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JIS C 6187-2:2014 規格概要
この規格 C6187-2は、光ファイバ通信産業用として代表的な光源の真空波長又は光周波数を測定する機器について規定。校正機関又は光波長計の製造業者が行う校正方法について規定。
JISC6187-2 規格全文情報
- 規格番号
- JIS C6187-2
- 規格名称
- 光波長計―第2部 : 校正方法
- 規格名称英語訳
- Optical wavelength meters -- Part 2:Calibration
- 制定年月日
- 2014年3月20日
- 最新改正日
- 2018年10月22日
- JIS 閲覧
- ‐
- 対応国際規格
ISO
- IEC 62129-2:2011(IDT)
- 国際規格分類
ICS
- 33.180.30
- 主務大臣
- 経済産業
- JISハンドブック
- 電子 II-1 2020, 電子 II-2 2020, 電子 III-1 2020, 電子 III-2 2020
- 改訂:履歴
- 2014-03-20 制定日, 2018-10-22 確認
- ページ
- JIS C 6187-2:2014 PDF [41]
C 6187-2 : 2014 (IEC 62129-2 : 2011)
pdf 目 次
ページ
- 序文・・・・[1]
- 1 適用範囲・・・・[1]
- 2 引用規格・・・・[2]
- 3 用語及び定義・・・・[2]
- 4 校正の準備・・・・[5]
- 4.1 組織・・・・[5]
- 4.2 トレーサビリティ・・・・[5]
- 4.3 測定及び校正に関する注意事項・・・・[6]
- 4.4 使用者への推奨事項・・・・[6]
- 5 単一波長校正・・・・[6]
- 5.1 一般事項・・・・[6]
- 5.2 校正条件の設定・・・・[6]
- 5.3 校正手順・・・・[7]
- 5.4 校正不確かさ・・・・[14]
- 5.5 結果の報告・・・・[14]
- 6 絶対光パワー校正・・・・[15]
- 附属書A(規定)数学的基礎・・・・[16]
- 附属書B(参考)外れ値の棄却・・・・[18]
- 附属書C(参考)単一波長校正の例・・・・[20]
- 附属書D(参考)ITU-T波長帯・・・・[22]
- 附属書E(参考)原子及び分子基準遷移・・・・[23]
- 附属書F(参考)基準ロックレーザ例・・・・[33]
- 附属書G(参考)精度と校正時間とのバランスについて・・・・[35]
- 参考文献・・・・[37]
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――――― [JIS C 6187-2 pdf 1] ―――――
C 6187-2 : 2014 (IEC 62129-2 : 2011)
まえがき
この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般財団法人光産業技術振興協会(OITDA)
及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出
があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
JIS C 6187の規格群には,次に示す部編成がある。
JIS C 6187 光波長計試験方法
JIS C 6187-2 第2部 : 校正方法
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――――― [JIS C 6187-2 pdf 2] ―――――
日本工業規格(日本産業規格) JIS
C 6187-2 : 2014
(IEC 62129-2 : 2011)
光波長計−第2部 : 校正方法
Optical wavelength meters-Part 2: Calibration
序文
この規格は,2011年に第1版として発行されたIEC 62129-2を基に,技術的内容及び構成を変更するこ
となく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
光波長計は,多くがマイケルソン干渉計に基づいており,光源の波長を可能な限り正確に測定できるよ
うに設計されている。光波長計は,ヘリウムネオンレーザを代表とした絶対基準を内蔵しているものの,
最高精度を達成するには校正が必要である。光波長計は通常,内部の基準以外の波長を測定するのに用い
る。光波長計では,周囲の空気の屈折率に対して補正がなされる。したがって,校正に不可欠な要素とし
て,校正条件を正確に記載しなければならない。
この規格は,校正条件の設定,校正の実施,不確かさの算出,並びに不確かさ,校正条件,及びトレー
サビリティの報告という,校正手順に関わる全ての処置を規定する。
校正手順では,入力基準波長(又は,光周波数)の値と光波長計の結果との比を決定する方法を記載す
る。この比を補正係数(correction factor)という。補正係数の測定不確かさは,附属書Aに従い,参照標
準器,被試験器,測定系の構成及び測定手順からの不確かさ寄与を合成して求める。
不確かさは,それぞれの不確かさの詳細な特徴付けに基づいて算出する。次の事項を理解していること
が重要である。
a) 各不確かさの評価が妥当である。
b) 詳細な不確かさの分析は,同じ型式の光波長計で一度行っている場合,それ以降の全ての校正の都度,
詳細な不確かさの分析を行う必要はない。
c) 各不確かさのうちの幾つかは,無視できる大きさの実値とともに,単に検査リストの一部と考えても
よい。
幾つもの光周波数基準を用いて,トレーサブルな光周波数を規定することができる。これらは低圧下の
ガス分子による吸収,及び原子の励起状態のオプトガルバニック遷移に基づいている。附属書Eは,レー
ザ線,吸収特性及びオプトガルバニック遷移のリストを示す。
1 適用範囲
この規格は,光ファイバ通信産業用として代表的な光源の真空波長又は光周波数を測定する機器につい
て規定する。これらの光源には,分布帰還形レーザダイオード,外部共振器レーザ及び単一縦モードファ
イバ光源を含む。光波長計は,シングルモード光ファイバによって光源に接続するものとする。この規格
は,校正機関又は光波長計の製造業者が行う校正方法について規定する。この規格の対応国際規格は,波
長,光周波数測定装置の校正に関するIEC 62129規格群の一部である。
注記1 光スペクトラムアナライザの校正は,JIS C 6192を参照。
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2
C 6187-2 : 2014 (IEC 62129-2 : 2011)
注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
IEC 62129-2:2011,Calibration of wavelength/optical frequency measurement instruments−Part 2:
Michelson interferometer single wavelength meters(IDT)
なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”
ことを示す。
2 引用規格
次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS C 6186 光ファイバ用光パワーメータ校正方法
注記 対応国際規格 : IEC 61315:2005,Calibration of fibre-optic power meters(IDT)
JIS Q 17025 試験所及び校正機関の能力に関する一般要求事項
注記 対応国際規格 : ISO/IEC 17025:2005,General requirements for the competence of testing and
calibration laboratories(IDT)
ISO/IEC Guide 98-3:2008,Uncertainty of measurement−Part 3: Guide to the expression of uncertainty in
measurement (GUM: 1995)
ISO/IEC Guide 99:2007,International vocabulary of metrology−Basic and general concepts and associated
terms (VIM)
IEC 60050-300:2001,International Electrotechnical Vocabulary−Electrical and electronic measurements and
measuring instruments−Part 311: General terms relating to measurements−Part 312: General terms
relating to electrical measurements−Part 313: Types of electrical measuring instruments−Part 314:
Specific terms according to the type of instrument
IEC/TR 61931:1998,Fibre optic−Terminology
3 用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。
3.1
認定校正機関(accredited calibration laboratory)
適切な国の機関の認定の下,規定した最小不確かさの範囲で,国家標準へのトレーサビリティを保証す
る校正証明書を発行できる校正機関。
3.2
調整(adjustment)
ある測定量の値に対応するある指示値を表示するために,機器に対して行う一連の作業。
[IEC 60050-300:2001(311-03-16)及びISO/IEC Guide 99:2007の3.11を参照。一部修正]
3.3
校正(calibration)
測定器が指示した量の値と標準器が示す標準値との関係を,規定した条件の下で確定する一連の作業。
(ISO/IEC Guide 99:2007の2.39を参照。一部修正)
注記1 校正の結果によって,指示値に対する測定量の値の指定,又は指示値に関する補正の決定が
――――― [JIS C 6187-2 pdf 4] ―――――
3
C 6187-2 : 2014 (IEC 62129-2 : 2011)
可能になる。
注記2 校正によって,影響量の効果のようなその他の計量特性を決定できることもある。
注記3 校正証明書又は校正報告書と呼ぶ文書で校正の結果を記録することもある。
3.4
校正条件(calibration conditions)
校正を実施する場合の測定の条件。
3.5
補正係数,CF(correction factor)
系統誤差を補正するために,補正前の測定結果に乗じる数値。
(ISO/IEC Guide 99:2007の2.53を参照。一部修正)
3.6
検出器(detector)
光放射パワーを測定可能な量,通常は電気量に変換する光波長計の素子。
(IEC/TR 61931:1998及びISO/IEC Guide 99:2007の3.9を参照。一部修正)
3.7
偏差(deviation)
(測定)値からその(測定の)基準値を減じたもの。
注記 この規格では,偏差は同じ条件下で動作させたときの被試験器の指示値と参照標準の指示値と
の差である。
3.8
励振(光ファイバの)[excitation (fiber-)]
光ファイバ内の伝搬モード間の光パワー分布の記載。
注記 シングルモード光ファイバは,一般に一つのモード(基本モード)だけで励振するものとみな
す。
3.9
機器状態(instrument state)
校正中の被試験器の状態を完全に規定するパラメータ。
3.10
測定範囲(measuring range)
測定器の誤差が指定した限界内に収まらなければならない,測定量の値の集合。
(ISO/IEC Guide 99:2007の4.7を参照。一部修正)
注記 この規格では,測定範囲とは,動作条件における不確かさを規定している放射パワーの範囲(動
作範囲の一部)である。ダイナミックレンジという用語は用いないほうがよい。
3.11
国家標準[national (measurement) tandard]
国家的な決定によって認めた標準であって,当該量のその他の標準に値付けするための基礎として国内
で用いられるもの。
(ISO/IEC Guide 99:2007の5.3を参照。一部修正)
3.12
国立標準機関(national standards laboratory)
――――― [JIS C 6187-2 pdf 5] ―――――
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JIS C 6187-2:2014の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 62129-2:2011(IDT)
JIS C 6187-2:2014の国際規格 ICS 分類一覧
- 33 : 電気通信工学.オーディオ及びビデオ工学 > 33.180 : 光ファイバ通信 > 33.180.30 : 光増幅器
JIS C 6187-2:2014の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC6186:2008
- 光ファイバ用光パワーメータ校正方法
- JISC6186:2020
- 光ファイバ用光パワーメータ校正方法
- JISQ17025:2018
- 試験所及び校正機関の能力に関する一般要求事項