JIS Z 2324-3:2020 非破壊試験―加工穴内径面自動検査装置―第３部：カメラ式検査装置の性能試験方法

                                                                                  Z 2324-3 : 2020

pdf 目 次

ページ

•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[1]
•  4 検査装置の性能試験項目・・・・[2]
•  5 試験環境・・・・[3]
•  6 検査装置及び標準試験片・・・・[3]
•  6.1 検査装置・・・・[3]
•  6.2 標準試験片・・・・[3]
•  7 試験準備・・・・[3]
•  8 共通の試験手順・・・・[6]
•  9 繰返し精度試験・・・・[7]
•  9.1 試験方法・・・・[7]
•  9.2 試験結果の表し方・・・・[7]
•  9.3 試験結果の記載例・・・・[8]
•  10 芯ずれ試験・・・・[8]
•  10.1 試験方法・・・・[8]
•  10.2 試験結果の表し方・・・・[8]
•  10.3 試験結果の記載例・・・・[8]
•  11 検査時間試験・・・・[9]
•  11.1 試験方法・・・・[9]
•  11.2 試験結果の表し方・・・・[10]
•  11.3 試験結果の記載例・・・・[10]
•  12 外乱光試験・・・・[11]
•  12.1 一般・・・・[11]
•  12.2 試験方法・・・・[11]
•  12.3 試験結果の表し方・・・・[12]
•  12.4 試験結果の記載例・・・・[12]
•  13 報告・・・・[12]
•  附属書A(参考)検査装置のきず検出の原理・・・・[13]
•  附属書B(規定)検査装置の仕様・・・・[14]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS Z 2324-3 pdf 1] ―――――

           Z 2324-3 : 2020

まえがき

  この規格は,産業標準化法に基づき,日本産業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本
産業規格である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS Z 2324の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS Z 2324-1 第1部 : 標準試験片
    JIS Z 2324-2 第2部 : レーザ式検査装置の性能試験方法
    JIS Z 2324-3 第3部 : カメラ式検査装置の性能試験方法
    JIS Z 2324-4 第4部 : 渦電流式検査装置の性能試験方法

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                                      日本産業規格                            JIS
                                                                           Z 2324-3 : 2020

非破壊試験−加工穴内径面自動検査装置−第3部 : カメラ式検査装置の性能試験方法

Non-destructive testing-Automatic inspection system for inner diametersurface of machining holes-Part 3: Method of testingfor performance characteristics of camera inspection system

1 適用範囲

  この規格は,主に自動車及び産業機械部品に用いる加工穴内径面(以下,検査面という。)のきずをカメ
ラによって自動検査する装置(以下,検査装置という。)の性能を,JIS Z 2324-1に規定する標準試験片(以
下,標準試験片という。)を用いて試験する方法について規定する。
  なお,検査装置のきず検出の原理を,附属書Aに示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 1609-1 照度計 第1部 : 一般計量器
    JIS C 5610 集積回路用語
    JIS Z 2300 非破壊試験用語
    JIS Z 2324-1 非破壊試験−加工穴内径面自動検査装置−第1部 : 標準試験片
    JIS Z 8401 数値の丸め方
    JIS Z 9110 照明基準総則

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次によるほか,JIS C 5610,JIS Z 2300及びJIS Z 2324-1による。
3.1
プローブ
  検査面に光を照射し,かつ,反射光を受光する検査装置の部位。
3.2
カメラユニット
  カメラ及びプローブから構成される撮像機器。
3.3
芯ずれ
  プローブの軸心と標準試験片の内径の軸心とが一致していない状態。

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           2
Z 2324-3 : 2020
3.4
芯ずれ量
  芯ずれにおける,ずれている距離。
3.5
芯出し
  芯ずれの状態の軸心同士を一致させる操作。
3.6
生データ
  プローブから,アナログ·デジタル変換直後に出力されたデータ。ローデータともいう。
3.7
検査条件
  待機位置,走査開始位置,走査終了位置,プローブ送り速度など生データを取得するための条件(以下,
測定条件という。)と生データからきずを判定するための条件(以下,判定条件という。)とを組み合わせ
た条件。
3.8
展開画像
  内径面の全周を平面に展開した画像。
3.9
明度波形
  標準試験片の展開画像において,任意の円周上で一周分の明度を示したグラフ。通常,波形となる。
3.10
画素寸法
  展開画像における1画素当たりの縦横それぞれ一辺の実寸法(ミリメートル又はマイクロメートル)。横
列の場合は横方向長さ,縦列の場合は縦方向長さをいう。
3.11
繰返し精度
  選択した標準試験片の同一の人工きずを,短時間のうちに繰り返して測定した結果間の一致の度合い。
測定は,同じ試験実施者が,同じ試験室の同じ検査装置を用いて,同じ測定方法によって行う。
3.12
外乱光
  検査装置外部から入射する,検査結果に影響を及ぼす光。

4 検査装置の性能試験項目

  検査装置の性能試験項目は,次による。
a) 繰返し精度試験
b) 芯ずれ試験
c) 検査時間試験
d) 外乱光試験

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                                                                                  Z 2324-3 : 2020

5 試験環境

  検査装置の試験環境は,次による。
a) 室内の温度は,20 ℃±5 ℃で,室内の湿度は,相対湿度35 %85 %とすることが望ましい。
b) 試験室内の照度は,JIS Z 9110の5.4(工場)に規定する一般の製造工場などでの普通の視作業に適用
    する照度とする。ただし,照度は,受渡当事者間の協定によってもよい。
c) 検査装置には,直射日光が当たってはならない。

6 検査装置及び標準試験片

6.1 検査装置

  検査装置は,カメラユニット,カメラユニット送り機構,コントロールユニット,パーソナルコンピュ
ータ(以下,PCという。)などで構成する。検査装置の回転機構には,プローブが回転するものと試験片
が回転するものとがある。検査装置の構成例を図1に示す。また,検査装置の仕様は,附属書Bによる。
                                  カメラ
              カメラユニット                           コントロールユニット
                 送り機構             プローブ
                                           ミラー
                              標準試験片
                                                           PC
                                     図1−検査装置の構成例

6.2 標準試験片

  標準試験片は,次による。
a) 検査装置の性能試験に用いる標準試験片は,用途などによってJIS Z 2324-1の表1(種類及びその記
    号)の中から選択する。
b) 検査装置の性能試験に用いる人工巣及び人工きずは,JIS Z 2324-1の図1(A型標準試験片の形状及び
    寸法)及び/又は図2(F型標準試験片の形状及び寸法)による。

7 試験準備

  試験の準備は,次による。
  なお,芯出しについては,標準試験片の位置を調整して行うが,カメラユニットの位置を同様に調整し
て行ってもよい。

――――― [JIS Z 2324-3 pdf 5] ―――――

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