JIS C 6183-2:2018 光スペクトラムアナライザ―第２部：校正方法

                                                                C 6183-2 : 2018 (IEC 62129-1 : 2016)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  4 校正の準備・・・・[6]
•  4.1 組織・・・・[6]
•  4.2 トレーサビリティ・・・・[6]
•  4.3 準備・・・・[6]
•  4.4 基準校正条件・・・・[6]
•  5 光波長校正・・・・[7]
•  5.1 概要・・・・[7]
•  5.2 基準条件での光波長校正・・・・[7]
•  5.3 動作条件での光波長校正・・・・[9]
•  5.4 拡張不確かさの算出・・・・[11]
•  6 光パワーレベル校正・・・・[11]
•  6.1 概要・・・・[11]
•  6.2 基準条件での光パワーレベル校正・・・・[11]
•  6.3 動作条件での光パワーレベル校正・・・・[13]
•  6.4 拡張不確かさの算出・・・・[18]
•  7 分解能バンド幅(スペクトル分解能)試験・・・・[19]
•  7.1 概要・・・・[19]
•  7.2 分解能バンド幅(スペクトル分解能)試験・・・・[19]
•  8 書類・・・・[21]
•  8.1 測定条件・・・・[21]
•  8.2 測定データ及び不確かさ・・・・[21]
•  附属書A(規定)数学的根拠・・・・[22]
•  附属書B(参考)校正不確かさの算出例・・・・[24]
•  附属書C(参考)校正結果の用い方・・・・[30]
•  附属書D(参考)光波長基準・・・・[35]
•  参考文献・・・・[40]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS C 6183-2 pdf 1] ―――――

C 6183-2 : 2018 (IEC 62129-1 : 2016)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般財団法人光産業技術振興協会(OITDA)
及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出
があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  これによって,JIS C 6192:2008は廃止され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

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――――― [JIS C 6183-2 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           C 6183-2 : 2018
                                                                          (IEC 62129-1 : 2016)

光スペクトラムアナライザ−第2部 : 校正方法

Optical spectrum analyzers-Part 2: Calibration method

序文

  この規格は,2016年に第1版として発行されたIEC 62129-1を基に,技術的内容及び構成を変更するこ
となく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。

1 適用範囲

  この規格は,光スペクトルのパワー分布を測定するために設計された光スペクトラムアナライザを校正
する手順について規定する。中心光波長だけを測定する光波長計,ファブリ・ペロー干渉計及び表示画面
をもたないモノクロメータには,適用しない。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 62129-1:2016,Calibration of wavelength/optical frequency measurement instruments−Part 1:
              Optical spectrum analyzers(IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 6186 光ファイバ用光パワーメータ校正方法
      注記 対応国際規格 : IEC 61315,Calibration of fibre-optic power meters
    JIS C 6187-2 光波長計−第2部 : 校正方法
      注記 対応国際規格 : IEC 62129-2,Calibration of wavelength/optical frequency measurement instruments
             −Part 2: Michelson interferometer single wavelength meters
    JIS C 6802 レーザ製品の安全基準
      注記 対応国際規格 : IEC 60825-1,Safety of laser products−Part 1: Equipment classification and
             requirements
    JIS C 6835 石英系シングルモード光ファイバ素線
      注記 対応国際規格 : IEC 60793-2 (all parts),Optical fibres−Part 2: Product specifications
    JIS Q 17025 試験所及び校正機関の能力に関する一般要求事項
      注記 対応国際規格 : ISO/IEC 17025,General requirements for the competence of testing and calibration
             laboratories

――――― [JIS C 6183-2 pdf 3] ―――――

2
C 6183-2 : 2018 (IEC 62129-1 : 2016)
    ISO/IEC Guide 98-3:2008,Uncertainty of measurement−Part 3: Guide to the expression of uncertainty in
        measurement (GUM:1995)
    IEC 60050-731,International Electrotechnical Vocabulary−Chapter 731: Optical fibre communication
        (http://www.electropedia.org 参照)
    IEC 62522,Calibration of tuneable laser sources

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,IEC 60050-731によるほか,次による。
3.1
認定校正機関(accredited calibration laboratory)
  適切な国家機関の認定の下,国家標準へのトレーサビリティを保証する校正証明書を発行できる校正機
関。
3.2
校正(calibration)
  規定の条件の下で,測定器が指示した量の値と標準器が示すその量の標準値との関係を確定する一連の
作業。
    注記1 校正の結果によって,指示値に対応する測定値の指定又は指示値に対する補正の決定が可能
            となる。
    注記2 校正によって,影響量の効果などの他の計量特性を決定できる場合もある。
    注記3 校正結果は,校正証明書又は校正報告書の文書によって記録される場合もある。
  (ISO/IEC Guide 99:2007の2.39を参照。一部修正)
3.3
基準条件での校正(calibration under reference conditions)
  基準条件(3.18)での被試験器の不確かさ評価を含んだ校正。
3.4
動作条件での校正(calibration for operating conditions)
  被試験器の動作中の不確かさ評価を含む光スペクトラムアナライザ(3.15)の動作条件での校正。
3.5
中心光波長,λc(center wavelength, centroidal wavelength)
  真空中での光源の光パワーの重み付きの平均光波長。
    注記1 中心波長の単位はnm。
    注記2 連続スペクトルの場合,中心光波長は,式(1)によって定義する。
                              1
                         λc        p(λ)λdλ

(pdf 一覧ページ番号 )

                             Ptotal
  離散スペクトルの場合,中心光波長は,式(2)によって定義する。
                               Pi λi
                              i
                         λc         (2)
                                Pi
                               i
                      ここに, p(λ) :  光源のスペクトルパワー密度(単位は,例えば,W/nm)
                                  λi :  真空中i番目の離散光線の光波長

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                                                                                              3
                                                                C 6183-2 : 2018 (IEC 62129-1 : 2016)
                                  Pi :      椰        ワー(単位は,例えば,W)
                                Ptotal :  総合パワー(単位は,例えば,W)
    注記3 注記2の積分及び加算は,光源のスペクトル全体にわたって適用する。
3.6
信頼水準(confidence level)
  測定した量の真の値が指定する範囲内に存在する確率の評価値。
    注記 3.8を参照。
3.7
包含係数,k(coverage factor)
  標準不確かさ(3.22)uから拡張不確かさUを求めるのに用いる係数。
    注記 3.8を参照。
3.8
拡張不確かさ,U(expanded uncertainty)
  規定の信頼水準(3.6)で,測定した量の真の値が収まると期待される値の範囲。
    注記1 標準不確かさ(3.22)uに包含係数(3.7)kを乗じて求める。
                        U   ku   (3)
    注記2 不確かさの分布が正規分布であると仮定し,多数の測定を行う場合,68.3 %,95.5 %及び
            99.7 %の信頼水準(3.6)は,それぞれk値1,2及び3に対応する。
    注記3 光スペクトラムアナライザ(3.15)の測定の不確かさは,拡張不確かさUの形で明示するこ
            とが望ましい。
3.9
測定器の状態(instrument state)
  校正作業中の測定条件及び光スペクトラムアナライザ(3.15)の状態を完全に記述したもの。
    注記 測定器の状態を示す代表的なパラメータは,使用中の表示光波長範囲,分解能バンド幅(スペ
          クトル分解能)(3.19),表示モード(W又はdBm),ウォームアップ時間及びその他の測定器
          設定である。
3.10
測定結果(measurement result)
  操作説明書に示す全ての操作(例えば,ウォームアップ)が完了した後に得られる光スペクトラムアナ
ライザ(3.15)の表示出力又は電気出力。光波長(単位は,nm又はμm)及び光パワーレベル(単位は,
mW又はdBm)によって示される。
3.11
測定範囲(measurement range)
  測定器の誤差が,規定の限界内に収まらなければならない測定量の値の範囲。
  (ISO/IEC Guide 99:2007の4.9を修正)
3.12
国家測定標準(national measurement standard)
  国家的な決定によって認められた標準。当該量のその他の標準への値付けの基礎として国家内で適用さ
れる。
  (ISO/IEC Guide 99:2007の5.3を修正)

――――― [JIS C 6183-2 pdf 5] ―――――

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