JIS Z 2330:2012 非破壊試験―漏れ試験方法の種類及びその選択

JIS Z 2330:2012 規格概要

この規格 Z2330は、一般的に使用されている漏れ試験方法の種類及びそれらを採用する場合の選択方法の指針を規定する。

JISZ2330 規格全文情報

規格番号
JIS Z2330 
規格名称
非破壊試験―漏れ試験方法の種類及びその選択
規格名称英語訳
Non-destructive testing -- Selection of leak testing method
制定年月日
1992年5月1日
最新改正日
2016年10月20日
JIS 閲覧
‐ 
対応国際規格

ISO

国際規格分類

ICS

19.100
主務大臣
経済産業
JISハンドブック
非破壊検査 2020
改訂:履歴
1992-05-01 制定日, 1998-03-20 確認日, 2004-03-20 確認日, 2008-10-01 確認日, 2012-01-20 改正日, 2016-10-20 確認
ページ
JIS Z 2330:2012 PDF [16]
                                                                                   Z 2330 : 2012

pdf 目 次

ページ

  •  1 適用範囲・・・・[1]
  •  2 引用規格・・・・[1]
  •  3 用語及び定義・・・・[1]
  •  4 漏れ試験方法の種類・・・・[1]
  •  4.1 液体を用いた漏れ試験・・・・[1]
  •  4.2 空気などの気体を使用する漏れ試験・・・・[2]
  •  4.3 サーチガスを用いた漏れ試験・・・・[2]
  •  5 漏れ試験方法の選択・・・・[4]
  •  5.1 安全,環境・・・・[4]
  •  5.2 液体,空気などの気体及びサーチガス・・・・[4]
  •  5.3 最小可検リーク量・・・・[4]
  •  5.4 漏れ量及び漏れ位置の特定・・・・[5]
  •  5.5 試験条件・・・・[5]
  •  5.6 具体的な選択方法・・・・[6]
  •  6 漏れ試験の実施上の注意事項・・・・[14]
  •  6.1 試験体の前処理・・・・[14]
  •  6.2 検出時間・・・・[14]
  •  6.3 試験方法の組合せ・・・・[14]
  •  6.4 補助排気装置の使用・・・・[14]
  •  6.5 サーチガス適用上の取扱い・・・・[14]

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Z 2330 : 2012

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,社団法人日本非破
壊検査協会(JSNDI)及び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正
すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
これによって,JIS Z 2330:1992は改正され,この規格に置き換えられた。
この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

(pdf 一覧ページ番号 2)

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
Z 2330 : 2012

非破壊試験−漏れ試験方法の種類及びその選択

Non-destructive testing-Selection of leak testing method

1 適用範囲

  この規格は,一般的に使用されている漏れ試験方法の種類及びそれらを採用する場合の選択方法の指針
を規定する。ただし,具体的選択方法を強制するものではない。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS Z 2300 非破壊試験用語
JIS Z 2329 発泡漏れ試験方法
JIS Z 2331 ヘリウム漏れ試験方法
JIS Z 2332 放置法による漏れ試験方法
JIS Z 2333 アンモニア漏れ試験方法
JIS Z 2343-1 非破壊試験−浸透探傷試験−第1部 : 一般通則 : 浸透探傷試験方法及び浸透指示模様の
分類

3 用語及び定義

  この規格で用いられる主な用語及び定義は,JIS Z 2300による。

4 漏れ試験方法の種類

  漏れ試験方法は,液体を用いる方法,空気などの気体を用いる方法,及び特定なサーチガスを用いる方
法に大きく分けられる。さらに,漏れ物質,漏れを検出する原理・手段(発色,発泡,圧力計,質量分析
計,半導体センサなど)によって,具体的な試験方法の種類に分類される。一方,漏れを生じさせる加圧,
減圧の方法,検出ガスを採取する方法などによって,多くの適用方法がある。

4.1 液体を用いた漏れ試験

  液体を用いて漏れを検出する方法には,次の方法がある。ただし,水圧試験で漏れた液体をそのまま目
視などで観察する方法は,この規格の漏れ試験方法から除外する。
4.1.1 蛍光染料を添加した漏れ試験
試験体内に蛍光染料を添加した液体を入れ,漏れを暗所にて紫外線照射しながら検出する方法。
4.1.2 現像剤を使用した漏れ試験
液体の入った試験体の表面に現像剤を塗布し,漏れ部から毛管現象で液体を吸い出すことによって,識
別性のよい拡大した指示模様を形成して,漏れを検出する方法。現像剤は,JIS Z 2343-1に規定するもの,

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Z 2330 : 2012
及び液と接触することで発色するか又は蛍光色になるものがある。いずれの場合も,対象とする液体に適
した現像剤を用いる必要がある。
4.1.3 浸透液を使用した漏れ試験
JIS Z 2343-1に規定された浸透液及び現像剤を用いて漏れを検出する方法。試験体の片側の面に浸透液
を塗布し,反対側の面に塗布した現像剤で漏れ部から浸透液を吸い出し,白地に赤色又は暗所で蛍光の浸
透指示模様を形成させることによって,漏れを検出する方法。

4.2 空気などの気体を使用する漏れ試験

  試験体の漏れを発泡現象,試験体内の圧力変化,漏れ部から発する超音波などを利用して検出する方法
で,次の方法がある。
4.2.1 液没試験
内部を気体で加圧した試験体を水などの液体の中に浸せきし,試験体内部から出てくる泡で漏れを検出
する方法。一般的には液体に水を用いる場合が多く,その場合を水没試験という。水が試験体に対し悪影
響を及ぼす場合は,フロンなどの有機溶剤を使用する場合もある。
4.2.2 発泡漏れ試験
試験体表面に界面活性剤などを含む溶液(発泡液)を塗布し,気体の漏れを発泡現象で検出する方法。
加圧法では試験体内部を空気などで加圧し,外側に発泡液を塗布し,内部から出てくる気体を泡として検
出する。真空法では試験体内部はそのままで,外部を真空箱などを用いて減圧し,その部分に発泡液を塗
布して外部に引き出される気体を泡として観察する。試験方法は,JIS Z 2329による。
4.2.3 圧力変化による漏れ試験
試験体内部を加圧又は減圧し,漏れによる圧力変化を測定することによって漏れを検出する方法。圧力
変化を直接圧力計で測定する方法と,基準とする容器と試験体との間の差圧変化を差圧計で測定すること
によって,微少な漏れを短時間に検出する方法とがある。試験方法は,JIS Z 2332による。
4.2.4 流量測定による漏れ試験
試験体の内部を加圧容器と繋ぎ,漏れによる損失量を補うために流入する気体の量を流量計で測定する
ことによって漏れを測定する方法。
4.2.5 超音波漏れ試験
漏れ箇所を気体が漏れ出るときに発生する超音波,又は試験体内部に置いた超音波発信器から漏れてく
る超音波を超音波検知器によって検出する方法。超音波は漏れを電気信号にして,dB表示又はスピーカ音
として表示する。

4.3 サーチガスを用いた漏れ試験

  特定のガスをサーチガスとして用い,そのガスの漏れを高感度で検出できる分析装置(リークディテク
タ)又は薬剤を用いて漏れを検出する方法。試験の種類,サーチガス,検出器・検査剤及び適用方法は,
次による。
4.3.1 主な試験の種類
a) ヘリウム漏れ試験 ヘリウムガスをサーチガスとし,ヘリウムディテクタを用いて漏れを検出する方
法。試験方法は,JIS Z 2331による。
b) 水素漏れ試験 水素ガスをサーチガスとし,水素ディテクタを用いて漏れを検出する方法。
c) ハロゲン漏れ試験 ハロゲンガスをサーチガスとし,ハロゲンディテクタを用いて漏れを検出する方
法。
d) アンモニア漏れ試験 アンモニアガスをサーチガスとして用い,アンモニアガスに触れるとその箇所

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が化学反応で黄色から青色に変化する検査剤を試験体表面に塗布することによって,漏れを青色指示
模様として検出する方法。試験方法は,JIS Z 2333による。
4.3.2 サーチガス
漏れ試験に使用されるサーチガスには,ヘリウムガス,水素ガス,ハロゲンガス,アンモニアガスなど
がある。サーチガスの概要は,次のとおりである。
a) ヘリウムガス 大気中のヘリウムガス濃度は,体積分率5×10−6,不活性なガスであり,また,分子
径も小さいため,微少な漏れの検出に優れている。
b) 水素ガス 大気中の水素ガス濃度は体積分率約5×10−7。爆発の危険性があるため,漏れ試験では安
全性の点から窒素ガスなどに混合して非可燃性の濃度で使用する。
c) ハロゲンガス 塩素,ふっ素などのハロゲン元素を含むガスで,大気に放出するとオゾン層破壊の原
因になるものが多い。毒性及び地球の温暖化に影響を与えることを含め,取扱いには十分注意する必
要がある。主には,冷媒などの目的でハロゲンガスが封入された試験体の封入ガスの漏れ試験として
利用される。
d) アンモニアガス 高濃度では爆発の危険性があるため,漏れ試験では一般的に体積分率1×10−11×
10−2のアンモニア濃度で窒素混合ガスとして使用する。非常に強い刺激臭をもち,毒性も高いため,
取扱いには十分注意をする。
4.3.3 検出器及び検査剤
質量分析計,半導体センサなど漏れ試験に使用する検出器は,サーチガスに適したものを選定し,適正
に校正されたものを使用する。また,検査剤はサーチガスに対して,検出感度が十分に確認されたものを
使用する。
4.3.4 適用方法
サーチガスを用いた漏れ試験は,ガスの種類による試験方法とは別に,目的によって多くの適用方法が
あり,どの適用方法を採用するかが重要な要素となってくる。サーチガスを用いた漏れ試験に使用される
主な適用方法は,次のとおりである。
a) 真空法(試験体へのガス流入法) 試験体内部を真空にし,外側をサーチガスで覆い,流入するガス
を検出する方法であり,主なものは,次のとおりである。
1) 真空外覆法(真空フード法) 試験体内を真空に排気し,試験体の一部又は全体をサーチガスで覆
い,試験体内へ流入するサーチガスを検出する方法。
2) 真空吹付け法(スプレー法) 試験体内を真空に排気し,サーチガスを試験体の外側にスプレープ
ローブで吹き付け,試験体内へ流入するサーチガスを検出する方法。
b) 加圧法(試験体からのガス流出法) 試験体内にサーチガスを封入し,外部に流出するサーチガスを
検出する方法。主なものは,次のとおりである。
1) 吸込み法(スニッファ法) 試験体内にサーチガスを入れ,試験体の外側に流出するサーチガスを
スニッファプローブで吸い込み,漏れを検出する方法。
2) 吸盤法(サクションカップ法) 試験体内にサーチガスを入れ,試験体の外側に流出するサーチガ
スを,押し当てたサクションカップで吸い込み,漏れを検出する方法。
3) 真空容器法(ベルジャー法/チャンバ法) 試験体を真空容器内に置き,試験体の内部にサーチガ
スを入れ,試験体から真空容器へ流出したサーチガスを検出する方法。
4) 加圧積分法 試験体内にサーチガスを入れ,試験体の一部又は全部をフードで覆い,試験体の外側
に流出するサーチガスを一定時間フードの中にため込み,スニッファプローブを用いて検出する方

――――― [JIS Z 2330 pdf 5] ―――――

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JIS Z 2330:2012の国際規格 ICS 分類一覧

JIS Z 2330:2012の関連規格と引用規格一覧