JIS M 8702:2019 鉄鉱石―サンプリング及び試料調製方法

                                                                                   M 8702 : 2019

pdf 目 次

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•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[3]
•  4 サンプリング及び試料調製の一般要件・・・・[3]
•  4.1 基本要求事項・・・・[3]
•  4.2 サンプリング計画の確立・・・・[4]
•  4.3 システムの検証・・・・[4]
•  5 サンプリング及び試料調製の基本事項・・・・[5]
•  5.1 偏りの低減・・・・[5]
•  5.1.1 一般・・・・[5]
•  5.1.2 試料粉化の低減・・・・[5]
•  5.1.3 インクリメントの採取・・・・[5]
•  5.1.4 インクリメントの質量・・・・[6]
•  5.2 総合精度・・・・[7]
•  5.3 品位変動・・・・[8]
•  5.4 サンプリング精度及び一次インクリメント個数・・・・[9]
•  5.4.1 質量基準サンプリング・・・・[9]
•  5.4.2 時間基準サンプリング・・・・[10]
•  5.5 試料調製精度及び総合精度・・・・[10]
•  5.5.1 一般・・・・[10]
•  5.5.2 大口試料の調製及び測定・・・・[10]
•  5.5.3 小口試料の調製及び測定・・・・[10]
•  5.5.4 各インクリメントの調製及び測定・・・・[11]
•  6 サンプリング方法・・・・[11]
•  6.1 質量基準サンプリング・・・・[11]
•  6.1.1 インクリメント質量・・・・[11]
•  6.1.2 品位変動・・・・[12]
•  6.1.3 一次インクリメント個数・・・・[12]
•  6.1.4 採取間隔・・・・[12]
•  6.1.5 インクリメントの採取方法・・・・[12]
•  6.2 時間基準サンプリング・・・・[13]
•  6.2.1 インクリメント質量・・・・[13]
•  6.2.2 品位変動・・・・[13]
•  6.2.3 一次インクリメント個数・・・・[13]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS M 8702 pdf 1] ―――――

M 8702 : 2019

pdf 目次

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•  6.2.4 採取間隔・・・・[13]
•  6.2.5 インクリメントの採取方法・・・・[13]
•  6.3 固定質量間隔又は固定時間間隔内での層別ランダムサンプリング・・・・[13]
•  6.3.1 一般事項・・・・[13]
•  6.3.2 固定質量間隔・・・・[14]
•  6.3.3 固定時間間隔・・・・[14]
•  7 鉱石流からの試料採取・・・・[14]
•  7.1 一般事項・・・・[14]
•  7.2 運転の安全・・・・[14]
•  7.3 サンプリング装置の堅ろう性・・・・[14]
•  7.4 サンプリングシステムの機能・・・・[15]
•  7.5 一次サンプラ・・・・[15]
•  7.5.1 設置場所・・・・[15]
•  7.5.2 一次サンプラの形式・・・・[15]
•  7.5.3 一次サンプラの一般的設計事項・・・・[17]
•  7.5.4 一次サンプラのカッタの開口間隔・・・・[17]
•  7.5.5 一次サンプラのカッタ速度・・・・[18]
•  7.6 二次及びそれ以降のサンプラ・・・・[18]
•  7.7 オンライン試料調製・・・・[18]
•  7.7.1 試料調製装置の配置・・・・[18]
•  7.7.2 粉砕機・・・・[19]
•  7.7.3 縮分機・・・・[19]
•  7.7.4 乾燥機・・・・[21]
•  7.8 精度及び偏りの確認・・・・[21]
•  7.9 清掃及び保守・・・・[21]
•  7.10 フローシートの例・・・・[21]
•  8 静止状態での試料採取・・・・[24]
•  8.1 一般・・・・[24]
•  8.2 貨車からの試料採取・・・・[24]
•  8.2.1 一般・・・・[24]
•  8.2.2 試料採取器・・・・[24]
•  8.2.3 一次インクリメント個数・・・・[24]
•  8.2.4 試料採取方法・・・・[25]
•  8.3 船倉,貯鉱場及び貯鉱槽からの試料採取・・・・[25]
•  9 停止ベルトからの参照試料採取・・・・[25]
•  10 試料調製・・・・[26]
•  10.1 基本事項・・・・[26]
•  10.1.1 一般・・・・[26]
•  10.1.2 乾燥・・・・[27]

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                                                                              M 8702 : 2019目次

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•  10.1.3 破砕及び粉砕・・・・[27]
•  10.1.4 混合・・・・[27]
•  10.1.5 縮分・・・・[28]
•  10.1.6 縮分試料の質量・・・・[28]
•  10.1.7 試料の兼用及び重用・・・・[31]
•  10.2 小口試料又は大口試料の調製方法・・・・[31]
•  10.2.1 一般・・・・[31]
•  10.2.2 質量基準サンプリングの場合・・・・[31]
•  10.2.3 時間基準サンプリングの場合・・・・[32]
•  10.2.4 水分試験用試料についての特別な手順・・・・[33]
•  10.3 機械式縮分方法・・・・[33]
•  10.3.1 機械によるインクリメント縮分方法・・・・[33]
•  10.3.2 機械による他の縮分方法・・・・[34]
•  10.4 手動による縮分方法・・・・[34]
•  10.4.1 一般・・・・[34]
•  10.4.2 手動によるインクリメント縮分方法・・・・[34]
•  10.4.3 手動ストリップによる縮分方法・・・・[36]
•  10.4.4 手動二分器による縮分方法・・・・[38]
•  10.5 化学分析試験室試料の調製・・・・[39]
•  10.5.1 質量及び粒度・・・・[39]
•  10.5.2 最大粒度250 μmへの調製・・・・[41]
•  10.5.3 最終調製・・・・[41]
•  10.5.4 最大粒度100 μm又は160 μmへの粉砕・・・・[42]
•  10.5.5 化学分析試験室試料の配布・・・・[42]
•  10.6 水分試験試料の調製・・・・[42]
•  10.7 粒度試験試料の調製・・・・[43]
•  10.8 物理試験試料の調製・・・・[43]
•  10.8.1 試料調製方法の選定・・・・[43]
•  10.8.2 各試験試料の調製・・・・[44]
•  10.8.3 保管試料・・・・[53]
•  11 試料の包装及び表示・・・・[53]
•  12 ロットの特性の平均品位の決定・・・・[54]
•  12.1 化学成分・・・・[54]
•  12.2 粒度・・・・[54]
•  12.3 水分・・・・[54]
•  12.4 物理試験・・・・[54]
•  12.5 表示の桁数・・・・[54]
•  12.6 複数港で分割荷揚げする場合・・・・[54]
•  附属書A(参考)機械式サンプリング設備の検査・・・・[55]

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M 8702 : 2019

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•  附属書B(規定)インクリメント個数の計算・・・・[61]
•  附属書C(参考)参照試料採取の代替方法・・・・[63]

附属書D(規定)機械式インクリメント縮分以外の機械式縮分方式による粒度用試料の縮分後最小質量の
     計算手順  66

•  附属書E(規定)二分器・・・・[68]
•  附属書JA(規定)鉄鉱石の品位変動調査方法及び品位変動区分決定方法・・・・[70]

附属書JB(参考)構成インクリメント数の異なる小口試料からインクリメント縮分によって大口試料を調
     製する方法  73

•  附属書JC(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[75]

(pdf 一覧ページ番号 4)

――――― [JIS M 8702 pdf 4] ―――――

                                                                                   M 8702 : 2019

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人日本
鉄鋼連盟(JISF)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正すべきとの申出があり,日本工業標準
調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
  これによって,JIS M 8702:2016は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

(pdf 一覧ページ番号 5)

――――― [JIS M 8702 pdf 5] ―――――

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