JIS C 5160-1:2018 電気及び電子機器用固定電気二重層コンデンサ―第１部：品目別通則

                                                                C 5160-1 : 2018 (IEC 62391-1 : 2015)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[3]
•  4 一般事項・・・・[7]
•  4.1 単位及び記号・・・・[7]
•  4.2 推奨値・・・・[7]
•  4.3 表示・・・・[7]
•  4.4 品質認証手順・・・・[7]
•  5 試験及び測定・・・・[7]
•  5.1 一般事項・・・・[7]
•  5.2 試験及び測定の要求事項・・・・[7]
•  5.3 乾燥・・・・[8]
•  5.4 外観検査及び寸法検査・・・・[8]
•  5.5 静電容量及び内部抵抗測定法1(定電流放電法)・・・・[8]
•  5.6 静電容量及び内部抵抗測定法2・・・・[13]
•  5.7 漏れ電流・・・・[14]
•  5.8 電圧保持・・・・[15]
•  5.9 端子強度・・・・[16]
•  5.10 はんだ耐熱性・・・・[17]
•  5.11 はんだ付け性・・・・[17]
•  5.12 温度急変・・・・[18]
•  5.13 振動・・・・[18]
•  5.14 高温高湿(定常)・・・・[19]
•  5.15 耐久性・・・・[19]
•  5.16 貯蔵・・・・[20]
•  5.17 高温及び低温特性・・・・[20]
•  5.18 部品の耐溶剤性・・・・[21]
•  5.19 表示の耐溶剤性・・・・[21]
•  5.20 耐炎性・・・・[21]
•  5.21 圧力弁(適用する場合)・・・・[22]
•  附属書A(規定)静電容量と内部抵抗とによる区分・・・・[23]
•  附属書B(参考)低周波交流法による低抵抗コンデンサの静電容量測定方法・・・・[25]
•  附属書C(参考)コンデンサの熱平衡時間・・・・[26]
•  附属書D(参考)充電効率及び放電効率並びに測定電流について・・・・[28]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS C 5160-1 pdf 1] ―――――

C 5160-1 : 2018 (IEC 62391-1 : 2015)

pdf 目次

ページ

•  附属書E(参考)公称内部抵抗が不明確な場合のコンデンサ測定電流の設定手順・・・・[29]
•  附属書F(参考)測定不確実性及びインセット限界値に関する方針・・・・[30]
•  附属書G(参考)JIS C 5160-1:2009(初版)との対比表・・・・[33]
•  附属書Q(規定)IEC電子部品品質認証制度(IECQ)に用いる場合の品質評価手順・・・・[34]

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS C 5160-1 pdf 2] ―――――

                                                                C 5160-1 : 2018 (IEC 62391-1 : 2015)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電子
情報技術産業協会(JEITA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業
規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業
規格である。これによって,JIS C 5160-1:2009は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 5160の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 5160-1 第1部 : 品目別通則
    JIS C 5160-2 第2部 : 品種別通則−パワー用電気二重層コンデンサ
    JIS C 5160-2-1 第2-1部 : ブランク個別規格−パワー用電気二重層コンデンサ−評価水準EZ

(pdf 一覧ページ番号 3)

――――― [JIS C 5160-1 pdf 3] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           C 5160-1 : 2018
                                                                          (IEC 62391-1 : 2015)

電気及び電子機器用固定電気二重層コンデンサ−第1部 : 品目別通則

Fixed electric double-layer capacitors for use in electric and electronic equipment-Part 1: Generic specification

序文

  この規格は,2015年に第2版として発行されたIEC 62391-1を基に,技術的内容及び構成を変更するこ
となく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。
  この規格の初版との対比表に説明を付けて附属書Gに示す。

1 適用範囲

  この規格は,電気及び電子機器用の主に直流に用いる固定電気二重層コンデンサ(以下,コンデンサと
いう。)の品質認証他の目的のために,品種別通則及び個別規格に用いる標準用語,検査手順及び試験法に
ついて規定する。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 62391-1:2015,Fixed electric double-layer capacitors for use in electric and electronic equipment
              −Part 1: Generic specification(IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 0617(規格群) 電気用図記号
      注記 対応国際規格 : IEC 60617 (all parts),Graphical symbols for diagrams(MOD)
    JIS C 5005-2 品質評価システム−第2部 : 電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式の選択
        及び活用(統計的工程品質限界の評価手順)
      注記 対応国際規格 : IEC 61193-2,Quality assessment systems−Part 2: Selection and use of sampling
             plans for inspection of electronic components and packages(IDT)
    JIS C 5062 抵抗器及びコンデンサの表示記号
      注記 対応国際規格 : IEC 60062,Marking codes for resistors and capacitors(MOD)
    JIS C 60063 抵抗器及びコンデンサの標準数列

――――― [JIS C 5160-1 pdf 4] ―――――

2
C 5160-1 : 2018 (IEC 62391-1 : 2015)
      注記 対応国際規格 : IEC 60063,Preferred number series for resistors and capacitors(IDT)
    JIS C 60068-1:2016 環境試験方法−電気・電子−第1部 : 通則及び指針
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-1:2013,Environmental testing−Part 1: General and guidance(IDT)
    JIS C 60068-2-1:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-1部 : 低温(耐寒性)試験方法(試験記号 : 
        A)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-1:2007,Environmental testing−Part 2-1: Tests−Test A: Cold(IDT)
    JIS C 60068-2-2:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-2部 : 高温(耐熱性)試験方法(試験記号 : 
        B)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-2:2007,Environmental testing−Part 2-2: Tests−Test B: Dry heat
             (IDT)
    JIS C 60068-2-6:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-6部 : 正弦波振動試験方法(試験記号 : Fc)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-6:2007,Environmental testing−Part 2-6: Tests−Test Fc: Vibration
             (sinusoidal)(IDT)
    JIS C 60068-2-14:2011 環境試験方法−電気・電子−第2-14部 : 温度変化試験方法(試験記号 : N)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-14:2009,Environmental testing−Part 2-14: Tests−Test N: Change of
             temperature(IDT)
    JIS C 60068-2-20:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-20部 : 試験−試験T−端子付部品のはんだ
        付け性及びはんだ耐熱性試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-20:2008,Environmental testing−Part 2-20: Tests−Test T: Test
             methods for solderability and resistance to soldering heat of devices with leads(IDT)
    JIS C 60068-2-21:2009 環境試験方法−電気・電子−第2-21部 : 試験−試験U : 端子強度試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-21:2006,Environmental testing−Part 2-21: Tests−Test U: Robustness
             of terminations and integral mounting devices(IDT)
    JIS C 60068-2-45:1995 環境試験方法−電気・電子−耐溶剤性(洗浄溶剤浸せき)試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-45:1980,Basic environmental testing procedures−Part 2-45: Tests−
             Test XA and guidance: Immersion in cleaning solvents及びAmendment 1:1993(IDT)
    JIS C 60068-2-58:2016 環境試験方法−電気・電子−第2-58部 : 表面実装部品(SMD)のはんだ付け
        性,電極の耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-58:2015,Environmental testing−Part 2-58: Tests−Test Td: Test
             methods for solderability, resistance to dissolution of metallization and to soldering heat of surface
             mounting devices (SMD)(MOD)
    JIS C 60068-2-78:2015 環境試験方法−電気・電子−第2-78部 : 高温高湿(定常)試験方法(試験記
        号 : Cab)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-78:2012,Environmental testing−Part 2-78: Tests−Test Cab: Damp
             heat, steady state(IDT)
    JIS C 60695-11-5 耐火性試験−電気・電子−第11-5部 : 試験炎−ニードルフレーム(注射針バーナ)
        試験方法−装置,試験炎確認試験装置の配置及び指針
      注記 対応国際規格 : IEC 60695-11-5,Fire hazard testing−Part 11-5: Test flames−Needle-flame test
             method−Apparatus, confirmatory test arrangement and guidance(IDT)
    JIS Z 8000-1 量及び単位−第1部 : 一般

――――― [JIS C 5160-1 pdf 5] ―――――

次のページ PDF 6