JIS C 6191:2019 波長可変光源試験方法

                                                                                   C 6191 : 2019

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[2]
•  3 用語,定義及び略語・・・・[2]
•  3.1 用語及び定義・・・・[2]
•  3.2 略語・・・・[5]
•  4 校正の準備・・・・[5]
•  4.1 組織・・・・[5]
•  4.2 トレーサビリティ・・・・[5]
•  4.3 準備・・・・[5]
•  4.4 参照条件・・・・[5]
•  5 波長校正・・・・[6]
•  5.1 概要・・・・[6]
•  5.2 参照条件における波長校正・・・・[6]
•  5.3 動作条件における波長校正・・・・[9]
•  6 光パワー校正・・・・[10]
•  6.1 概要・・・・[10]
•  6.2 参照条件における光パワー校正・・・・[11]
•  6.3 動作条件における光パワー校正・・・・[15]
•  7 文書化・・・・[16]
•  7.1 校正データ及び不確かさ・・・・[16]
•  7.2 校正条件・・・・[17]
•  附属書A(規定)数学的根拠・・・・[18]
•  附属書B(参考)一定の波長(又は光パワー)範囲にわたる偏差の平均化・・・・[21]
•  附属書C(参考)その他の試験・・・・[23]
•  附属書JA(規定)不確かさと確度との関係・・・・[29]
•  附属書JB(規定)強度試験・・・・[31]
•  参考文献・・・・[32]
•  附属書JC(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[33]

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――――― [JIS C 6191 pdf 1] ―――――

C 6191 : 2019

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般財団法人光産
業技術振興協会(OITDA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業
規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業
規格である。
  これによって,JIS C 6191:2005は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                              C 6191 : 2019

波長可変光源試験方法

Test methods of tuneable laser sources

序文

  この規格は,2014年に第1版として発行されたIEC 62522を基とし,旧規格との整合性確保のため,技
術的内容を変更して作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一
覧表にその説明を付けて,附属書JCに示す。また,附属書JA及び附属書JBは,対応国際規格にはない
事項である。
  幹線系光通信網においては,波長分割多重(WDM)光伝送システムの導入が進んでいる。WDM用の光
周波数及び波長のグリッドに関しては,ITU-TのG.694勧告群に記載がある。例えば,G.694.1の光周波数
グリッドでは,チャンネル間隔は,12.5 GHzから100 GHz以上にまで多岐にわたっている。WDM光伝送
システムには,狭チャンネル間隔用のアレイ導波路回折格子(AWG),薄膜フィルタ形又は回折格子形の
合波器(MUX)及び分波器(DMUX)が組み入れられている。これらの部品の特性を計測する際に主に用
いる波長可変光源は,十分な校正に基づいた性能が要求される。その波長不確かさ,波長設定の繰返し性,
波長安定性及び出力光パワーの安定性が重要な性能である。
  波長可変光源(TLS)が一般に具備する特徴は,次のとおりである。
a) 出力波長は,1 260 nm以上から1 675 nm未満までの範囲にわたって連続的に可変である(出力光は,
    光ファイバの基本LP01モードだけを励振するものが望ましい。)。
b) 光ファイバコネクタの出力端子をもつ。
  スペクトル形状は,単一縦モードとし,半値全幅(FWHM)は0.1 nm以下とする。近接モードは,いず
れも,主モードよりも20 dB以上低い強度とする。これらに該当するものは,例えば,分布帰還形半導体
レーザ(DFB-LD),外部共振器レーザなどである。
    注記 この規格では,a) で規定する出力波長のもののほか,光ファイバコネクタの出力端子をもつ,
          出力波長400 nm以上,1 800 nm以下の波長可変光源も対象としている。

1 適用範囲

  この規格は,波長可変光源の波長及び出力光パワーについて事前校正した,光波長計(光周波数計を含
む。),光パワーメータなどの基準計測器による安定かつ再現性のある校正手順について規定する。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 62522:2014,Calibration of tuneable laser sources(MOD)
            なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
          ことを示す。

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2
C 6191 : 2019

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 1002 電子測定器用語
    JIS C 6187-2 光波長計−第2部 : 校正方法
      注記 対応国際規格 : IEC 62129-2,Calibration of wavelength/optical frequency measurement instruments
             −Part 2: Michelson interferometer single wavelength meters
    JIS C 6802 レーザ製品の安全基準
      注記 対応国際規格 : IEC 60825-1,Safety of laser products−Part 1: Equipment classification and
             requirements
    JIS C 6803 レーザ製品の安全−光ファイバ通信システムの安全
      注記 対応国際規格 : IEC 60825-2,Safety of laser products−Part 2: Safety of optical fibre
             communication systems (OFCS)
    JIS C 6835 石英系シングルモード光ファイバ素線
      注記 対応国際規格 : IEC 60793-2-50,Optical fibres−Part 2-50: Product specifications−Sectional
             specification for class B single-mode fibres
    JIS C 60068-2-6 環境試験方法−電気・電子−第2-6部 : 正弦波振動試験方法(試験記号 : Fc)
    JIS C 60068-2-31 環境試験方法−電気・電子−第2-31部 : 落下試験及び転倒試験方法(試験記号 : 
        Ec)
    JIS Q 17025 試験所及び校正機関の能力に関する一般要求事項
      注記 対応国際規格 : ISO/IEC 17025,General requirements for the competence of testing and calibration
             laboratories
    JIS Z 8103 計測用語
    JIS Z 8120 光学用語
    ISO/IEC Guide 98-3:2008,Uncertainty of measurement−Part 3: Guide to the expression of uncertainty in
        measurement (GUM: 1995)
    ISO/IEC Guide 99:2007,International vocabulary of metrology−Basic and general concepts and associated
        terms (VIM)

3 用語,定義及び略語

  この規格で用いる用語,定義及び略語は,JIS C 1002,JIS Z 8103及びJIS Z 8120によるほか,次によ
る。

3.1 用語及び定義

3.1.1
認定校正機関(accredited calibration laboratory)
  適切な国の機関の認定の下,国家標準へのトレーサビリティを保証する校正証明書を発行できる校正機
関。

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                                                                                   C 6191 : 2019
3.1.2
調整(adjustment)
  ある測定量の値に対応するある指示値を表示するために,機器に対して行う一連の作業。
  (IEC 60050-300:2001の311-03-16を一部修正し,注記省略)
  (ISO/IEC Guide 99:2007の3.11も参照。一部修正し,注記省略)
3.1.3
校正(calibration)
  測定器が指示した量の値と標準器が示す標準値との関係を,規定した条件の下で確定する一連の作業。
    注記1 校正の結果によって,指示値に対する測定量の値の指定又は指示値に関する補正の決定が可
            能になる。
    注記2 校正によって,影響量の効果のような他の計量特性を決定できることもある。
    注記3 校正証明書又は校正報告書と呼ぶ文書で校正の結果を記録することもある。
  (ISO/IEC Guide 99:2007の2.39を参照。一部修正し,注記変更)
3.1.4
校正条件(calibration conditions)
  校正を実施する際の測定の条件。
3.1.5
参照条件における校正(calibration at reference conditions)
  参照条件における不確かさ評価を含む被校正光源の校正。
3.1.6
動作条件における校正(calibration at operating conditions)
  動作条件における不確かさ評価を含む被校正光源の校正。
3.1.7
信頼の水準(level of confidence)
  測定されたパラメータの真の値が,与えられた範囲内に存在する確率。
3.1.8
包含係数,k(coverage factor)
  標準不確かさuから拡張不確かさUの算出に用いる係数。
3.1.9
デシベル,dB,dBm(decibels)
  光パワーを対数スケールで表す単位,ベル(B)の分量。
    注記1 光パワーレベルは,基準光パワーP0を基準とした相対値で表す。
                                         P
                         LP
                          P/ 0  10  log10
                                         P0
                       ここに,PとP01)とは,同じ線形の単位で表す。
                         注1)   0を,式の添字では,“P0”と表記している。
              単位dBmは,1 mWに対する相対的な光パワーレベルを示す。

――――― [JIS C 6191 pdf 5] ―――――

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