定する。

6 装置

6.1 蛍光X線分析装置

  蛍光X線分析装置は,JIS K 0119の箇条5(装置)による。

6.2 装置の調整

  装置の調整は,JIS K 0119の箇条7(測定操作)及び箇条15(装置の点検)による。

6.3 装置性能の確認

  装置性能の確認は,JIS K 0119の箇条14 c)(定期的な装置性能の確認)による。

7 測定条件

  分析試料の種類,装置の型式,定量成分及びその含有率範囲,共存成分の含有率範囲などに応じ,装置
性能基準を満足する測定条件を選定する。主な測定条件は,次のとおりとし,その例を表2に示す。
a) 分析に使用する分析線は,定量成分の蛍光X線強度,共存成分の妨害分析線,バックグラウンドなど
    を考慮して分析目的に適した分析線を選定する。一般に使用する分析線の例を表3に示す。
b)   線管のターゲットは,定量成分及び含有率に適したものを使用し,管電圧及び管電流は,測定する
    分析線の最低励起電圧,測定の数え落としなどを考慮して選定する。
c) スリット幅,分光結晶,検出器などの分光部は,分析線に対する分解能,定量含有率範囲に適した条
    件を選定する。分光結晶の例を表4に示す。
d) 複数の試料容器又はマスクを使用する場合には,それぞれの試料容器又はマスクを使用して得られる
    測定値の差が実用上許容される範囲内にあることを確認する。

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                                                                                   H 1287 : 2015
                                       表2−測定条件の例
    ターゲット ロジウム,タングステン,クロム,白金,銀,スカンジウム,金,モリブデン,パラジウム
    管電圧     3570 kV
    管電流     4090 mA
    スリット幅 集中法  第1スリット : 0.251.5 mm,第2スリット : 0.582.29 mm
               平行法  第1スリット : 0.150.45 mm/30100 mm,第2スリット : 0.150.45 mm/30100 mm
    検出器     ガス封入形比例計数管,ガスフロー形比例計数管又はシンチレーション計数管
    波高分析器 必要に応じて設置する
    計数方式   パルス計数方式
    積分時間   2060秒
    マスク径   2530 mm
                                        表3−分析線の例
                           適用分析成分               分析線
                                                 波長           次数
                                                  nm
                         けい素              0.713(Si Kα)     1
                         マンガン            0.210(Mn Kα)     1
                         りん                0.616(P Kα)      1
                         ニッケル            0.166(Ni Kα)     1
                         クロム              0.229(Cr Kα)     1
                         鉄                  0.194(Fe Kα)     1
                         モリブデン          0.071(Mo Kα)     1
                         コバルト            0.179(Co Kα)     1
                         銅                  0.154(Cu Kα)     1
                         タングステン        0.148(W Lα1)     1
                                             0.128(W Lβ1)     1
                         アルミニウム        0.834(Al Kα)     1
                         チタン              0.275(Ti Kα)     1
                         ニオブ              0.075(Nb Kα)     1
                         タンタル            0.152(Ta Lα1)    1
                                             0.133(Ta Lβ1)    1
                         バナジウム          0.250(V Kα)      1
                         ジルコニウム        0.079(Zr Kα)     1

――――― [JIS H 1287 pdf 5] ―――――

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