JIS C 5750-3-5:2006 ディペンダビリティ管理―第３－５部：適用の指針―信頼性試験条件及び統計的方法に基づく試験原則

                                                               C5750-3-5:2006(IEC 60300-3-5 : 2001)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準
原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大
臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  制定に当たっては,日本工業規格(日本産業規格)と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格(日本産業規格)の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 60300-3-5:2001,Dependability
management―Part 3-5: Application guide―Reliability test conditions and statistical test principlesを基礎として用
いた。
  この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。
  JIS C 5750-3-5には,次に示す附属書がある。
    附属書A(参考)データの精査
    附属書B(参考)一般的な想定事例
    附属書C(参考)発行済みのIEC 60605規格群と新しい統計的方法との関係
  JIS C 5750の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 5750-1 第1部 : ディペンダビリティプログラム管理
    JIS C 5750-2 第2部 : ディペンダビリティプログラム要素及びタスク
    JIS C 5750-3-4 第3-4部 : 適用の指針−ディペンダビリティ要求事項仕様書作成の指針
    JIS C 5750-3-5 第3-5部 : 適用の指針−信頼性試験条件及び統計的方法に基づく試験原則
    JIS C 5750-3-6 第3-6部 : 適用の指針−ディペンダビリティにおけるソフトウェアの側面
    JIS C 5750-3-7 第3-7部 : 適用の指針−電子ハードウェアの信頼性ストレススクリーニング

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――――― [JIS C 5750-3-5 pdf 1] ―――――

C5750-3-5:2006(IEC 60300-3-5 : 2001)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1. 適用範囲・・・・[1]
•  2. 引用規格・・・・[2]
•  3. 定義・・・・[3]
•  4. 一般的考慮・・・・[7]
•  4.1 序言及び法的考慮・・・・[7]
•  4.2 信頼性試験の目的・・・・[8]
•  4.3 信頼性試験の分類・・・・[8]
•  4.4 統計的試験計画・・・・[10]
•  4.5 試験仕様・・・・[10]
•  4.6 試験結果の利用・・・・[11]
•  5. 一般的な試験目的による分類・・・・[12]
•  5.1 信頼性適合試験・・・・[12]
•  5.2 信頼性決定試験・・・・[17]
•  5.3 信頼性比較試験・・・・[18]
•  6. 試験条件・・・・[18]
•  6.1 試験条件選定の一般原則・・・・[18]
•  6.2 前処理及び事後保全・・・・[19]
•  6.3 動作及び環境試験条件の仕様・・・・[19]
•  6.4 保全条件の仕様・・・・[20]
•  7. データ収集及び故障の分類・・・・[21]
•  7.1 試験アイテムの性能の監視・・・・[21]
•  7.2 故障の種類・・・・[22]
•  7.3 故障解析・・・・[23]
•  7.4 該当試験時間・・・・[23]
•  8. 試験データ解析・・・・[24]
•  8.1 非修理アイテム・・・・[24]
•  8.2 修理アイテム・・・・[24]
•  8.3 故障データの構造(中途打切り)・・・・[24]
•  8.4 故障モデル・・・・[26]
•  9. 統計的方法及び解析手順・・・・[28]
•  9.1 方法の説明・・・・[28]
•  9.2 方法間の関係の説明・・・・[30]
•  9.3 解析手順・・・・[33]
•  9.4 最終的結論及び可能な処置・・・・[36]

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                                                               C5750-3-5:2006(IEC 60300-3-5 : 2001)

•  10. 報告・・・・[36]
•  10.1 試験日誌及びデータの記録・・・・[36]
•  10.2 試験条件及び観測の記録・・・・[36]
•  10.3 故障報告・・・・[37]
•  10.4 故障要約記録・・・・[38]
•  10.5 故障した取替えアイテム及び予備部品在庫(任意項目)・・・・[39]
•  10.6 最終報告・・・・[39]
•  附属書A(参考)データの精査・・・・[40]
•  附属書B(参考)一般的な想定事例・・・・[47]
•  附属書C(参考)発行済みのIEC 60605規格群と新しい統計的方法との関係・・・・[50]

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――――― [JIS C 5750-3-5 pdf 3] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                        C 5750-3-5 : 2006
                                                                        (IEC 60300-3-5 : 2001)

ディペンダビリティ管理−第3-5部 : 適用の指針−信頼性試験条件及び統計的方法に基づく試験原則

Dependability management-Part 3-5: Application guide-Reliability test conditions and statistical test principles

序文

 この規格は,2001年に第1版として発行されたIEC 60300-3-5,Dependability management−Part 3-5:
Application guide−Reliability test conditions and statistical test principlesを翻訳し,技術的内容及び規格票の様
式を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,原国際規格にない事項である。
  この規格は,修理又は非修理アイテムの信頼性試験データ解析に用いられる統計的方法及び試験条件に
関する一連の規格に対して適用の指針を与える。この規格は,試験条件及び統計解析について適用可能な
規格を適切に選択するための指針を与える。それは信頼性試験の計画立案,実施及び試験データ解析のた
めの一般的な指針でもある。この規格を使うことによって,特定の信頼性試験の計画立案,実施及び得ら
れたデータの解析のための適切,かつ,必要な他の規格を選択することができるようになる。この規格は,
したがって,一定又は一定でない故障率及び故障強度,並びに成功率・失敗率のような他の尺度を解析す
るための統計的方法を参照する。この規格は,利用可能な日本工業規格(日本産業規格)(以下,JISという。)・IEC・ISO
規格に規定する環境・動作条件及び統計的方法(それらは同時に選択されるのが望ましい)を参照する。

1. 適用範囲

 この規格は,信頼性試験の計画及び実施,並びに試験データの解析及び報告における統計
的方法について規定する。この規格は,次の場合に適用する。
− 契約において明示又は暗黙に信頼性試験が要求されているとき
− 信頼性試験を計画立案するとき
− 信頼性試験の期間中
− 信頼性試験データの解析及び報告をするとき
  この規格は,契約又は試験計画が特定の規格を規定せず,JIS・IEC・ISOの統計規格の使用を規定して
いる場合にも適用できる。
  新製品の開発,設計の適合性及び妥当性の確認を通して多くの異なる試験が実施される。これらの試験
の目的は,設計における弱点の発見及びそれらの弱点を取り除くことによる性能,品質,安全,頑健性,
信頼性及びアベイラビリティの改善,並びにコストの削減である。この規格は,試験データの解析に統計
的方法が適用可能な試験だけを対象としているが,試験条件,試験計画立案及び規格についての指針は,
ほとんどの試験に適用できる。
  次の事項は重要であり,この規格でも扱うが,より詳細については個別規格による。 : アベイラビリティ

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2
C5750-3-5:2006:(IEC 60300-3-5 : 2001)
試験(IEC 61070参照),保全性尺度の試験(IEC 60706参照)及び信頼性成長(IEC 61014及びIEC 61164
参照)。
  この規格は,ハードウェア及びソフトウェアを含むアイテムにも適用可能であるが,ソフトウェア自体
の試験(IEC 61704参照)には適用しない。この規格は,民生,産業,軍用及び航空宇宙の幅広い分野に
適用できる。この規格は,適合確認,決定,比較及び成功率・失敗率を評価するための解析に用いる。信
頼性試験データの統計的な取扱いを計画するための指針となる流れ図を9.(統計的方法及び解析手順)に
示す。
  この規格には規定していないが,考慮すべき点及び統計的方法は,環境試験,加速ステップストレス試
験及び過負荷試験にも適用できる。
    備考 この規格の対応国際規格を,次に示す。
            なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21に基づき,IDT(一致している),MOD
          (修正している),NEQ(同等でない)とする。
          IEC 60300-3-5:2001 Dependability managementPart 3-5: Application guideReliability test conditions
              and statistical test principles (IDT)

2. 引用規格

 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格のうちで,発効年又は発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格
の規定を構成するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。発効年又は発行年を付記してい
ない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 5750-2 ディペンダビリティ管理−第2部 : ディペンダビリティプログラム要素及びタスク
      備考 IEC 60300-2:1995,Dependability management−Part 2: Dependability programme elements and
             tasksからの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
    JIS C 5750-3-4 ディペンダビリティ管理−第3-4部 : 適用の指針−ディペンダビリティ要求事項仕様
        書作成の指針
      備考 IEC 60300-3-4:1996,Dependability management−Part 3: Application guide−Section 4: Guide to
             the specification of dependability requirementsからの引用事項は,この規格の該当事項と同等で
             ある。
    JIS C 5750-3-7 ディペンダビリティ管理−第3-7部 : 適用の指針−電子ハードウェアの信頼性ストレ
        ススクリーニング
      備考 IEC 60300-3-7:1999,Dependability management−Part 3-7: Application guide−Reliability stress
             screening of electronic hardwareがこの規格と一致している。
    JIS C 60068 (規格群)環境試験方法
      備考 IEC 60068 (all parts), Environemental testingがこの規格と一致している。
    JIS Z 8101-1:1999 統計−用語と記号−第1部: 確率及び一般統計用語
      備考 ISO 3534-1:1993,Statistics−Vocabulary and symbols−Part 1: Probability and general statistical
             termsからの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
    JIS Z 8115 ディペンダビリティ(信頼性)用語
      備考 IEC 60050(191):1990,International Electrotechnical Vocabulary. Chapter 191: Dependability and
             quality of serviceからの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
    JIS Z 9041-3:1999,データの統計的な解釈方法−第3部: 割合に関する検定方法と推定方法

――――― [JIS C 5750-3-5 pdf 5] ―――――

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