JIS X 6305-2:2010 識別カードの試験方法―第２部：磁気ストライプ付きカード

                                                            X 6305-2 : 2010 (ISO/IEC 10373-2 : 2006)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  4 指定がない場合の試験環境及び条件・・・・[5]
•  4.1 試験環境・・・・[5]
•  4.2 事前調整・・・・[5]
•  4.3 試験方法の選択・・・・[5]
•  4.4 指定がない場合に適用される公差・・・・[5]
•  4.5 総合的な測定不確定性・・・・[5]
•  5 試験方法・・・・[5]
•  5.1 磁気ストライプ領域の反り・・・・[5]
•  5.2 磁気ストライプの盛上がり高さ及び断面形状・・・・[6]
•  5.3 磁気ストライプの表面粗さ・・・・[10]
•  5.4 磁気ストライプの耐摩耗性・・・・[10]
•  5.5 振幅測定・・・・[12]
•  5.6 ビットセルの変動・・・・[19]
•  5.7 磁気ストライプとカードとの接着性・・・・[20]
•  5.8 静的磁気特性・・・・[21]
•  5.9 波形Ui6・・・・[23]
•  5.10 高保磁力,高密度記録の重ね書き・・・・[23]
•  附属書A(参考)試験ヘッドの摩耗現象及び耐摩耗性試験ヘッドの使用・・・・[24]

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――――― [JIS X 6305-2 pdf 1] ―――――

X 6305-2 : 2010 (ISO/IEC 10373-2 : 2006)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,社団法人ビジネス
機械・情報システム産業協会 (JBMIA) 及び財団法人日本規格協会 (JSA) から,工業標準原案を具して日
本工業規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日
本工業規格である。
  これによって,JIS X 6305-2:2003は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許
権,出願公開後の特許出願,実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について,責
任はもたない。
  JIS X 6305の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS X 6305-1 第1部 : 一般的特性
    JIS X 6305-2 第2部 : 磁気ストライプ付きカード
    JIS X 6305-3 第3部 : 外部端子付きICカード及び接続装置
    JIS X 6305-5 第5部 : 光メモリカード
    JIS X 6305-6 第6部 : 外部端子なしICカード−近接型
    JIS X 6305-7 第7部 : 外部端子なしICカード−近傍型

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――――― [JIS X 6305-2 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           X 6305-2 : 2010
                                                                     (ISO/IEC 10373-2 : 2006)

識別カードの試験方法−第2部 : 磁気ストライプ付きカード

Identification cards−Test methods−Part 2: Cards with magnetic stripes

序文

  この規格は,2006年に第2版として発行されたISO/IEC 10373-2を基に,技術的内容及び対応国際規格
の構成を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

  この規格を含むJIS X 6305(規格群)は,JIS X 6301に基づく識別カード(以下,IDカード又は単にカ
ードという。)の特性評価試験方法について規定する。各試験方法は,一つ以上の基本規格と相互に参照さ
れる。基本規格とは,例えば,JIS X 6301又はIDカードを使ったアプリケーションで利用する情報記憶技
術に関する追加の規格などである。
  この規格では,磁気ストライプ技術に特有な試験方法を規定する。
  この規格の基本規格の一つであるJIS X 6302-2では,国際規格では規定されていないおもて面磁気スト
ライプを附属書1として規定している。この規格では,JIS X 6302-2の附属書1に規定する磁気ストライ
プの試験方法は含まない。
    注記1 適合基準はこの規格の中にはなく,基本規格の中に規定する。
    注記2 この規格で規定する試験方法は,項目別に実施される。1枚の供試カードを用いて,すべて
            の項目を順番に試験する必要はない。
    注記3 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
            ISO/IEC 10373-2:2006,Identification cards−Test methods−Part 2: Cards with magnetic stripes
                (IDT)
              なお,対応の程度を表す記号 (IDT) は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,一致していること
            を示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS B 0031 製品の幾何特性仕様 (GPS)−表面性状の図示方法
      注記 対応国際規格 : ISO 1302,Geometrical Product Specifications (GPS)−Indication of surface texture
             in technical product documentation (IDT)

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2
X 6305-2 : 2010 (ISO/IEC 10373-2 : 2006)
    JIS B 0633 製品の幾何特性仕様 (GPS)−表面性状 : 輪郭曲線方式−表面性状評価の方式及び手順
      注記 対応国際規格 : ISO 4288,Geometrical Product Specifications (GPS)−Surface texture: Profile
             method−Rules and procedures for the assessment of surface texture (IDT)
    JIS B 0651 製品の幾何特性仕様 (GPS)−表面性状 : 輪郭曲線方式−触針式表面粗さ測定機の特性
      注記 対応国際規格 : ISO 3274,Geometrical Product Specifications (GPS)−Surface texture: Profile
             method−Nominal characteristics of contact (stylus)   nstruments (IDT)
    JIS K 5600-5-6:1999 塗料一般試験方法−第5部 : 塗膜の機械的性質−第6節 : 付着性(クロスカッ
        ト法)
      注記 対応国際規格 : ISO 2409:1992,Paints and varnishes−Cross-cut test (IDT)
    JIS X 6301:2005 識別カード−物理的特性
    JIS X 6302-2 識別カード−記録技術−第2部 : 磁気ストライプ−低保磁力
      注記 対応国際規格 : ISO/IEC 7811-2,Identification cards−Recording technique−Part 2: Magnetic
             stripe−Low coercivity (MOD)
    JIS X 6302-6 識別カード−記録技術−第6部 : 磁気ストライプ−高保磁力
      注記 対応国際規格 : ISO/IEC 7811-6,Identification cards−Recording technique−Part 6: Magnetic
             stripe−High coercivity (IDT)
    ISO/IEC 7811-7,Identification cards−Recording technique−Part 7: Magnetic stripe−High coercivity, high
        density

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。
    注記1 カードの裏面及びおもて面は,JIS X 6302-2の図2及びJIS X 6302-6の図2に規定する磁気
            ストライプがある面をカードの裏面,エンボス面又はICカード端子がある面をカードのおも
            て面とする。
    注記2 次に定義する磁気特性は,裏面の磁気ストライプに適用する。
3.1
試験方法 (test method)
  規格に適合していることを確認するために,カードの特性を試験する方法。
3.2
機能残存 (testably functional)
  破壊を招く危険性がある幾つかの試験に対して,試験後に残存すべき機能を次に示す。
a) 磁気ストライプでは,試験の前後に計測される信号振幅の関係が基本規格に従っている。
b)   Cでは,初期応答が基本規格に従っている。
      注記 この規定では,ICカードの完全な試験方法を網羅していない。この試験方法は,最低限の機
            能確認をするにすぎない。仕様に応じて機能項目を加えて適用してもよい。
c) 外部端子では,電気抵抗及びインピーダンスが基本規格に従っている。
d) 光メモリでは,光学特性が基本規格に従っている。
3.3
反り (warpage)
  カード平面性におけるゆが(歪)み。

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                                                            X 6305-2 : 2010 (ISO/IEC 10373-2 : 2006)
3.4
磁束反転密度,磁束反転/mm (flux transitions per millimetre)
  磁気ストライプ上のトラックに記録された長さ1 mm当たりの磁束反転の数。
3.5
記録 (recording)
  この規格の試験方法及び試験パラメタに従った,磁束反転をもつトラックの形成。
3.6
符号化 (encoding)
  データを表現するためにF/2F符号形式に従って,間隔を変えた磁束反転をもつトラックの形成。
3.7
表面粗さ (surface roughness)
  様々な決定因子及び計算方法を参照して,国際規格で認定された表面領域の表面トポロジー(形態)。
3.8
(磁気ストライプの)振幅測定 [amplitude measurements (of a magnetic stripe)   ]
  この規格の試験方法及び試験パラメタに従った読取り信号振幅,分解能及び消去効果の測定。
3.9
ビットセルの変動 (flux transition spacing variation)
  符号化されたトラックの中心線に沿って,トラック上に隣接する磁化反転間隔の公称値との偏差。
3.10
磁気ストライプとカードとの接着性 (magnetic stripe adhesion)
  磁気ストライプとカードとの接着の程度。
3.11
通常の使用 (normal use)
  カード技術及び個人情報の記憶媒体に適したカードリーダライタ側の処理を含むIDカード[JIS X 6301
の4.(定義)参照]としての使用。
3.12
静的飽和磁化M(H)曲線 [static saturation M(H)   oop]
  磁化曲線が影響を受けない程度の低い掃引速度で,磁界強度を−Hmaxから+Hmaxまでの間を周期的に変
化させて得られるヒステリシス曲線[IEC 60050 (221) 参照]。
    注記 この用語は括弧をそのままの形で残して使うもので,“静的飽和磁化MH曲線”,“静的飽和磁
          化M曲線”としては使われない。
3.13
保磁力,H'cM,H'cJ (coercivity)
  飽和磁化状態から,飽和磁化状態とは反対方向に連続的に磁界を印加したとき,磁化量が“0”になる磁
界強度[IEC 60050 (221) 参照]。測定は,磁気ストライプの長辺方向に行う。
3.14
残留保磁力,Hr (remanent coercivity)
  飽和磁化状態から,飽和磁化状態とは反対方向に連続的に磁界を印加し,その後この磁界を“0”まで戻
したときに,残留磁化量が“0”になる磁界強度。測定は,磁気ストライプの長辺方向に行う。

――――― [JIS X 6305-2 pdf 5] ―――――

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