JIS B 7517:2018 ハイトゲージ

JIS B 7517:2018 規格概要

この規格 B7517は、バーニヤ目盛又はダイヤル目盛を備えたアナログ表示のハイトゲージ,及びデジタル表示のハイトゲージについて規定。

JISB7517 規格全文情報

規格番号
JIS B7517 
規格名称
ハイトゲージ
規格名称英語訳
Vernier, dial and digital height gauges
制定年月日
1960年3月1日
最新改正日
2018年1月22日
JIS 閲覧
‐ 
対応国際規格

ISO

ISO 13225:2012(MOD)
国際規格分類

ICS

17.040.30
主務大臣
経済産業
JISハンドブック
機械計測 2021
改訂:履歴
1960-03-01 制定日, 1963-03-01 確認日, 1966-03-01 確認日, 1969-01-01 確認日, 1972-02-01 確認日, 1975-02-01 確認日, 1975-05-01 改正日, 1978-05-01 確認日, 1982-12-01 改正日, 1988-02-01 確認日, 1993-03-01 改正日, 1998-06-20 確認日, 2003-03-20 確認日, 2008-03-20 確認日, 2012-10-22 確認日, 2018-01-22 改正
ページ
JIS B 7517:2018 PDF [27]
                                                                                   B 7517 : 2018

pdf 目 次

ページ

  •  序文・・・・[1]
  •  1 適用範囲・・・・[1]
  •  2 引用規格・・・・[1]
  •  3 用語及び定義・・・・[2]
  •  4 設計仕様(設計特性)・・・・[2]
  •  4.1 一般・・・・[2]
  •  4.2 主要部の名称・・・・[3]
  •  4.3 寸法・・・・[4]
  •  4.4 表示方式・・・・[5]
  •  4.5 測定子及びスクライバ・・・・[10]
  •  4.6 ベース・・・・[10]
  •  4.7 構造及び機能・・・・[10]
  •  4.8 硬さ・・・・[11]
  •  5 計測特性及び性能・・・・[11]
  •  5.1 一般・・・・[11]
  •  5.2 検査条件・・・・[11]
  •  5.3 スライダの固定・・・・[11]
  •  5.4 指示値の最大許容誤差(MPE)・・・・[11]
  •  5.5 性能・・・・[16]
  •  6 製品文書における表示・・・・[17]
  •  7 仕様への適合の検証・・・・[18]
  •  7.1 一般・・・・[18]
  •  7.2 計測特性及び性能の校正のための標準器・・・・[18]
  •  7.3 標準温度・・・・[18]
  •  8 検査・・・・[18]
  •  9 表示・・・・[18]
  •  附属書A(参考)使用上の注意・・・・[19]
  •  附属書B(参考)設計仕様(設計特性),計測特性及び性能の仕様表示例・・・・[20]
  •  附属書JA(参考)製品文書における表示・・・・[21]
  •  附属書JB(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[22]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS B 7517 pdf 1] ―――――

B 7517 : 2018

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,日本精密測定機器
工業会(JMA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正
すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
これによって,JIS B 7517:1993は改正され,この規格に置き換えられた。
この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS B 7517 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
B 7517 : 2018

ハイトゲージ

Vernier, dial and digital height gauges

序文

  この規格は,2012年に第1版として発行されたISO 13225を基とし,製造及び使用の実状に見合う合理
性を備えた規格とするため,技術的内容を変更して作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。
変更の一覧表にその説明を付けて,附属書JBに示す。

1 適用範囲

  この規格は,バーニヤ目盛又はダイヤル目盛を備えたアナログ表示のハイトゲージ,及びデジタル表示
のハイトゲージについて規定する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
ISO 13225:2012,Geometrical product specifications (GPS)−Dimensional measuring equipment;
Height gauges−Design and metrological characteristics(MOD)
なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS B 0641-1 製品の幾何特性仕様(GPS)−製品及び測定装置の測定による検査−第1部 : 仕様に対
する合否判定基準
注記 対応国際規格 : ISO 14253-1,Geometrical Product Specifications (GPS)−Inspection by
measurement of workpieces and measuring equipment−Part 1: Decision rules for proving
conformance or non-conformance with specifications
JIS B 0642 製品の幾何特性仕様(GPS)−測定器の一般的な概念及び要求事項
注記 対応国際規格 : ISO 14978,Geometrical product specifications (GPS)−General concepts and
requirements for GPS measuring equipment
JIS B 0680 製品の幾何特性仕様(GPS)−製品の幾何特性仕様及び検証に用いる標準温度
注記 対応国際規格 : ISO 1,Geometrical Product Specifications (GPS)−Standard reference temperature
for geometrical product specification and verification
JIS B 7503 ダイヤルゲージ
JIS B 7506 ブロックゲージ

――――― [JIS B 7517 pdf 3] ―――――

2
B 7517 : 2018
JIS B 7513 精密定盤
JIS B 7526 直角定規
JIS B 7533 てこ式ダイヤルゲージ
JIS B 7536 電気マイクロメータ
JIS C 0920 電気機械器具の外郭による保護等級(IPコード)
注記 対応国際規格 : IEC 60529,Degrees of protection provided by enclosures (IP Code)
JIS Z 8103 計測用語

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS B 0641-1,JIS B 0642及びJIS Z 8103によるほか,次による。
3.1
ハイトゲージ(height gauge)
ベース基準面に対して垂直な本尺又は柱に沿って動く,スクライバ又は測定子を備えたスライダの移動
量で距離(高さ)の寸法量を与える測定器。
注記1 ハイトゲージは,ベースの基準面が定盤に接して置かれることを想定した設計である。
注記2 指示値の表示は,アナログ(バーニヤ目盛又はダイヤル目盛)表示又はデジタル表示がある。
注記3 ハイトゲージは,スクライバを含め様々な測定子を使用することが可能である。
注記4 ハイトゲージは,設計仕様によってスライダの自動移動機能を備えているものがある。
注記5 ハイトゲージは,設計仕様によって測定力を調整する機能を備えているものがある。
注記6 ハイトゲージは,設計仕様によって倣い測定機能及び本尺に垂直な測定機能をもつものがあ
る。
3.2
測定面接触(measuring-face contact)
測定面と測定対象物との接触。
3.2.1
全測定面接触(full measuring-face contact)
測定面の全面と測定対象物との接触。
3.2.2
部分測定面接触(partial measuring-face contact)
測定面の一部と測定対象物との接触。
3.3
指示誤差(error of indication)
ハイトゲージの指示値から対応する入力量としての真の値を差し引いた値。
注記 真の値は,概念的な値で,実際には求められないため取決めによる真の値を用いる。

4 設計仕様(設計特性)

4.1 一般

  ハイトゲージの一般的な設計仕様(設計特性)は,製造業者又は供給業者が別に指定する場合を除き,
この規格の要求に従わなければならない。
使用者に情報を提供する場合の仕様表示例を,参考として附属書Bに示す。

――――― [JIS B 7517 pdf 4] ―――――

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B 7517 : 2018

4.2 主要部の名称

  ハイトゲージの一般的な構造に関する設計仕様の例として,次に示すバーニヤ目盛を備えたもの及びデ
ジタル目盛を備えたものの二つがある。
主要部の名称は,図1及び図2による。
なお,図は単に主要部の名称を示すものであって,設計の詳細を示すものではない。
17
3
16
4
11 13
14
5
3
15
6 13 本尺移動装置付きのもの
12
7
9
10 8
1
2
1 ベース 7 ジョウ 13 止めねじ
2 ベース基準面 8 スクライバクランプ 14 微動送り
3 本尺 9 スクライバ 15 微動送りねじ
4 基準端面 10 スクライバ測定面 16 柱
5 微動送り車 11 本尺目盛 17 本尺移動装置
6 スライダ 12 バーニヤ目盛
図1−バーニヤ目盛を備えたハイトゲージの例及び主要部の名称

――――― [JIS B 7517 pdf 5] ―――――

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JIS B 7517:2018の引用国際規格 ISO 一覧

  • ISO 13225:2012(MOD)

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