JIS P 8254:2013 パルプ及び紙―赤外線反射率測定による有効残留インキ濃度（ＥＲＩＣ値）の試験方法

                                                                                   P 8254 : 2013

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  4 原理・・・・[3]
•  5 装置・・・・[3]
•  6 試料の採取及び調製・・・・[3]
•  6.1 試料の採取・・・・[3]
•  6.2 試験片の調製・・・・[3]
•  6.3 坪量測定・・・・[4]
•  7 校正・・・・[4]
•  8 操作・・・・[4]
•  9 計算・・・・[5]
•  10 精度・・・・[5]
•  11 報告書・・・・[6]
•  附属書A(参考)ERIC測定の背景・・・・[7]
•  附属書JA(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[9]

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P 8254 : 2013

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,紙パルプ技術協会(JAPAN TAPPI)及び一般
財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,
日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                              P 8254 : 2013

パルプ及び紙−赤外線反射率測定による有効残留インキ濃度(ERIC値)の試験方法

Pulp and paper-Determination of the effective residual ink concentration (ERIC number) y infrared reflectance measurement

序文

  この規格は,2008年に第1版として発行されたISO 22754を基に,技術的内容及び構成を変更すること
なく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線及び側線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。
変更の一覧表にその説明を付けて,附属書JAに示す。

1 適用範囲

  この規格は,赤外線反射率測定による有効残留インキ濃度(ERIC値)の試験方法について規定する。
  この規格は,残留インキが黒い全ての種類の脱インキした古紙パルプ及び同古紙パルプを使用した機械
すき紙に適用する。この試験方法は,シート状の材料で,950 nmの波長での不透明度が97 %未満のもの
にだけ適用する[1]。ERIC値は,インキの粒径分布に依存しており,この試験方法は,サブミクロンの大き
さの粒子に最も適している。測定値は,試験材料がインキ分布,地合及び坪量が均一である場合にだけ信
頼性が高く,反射率計でシートの異なる部分を測定しても非常に近い値を示す。
    注記1 ERIC値測定の技術的背景を,附属書Aに示す。
    注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
            ISO 22754:2008,Pulp and paper−Determination of the effective residual ink concentration (ERIC
                number)   y infrared reflectance measurement(MOD)
              なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
            ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS P 0001 紙・板紙及びパルプ用語
    JIS P 8110 紙及び板紙−平均品質を測定するためのサンプリング方法
      注記 対応国際規格 : ISO 186,Paper and board−Sampling to determine average quality(IDT)
    JIS P 8124 紙及び板紙−坪量の測定方法
      注記 対応国際規格 : ISO 536,Paper and board−Determination of grammage(MOD)
    JIS P 8152 紙,板紙及びパルプ−拡散反射率係数の測定方法

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P 8254 : 2013
      注記 対応国際規格 : ISO 2469,Paper, board and pulps−Measurement of diffuse radiance factor(MOD)
    JIS P 8222 パルプ−試験用手すき紙の調製方法
    ISO 14487,Pulps−Standard water for physical testing

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS P 0001によるほか,次による。
3.1
拡散反射率係数,R(diffuse reflectance factor)
  拡散照明と0°受光の同一条件下において,完全拡散反射体によって反射した放射に対し,物体によっ
て反射した放射の比率。
    注記1 この比率は,通常百分率で表す。
    注記2 この規格では,この規格の規定に従って校正した装置を用い,拡散照射及び0°受光で測定
            することを規定している。この規格で用いる反射率係数は全て拡散反射率係数をいう。
3.2
固有反射率係数,R∞(intrinsic reflectance factor)
  シート数を2倍にしても測定する反射率係数に変化がないほど不透明になる十分な厚さの1枚の又は複
数枚重ねた材料の反射率係数。
    注記 不透明性が十分でないシートの反射率は,背景に影響され,材料固有の数値ではない。
3.3
単一シート反射率係数,R0(single-sheet reflectance factor)
  光トラップを裏当てした単一シートの反射率係数。
3.4
950 nmの波長での反射率係数測定による光散乱係数,s950(light scattering coefficient at 950 nm by reflectance
factor measurements)
  JIS P 8152で規定した幾何学的特性をもち,かつ,校正を行った装置を使用し,950 nmの波長で得た反
射率係数にクベルカ−ムンクの式を適用して算出した係数。坪量が考慮されている。
    注記1 単位は,平方メートル/キログラム(m2/kg)で表す。
    注記2 関係する式は,箇条9による。
    注記3 クベルカ−ムンクの式は,光学的に等方な散乱性物質を対象として,その光散乱吸収現象を
            定量的に扱った式である。紙及びパルプの光学特性の測定に実用的によく利用される。
3.5
950 nmの波長での反射率係数測定による光吸収係数,k950(light absorption coefficient at 950 nm by reflectance
factor measurements)
  JIS P 8152で規定した幾何学的特性をもち,かつ,校正を行った装置を使用し,950 nmの波長で得た反
射率係数にクベルカ−ムンクの式を適用して算出した係数。坪量が考慮されている。
    注記1 単位は,平方メートル/キログラム(m2/kg)で表す。
    注記2 関係する式は,箇条9による。
3.6
有効残留インキ濃度,ERIC値(effective residual ink concentration,ERIC number)
  インキ自体の光吸収係数とインキを含むパルプ又は紙の光吸収係数との比率。両方とも950 nmの波長

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で測定する。
    注記 ERIC値は,無次元値である。

4 原理

  試験材料の固有反射率係数及び単一シート反射率係数を950 nmの波長で測定する。これらの測定値か
ら,クベルカ−ムンクの式によって,試験材料の光吸収係数を計算する。ERIC値をインキの光吸収係数
に対するこの試験材料の光吸収係数の比率として算出できる。

5 装置

5.1   反射率計 JIS P 8152の附属書A(反射率係数測定装置)に記載の幾何学的特性,分光的特性及び測
光的特性をもち,950 nmの波長における反射率測定を可能にするフィルタ又は他のデバイスを搭載し,JIS
P 8152の附属書B(校正要領)の規定に従って校正したもの。
  測定では,反射率計の有効波長は,950.0 nm±5.0 nmとする。分光的特性は,ピークの高さ50 %におけ
るバンドパス幅は,150 nmを超えないように,ピークの高さ10 %におけるバンドパス幅は,250 nmを超
えないようにする。
5.2   参照標準面 装置及び常用標準面を校正するために,JIS P 8152の規定に応じて,ISO/TC6認定試
験所が発行したもの。950 nmの波長における所定の反射率をもつ。
  参照標準面は,反射率計が参照装置と一致するように新しいものを使用する。
    注記 参照標準面を発行するISO/TC6認定試験所は,次の5機関である。
          a) フランスのCentre Technique du Papier
          b) フィンランドのFinnish Pulp & Paper Research Institute
          c) カナダのFPInnovations  Paprican Division
          d) スウェーデンのInnventia AB Optical Calibration Laboratory
          e) アメリカのTechnidyne Corporation
5.3   常用標準面 オパールグラス製,セラミック製又は他の適切な材料の2枚の平板を,JIS P 8152で規
定した方法で清浄,校正したもの。
  常用標準面は,校正状態が保たれるよう,十分な頻度で校正する。
    注記 標準面を内蔵し,常用標準面の機能が組み込まれている装置もある。
5.4   光トラップ(black cavity) 950 nmの波長での反射率係数が1 %未満のもの。光トラップは,無じん
(塵)環境下に開口部を下向きにするか,又は保護用の蓋をして保管するのがよい。
    注記1 光トラップの状態が正常かどうかは,装置製造業者に確認させることができる。
    注記2 光トラップは,製造業者によっては黒色筒,ライトトラップ,黒体,ゼロボックス,ブラッ
            クボックス,ゼロ校正ボックス,吸光筒,ゼロ合わせ用黒箱などともいう。

6 試料の採取及び調製

6.1 試料の採取

  試料採取の操作は,この規格では規定しない。ロットを評価するための試験を行う場合は,JIS P 8110
によって,試料を選択するのがよい。それ以外の場合は,試料を代表するように試験材料を採取する。

6.2 試験片の調製

6.2.1  一般的事項

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