JIS C 60068-2-83:2014 環境試験方法―電気・電子―第２－８３部：試験Ｔｆ―ソルダペーストを用いた平衡法による表面実装部品（ＳＭＤ）のはんだ付け性試験方法

                                                          C 60068-2-83 : 2014 (IEC 60068-2-83 : 2011)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  4 試験・・・・[2]
•  4.1 概要・・・・[2]
•  4.2 試験方法・・・・[3]
•  5 前処理・・・・[3]
•  6 試験準備・・・・[3]
•  6.1 ソルダペースト・・・・[3]
•  6.2 試験ジグ板・・・・[4]
•  6.3 供試品ホルダ・・・・[4]
•  7 急加熱昇温法・・・・[4]
•  7.1 試験装置・・・・[4]
•  7.2 試験ジグ板・・・・[4]
•  7.3 試験準備・・・・[5]
•  7.4 試験条件・・・・[5]
•  7.5 試験手順・・・・[7]
•  7.6 結果の表示・・・・[7]
•  7.7 特性評価の例・・・・[8]
•  8 シンクロナス法・・・・[8]
•  8.1 試験装置・・・・[8]
•  8.2 試験ジグ板・・・・[9]
•  8.3 補助具(試験ジグ板保持具及びミニるつぼ)・・・・[9]
•  8.4 試験準備・・・・[9]
•  8.5 試験条件・・・・[10]
•  8.6 試験手順・・・・[10]
•  8.7 結果の表示・・・・[10]
•  8.8 特性評価の例・・・・[11]
•  9 温度プロファイル昇温法・・・・[11]
•  9.1 試験装置・・・・[11]
•  9.2 試験ジグ板・・・・[12]
•  9.3 試験準備・・・・[12]
•  9.4 試験条件・・・・[12]
•  9.5 試験手順・・・・[14]

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――――― [JIS C 60068-2-83 pdf 1] ―――――

C 60068-2-83 : 2014 (IEC 60068-2-83 : 2011)

pdf 目次

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•  9.6 結果の表示・・・・[14]
•  9.7 特性評価の例・・・・[15]
•  附属書A(規定)急加熱昇温法の試験装置・・・・[16]
•  附属書B(参考)急加熱昇温法での時間対力曲線の読み方及び結果の補正方法・・・・[17]
•  附属書C(規定)温度プロファイル昇温法の試験装置・・・・[19]
•  附属書D(参考)温度プロファイル昇温法での時間対力曲線の読み方及び結果の補正方法・・・・[20]
•  附属書E(参考)注意事項・・・・[22]
•  附属書JA(参考)ソルダペースト・・・・[26]

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――――― [JIS C 60068-2-83 pdf 2] ―――――

                                                          C 60068-2-83 : 2014 (IEC 60068-2-83 : 2011)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)
及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出
があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。これによって,
JIS C 0099:2005は廃止され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格に従うことは,次の者の有する特許権等の使用に該当するおそれがあるので,留意する。
  − 氏名 : ソニー株式会社
    住所 : 東京都港区
  − 氏名 : タルチンケスター株式会社
    住所 : 東京都墨田区
  − 氏名 : 株式会社マルコム
    住所 : 東京都渋谷区
  − 氏名 : GEN3 Systems Limited(Mr. Graham Naisbitt)
    住所 : 英国ハンプシャー州Famborough市
  上記の,特許権等の権利者は,非差別的かつ合理的な条件でいかなる者に対しても当該特許権等の実施
の許諾等をする意思のあることを表明している。ただし,この規格に関連する他の特許権等の権利者に対
しては,同様の条件でその実施が許諾されることを条件としている。
  この規格に従うことが,必ずしも,特許権の無償公開を意味するものではないことに注意する必要があ
る。
  この規格の一部が,上記に示す以外の特許権等に抵触する可能性がある。経済産業大臣及び日本工業標
準調査会は,このような特許権等に関わる確認について,責任はもたない。
  なお,ここで“特許権等”とは,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権をいう。
  JIS C 60068の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 60068-1 電気・電子−通則
    JIS C 60068-2-1 電気・電子−第2-1部 : 低温(耐寒性)試験方法(試験記号 : A)
    JIS C 60068-2-2 電気・電子−第2-2部 : 高温(耐熱性)試験方法(試験記号 : B)
    JIS C 60068-2-6 電気・電子−第2-6部 : 正弦波振動試験方法(試験記号 : Fc)
    JIS C 60068-2-7 電気・電子−加速度(定常)試験方法
    JIS C 60068-2-11 (電気・電子)塩水噴霧試験方法
    JIS C 60068-2-13 (電気・電子)減圧試験方法
    JIS C 60068-2-14 電気・電子−第2-14部 : 温度変化試験方法(試験記号 : N)
    JIS C 60068-2-17 電気・電子−封止(気密性)試験方法
    JIS C 60068-2-18 電気・電子−第2-18部 : 耐水性試験及び指針
    JIS C 60068-2-20 電気・電子−第2-20部 : 試験−試験T−端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱
        性試験方法
    JIS C 60068-2-21 電気・電子−第2-21部 : 試験−試験U : 端子強度試験方法

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C 60068-2-83 : 2014 (IEC 60068-2-83 : 2011)

pdf 目次

    JIS C 60068-2-27 電気・電子−第2-27部 : 衝撃試験方法(試験記号 : Ea)
    JIS C 60068-2-30 電気・電子−第2-30部 : 温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法(試験
        記号 : Db)
    JIS C 60068-2-31 電気・電子−第2-31部 : 落下試験及び転倒試験方法(試験記号 : Ec)
    JIS C 60068-2-38 電気・電子−第2-38部 : 温湿度組合せ(サイクル)試験方法(試験記号 : Z/AD)
    JIS C 60068-2-39 電気・電子−第2-39部 : 低温,減圧及び高温高湿一連複合試験
    JIS C 60068-2-40 電気・電子−低温・減圧複合試験方法
    JIS C 60068-2-41 電気・電子−高温・減圧複合試験方法
    JIS C 60068-2-42 電気・電子−接点及び接続部の二酸化硫黄試験方法
    JIS C 60068-2-43 電気・電子−接点及び接続部の硫化水素試験方法
    JIS C 60068-2-45 電気・電子−耐溶剤性(洗浄溶剤浸せき)試験方法
    JIS C 60068-2-46 電気・電子−接点及び接続部の硫化水素試験−指針
    JIS C 60068-2-47 電気・電子−第2-47部 : 動的試験での供試品の取付方法
    JIS C 60068-2-48 電気・電子−第2-48部 : 保存の影響をシミュレートするために,環境試験方法に
        関するJIS規格群の試験を適用する場合の指針
    JIS C 60068-2-49 電気・電子−接点及び接続部の二酸化硫黄試験−指針
    JIS C 60068-2-50 電気・電子−発熱供試品及び非発熱供試品に対する低温/振動(正弦波)複合試験
    JIS C 60068-2-51 電気・電子−発熱供試品及び非発熱供試品に対する高温/振動(正弦波)複合試験
    JIS C 60068-2-52 電気・電子−塩水噴霧(サイクル)試験方法(塩化ナトリウム水溶液)
    JIS C 60068-2-53 電気・電子−第2-53部 : 耐候性(温度・湿度)と動的(振動・衝撃)との複合試
        験及び指針
    JIS C 60068-2-54 電気・電子−はんだ付け性試験方法(平衡法)
    JIS C 60068-2-55 電気・電子−第2-55部 : ルーズカーゴに対するバウンス試験及び指針(試験記号 : 
        Ee)
    JIS C 60068-2-57 電気・電子−時刻歴振動試験方法
    JIS C 60068-2-58 電気・電子−表面実装部品(SMD)のはんだ付け性,電極の耐はんだ食われ性及び
        はんだ耐熱性試験方法
    JIS C 60068-2-59 電気・電子−サインビート振動試験方法
    JIS C 60068-2-60 電気・電子−混合ガス流腐食試験
    JIS C 60068-2-61 電気・電子−一連耐候性試験
    JIS C 60068-2-64 電気・電子−第2-64部 : 広帯域ランダム振動試験方法及び指針(試験記号 : Fh)
    JIS C 60068-2-65 電気・電子−第2-65部 : 音響振動
    JIS C 60068-2-66 電気・電子−高温高湿,定常(不飽和加圧水蒸気)
    JIS C 60068-2-67 電気・電子−基本的に構成部品を対象とした高温高湿,定常状態の促進試験
    JIS C 60068-2-68 電気・電子−砂じん(塵)試験
    JIS C 60068-2-69 電気・電子−第2-69部 : 試験−試験Te : 表面実装部品(SMD)のはんだ付け性試
        験方法(平衡法)
    JIS C 60068-2-70 電気・電子−第2-70部 : 指及び手の擦れによる印字の摩滅試験
    JIS C 60068-2-75 電気・電子−第2-75部 : ハンマ試験
    JIS C 60068-2-77 電気・電子−表面実装部品(SMD)の本体強度及び耐衝撃性試験方法

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                                                          C 60068-2-83 : 2014 (IEC 60068-2-83 : 2011)
    JIS C 60068-2-78 電気・電子−第2-78部 : 高温高湿(定常)試験方法
    JIS C 60068-2-80 電気・電子−第2-80部 : 混合モード振動試験方法(試験記号 : Fi)
    JIS C 60068-2-81 電気・電子−第2-81部 : 衝撃応答スペクトル合成による衝撃試験方法
    JIS C 60068-2-82 電気・電子−第2-82部 : 試験−試験XW1 : 電気・電子部品のウィスカ試験方法
    JIS C 60068-2-83 電気・電子−第2-83部 : 試験Tf−ソルダペーストを用いた平衡法による表面実装
        部品(SMD)のはんだ付け性試験方法
    JIS C 60068-3-1 電気・電子−低温試験及び高温試験を理解するための必す(須)情報
    JIS C 60068-3-2 電気・電子−第3-2部 : 温度/減圧複合試験を理解するための必す(須)情報
    JIS C 60068-3-3 電気・電子−機器の耐震試験方法の指針
    JIS C 60068-3-4 電気・電子−第3-4部 : 高温高湿試験の指針
    JIS C 60068-3-5 電気・電子−第3-5部 : 温度試験槽の性能確認の指針
    JIS C 60068-3-6 電気・電子−第3-6部 : 支援文書及び指針−温湿度試験槽の性能確認の指針
    JIS C 60068-3-7 電気・電子−第3-7部 : 支援文書及び指針−負荷がある場合の低温試験(試験A)
        及び高温試験(試験B)の試験槽の温度測定のための指針
    JIS C 60068-3-8 電気・電子−第3-8部 : 振動試験方法の選択の指針

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――――― [JIS C 60068-2-83 pdf 5] ―――――

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