JIS C 6471:1995 フレキシブルプリント配線板用銅張積層板試験方法

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                             C 6471-1995

フレキシブルプリント配線板用銅張積層板試験方法

Test methods of copper-clad laminates for flexible printed wiring boards

1. 適用範囲 この規格は,フレキシブルプリント配線板に用いる銅張積層板(以下,銅張積層板という。)
の試験方法について規定する。
    備考1. この規格の引用規格を,付表1に示す。
         2. この規格の対応国際規格を,次に示す。
          IEC 249-1 (1982)   ase materials for printed circuits. Part 1: Test methods.
2. 用語の定義 この規格で用いる主な用語の定義は,JIS C 0010及びJIS C 5603の規定によるほか,次
による。
(1) ベースフィルム(以下,フィルムという。)の記号を,次に示す。
      PET : ポリエチレンテレフタレートフィルム
      PIA : ピロメリット酸形ポリイミドフィルム
      PIB : ビフェニルテトラカルボン酸形ポリイミドフィルム
(2) 銅はくの記号を,次に示す。
      E1 : 標準の電解銅はく
      E2 : 常温での伸び率の高い電解銅はく
      E3 : 180℃での伸び率の高い電解銅はく
      R1 : 冷間圧延した銅はく(焼鈍なし)
      R2 : 軽冷間圧延した銅はく(焼鈍なし)
      R3 : 焼鈍した圧延銅はく
(3)   D方向 フィルム,銅はく又は銅張積層板の連続製造時の長さ方向。
    備考 MDは, “Machine Direction” の略である。
(4)   D方向 フィルム,銅はく又は銅張積層板の連続製造時の幅方向。MD方向に対し垂直の方向。
    備考 TDは, “Transverse Direction” の略である。
3. 試験の状態
3.1   標準状態 電気的性能試験を除く試験は,個別規格に規定がない限り,JIS C 0010の5.3[測定及び
試験のための標準大気条件(標準状態)]による標準状態(温度1535℃,相対湿度2575%,気圧86
106kPa)で行う。ただし,この標準状態での判定に疑義を生じた場合,又は特に要求された場合は,3.3
による。

――――― [JIS C 6471 pdf 1] ―――――

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C 6471-1995
  なお,標準状態で試験を行うことが困難な場合は,判定に疑義を生じない限り,標準状態以外の状態で
行ってもよい。
3.2   電気的性能の試験状態 電気的性能の試験状態は,3.3による。
3.3   判定状態 判定状態は,JIS C 0010の5.2[判定測定,及び判定試験のための標準大気条件(判定状
態)]による判定状態(温度20±2℃,相対湿度6070%,気圧86106kPa)とする。
3.4   試験場所の明るさ JIS Z 9110による照度目盛200lx(照度範囲150300lx)以上とする。
4. 試料
4.1   試料の作り方 個別規格に規定がない限り,製品の端から試料を切り取る。試料の寸法に許容差の
規定がない場合は,規定された寸法の±5%を許容差とする。
  試料は,油類,汗,その他の異物によって表面を汚さないように取扱いに注意する。
4.2   テストパターン テストパターンの形状及び寸法は,付図19による。
  テストパターンは,エッチング後,温度80±5℃の恒温槽中で約30分間乾燥する。
5. 前処理 前処理は,試料を,標準状態の24±4時間放置する。
6. 外観及び寸法試験
6.1   外観
6.1.1  装置 倍率約3倍の拡大鏡を用いる。
6.1.2  試料 試料の大きさは,(1)及び(2)による。
(1) ピンホール試験用
  (a) 幅480mmの製品 : 480mm(受理のままの幅)×520mm(長さ)
  (b) 幅240mmの製品 : 240mm(受理のままの幅)×1 040mm(長さ)
  (c) その他の幅の製品 : 受理のままの幅で,面積が0.25m2になる長さ。
(2) 打こん試験用
  (a) 幅480mmの製品 : 480mm(受理のままの幅)×260mm(長さ)
  (b) 幅240mmの製品 : 240mm(受理のままの幅)×520mm(長さ)
  (c) その他の幅の製品 : 受理のままの幅で,面積が0.125m2になる長さ。
6.1.3  試験 試料の表面の状態を,目視又は拡大鏡を用いて調べる。
6.2   寸法
6.2.1  厚さ
(1) 装置 JIS B 7536に規定の最小表示量0.1          準    マイクロメータを用いる。
(2) 試料 試料は,受理のままの銅張積層板を用いる。
(3) 測定
  (a) 測定力は,5±1Nとし,ロール状の銅張積層板は,MD方向にそれぞれ1m以上離れた3か所にお
      いて,また,シート状の場合は,3枚のシートのそれぞれについて,TD方向に全幅にわたってほぼ
      等間隔に5か所を測定する。
  (b) すべての測定値の平均値を厚さとする。
6.2.2  幅
(1) 装置 装置は,JIS B 7516に規定の1級の直尺,又はこれと同等以上の精度をもつものとする。

――――― [JIS C 6471 pdf 2] ―――――

                                                                                              3
                                                                                    C 6471-1995
(2) 試料 試料は,受理のままの銅張積層板を用いる。
(3) 測定
  (a) ロール状の銅張積層板は,MD方向にそれぞれ1m以上離れた3か所について,また,シート状の
      場合は,3枚のシートについて,試料を水平に保持し,TD方向の長さを1mmの単位まで測定する。
  (b) 測定値の平均値を幅とする。
6.2.3  長さ
(1) 直接法
  (a) 装置 装置は,6.2.2(1)による。
  (b) 試料 試料は,受理のままの銅張積層板を用いる。
  (c) 測定 試料を適当な方法によって水平に保持し,MD方向の長さを測定する。
(2) 重量法
(2.1) 装置
  (a) 6.2.2(1)に規定する金属製直尺。
  (b) 精度0.001gのはかり。
  (c) 製品1ロールの質量が測定できるはかり。
(2.2) 試料 試料は,受理のままのロール状の銅張積層板の,MD方向に1m以上離れた任意の3か所から,
    大きさ100±0.5cm2を切り取ったものとする。
(2.3) 測定
  (a) ロールの正味質量を100gの単位までひょう量する。
  (b) 試料をはかりに載せ,0.001gまで正しくひょう量する。
  (c) 次の式によって,長さL (m) を算出し,平均値を長さとする。
                            W   a
                         L=
                            g  B
                      ここに, W :  ロールの正味質量 (kg)
                                 B :  ロールの幅 (mm)
                                 g :  試料の質量の総和 (g)
                                 a :  試料の面積の総和 (mm2)
7 電気的性能試験
7.1   体積抵抗率
7.1.1  装置 装置は,次による。
(1)   IS C 1303に規定された高絶縁抵抗計又は標準抵抗器,万能分流器及び確度±10%に校正された検流
    計からなる抵抗測定装置とする。
(2)   IS B 7536に規定の電気マイクロメータ又はこれと同等以上の確度をもつもの。
(3)   IS B 7507に規定する最小読取り長さ0.05mmのノギス又はこれと同等以上の精度をもつもの。
7.1.2  試料 原厚のまま100mm角に切り,付図1に示す電極をエッチングによって作製する。
  電極の形状,寸法は,主電極と対電極及びガードの中心が,できるだけ一致するように合わせる。ただ
し,対電極は裏面全体にわたっても差し支えない。
  片面銅張積層板の場合の対電極には導電性塗料又は接着銅はくのいずれを用いてもよい。
  なお,電極として導電性塗料を用いる場合は,前処理を行う前に塗布しておく。

――――― [JIS C 6471 pdf 3] ―――――

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C 6471-1995
7.1.3  前処理 前処理は,5.の規定による。
7.1.4  試験 試験は,次による。
(1) 常態
  (a) 測定 常態での測定を行う場合は,前処理後の試料の厚さを電気マイクロメータで0.1       
      で測定し,上部電極の輪状のすきまの内径をノギスで0.05mmの単位まで測定する。
        試料に直流電圧500±5Vを印加し,1分間保った後の抵抗値を測定する。
  (b) 算出 次の式によって体積抵抗率             攀         ‰侮
                                2
                              d
                          v        Rv
                              4t
                      ここに,     d :  表面電極の円内の外径 (cm)
                                   t :  絶縁基板の厚さ (cm)
                                  Rv :  抵抗値 (  圀
                                          円周率
(2) 吸湿処理後
  (a) 処理 前処理後の試料について常態の場合と同様に寸法を測定した後,温度40±1℃,相対湿度90
                                                 った後取り出し,温度20±2℃に保ったJIS K 8540の規
      95%の恒温恒湿槽の中に入れ,9620
      定の酒石酸ナトリウム二水和物の飽和水溶液で湿度を調節したデシケータに入れ,冷却する。
  (b) 測定 測定は,処理後1時間以内に取り出して,(1)(a)の場合と同様に3分間以内に抵抗値の測定を
      完了する。
  (c) 算出 (1)(b)による。
7.2   表面層の絶縁抵抗
7.2.1  装置 装置は,7.1.1の体積抵抗率試験装置と同様のものとする。
7.2.2  試料 試料は,付図2に示す電極をエッチングによって作製する。
  なお,両面銅張積層板は,導体パターンを表に形成したものと裏に形成したものの2種類とする。
7.2.3  前処理 前処理は,5.の規定による。
7.2.4  試験 試験は,次による。
(1) 常態 試料に直流電圧500±5Vを印加し,1分間保った後の電圧印加状態で絶縁抵抗を測定する。
(2) 吸湿処理後
  (a) 処理 処理は,7.1.4(2)(a)による。
  (b) 試験 試験は,(1)による。
7.3   表面層耐電圧
7.3.1  装置 装置は,JIS C 2110の6.2(回路しゃ断器)に規定のもの又はこれと同等以上のものとする。
7.3.2  試料 試料は,7.2.2による。
  なお,この試験で機械的損傷,フラッシュオーバ(表面放電),スパークオーバ(空中放電)又は絶縁破
壊を生じた試料は,他の試験に用いてはならない。
7.3.3  前処理 前処理は,5.の規定による。
7.3.4  試験 試験は,直流電圧又は周波数50Hz若しくは60Hzの正弦波交流電圧を用い,500Vの電圧を,
試料に印加する。電圧の印加は,約5秒間で規定電圧まで徐々に上昇させ,1分間保持し,機械的損傷,
フラッシュオーバ,スパークオーバ,絶縁破壊などの異常の有無を調べる。

――――― [JIS C 6471 pdf 4] ―――――

                                                                                              5
                                                                                    C 6471-1995
7.4   層間耐電圧
7.4.1  装置 装置は,7.3.1に規定の装置と同様のものとする。
7.4.2  試料 試料は,7.1.2による。
  なお,この試験で機械的損傷又は絶縁破壊を生じた試料は,他の試験に用いてはならない。
7.4.3  前処理 前処理は,5.の規定による。
7.4.4  試験 試験は,7.3.4によって行い,機械的損傷,絶縁破壊などの異常の有無を調べる。
7.5   比誘電率及び誘電正接
7.5.1  装置 装置は,次による。
(1) 電源(図1のS) 電源は,周波数1MHzを発生でき,ひずみ率5%以下の正弦波でちって,試料に規
    定の電圧を安定に与えることができるものとし,電源と平衡検出器との直接結合を避けるため,静電
    的及び電磁的に遮へいされたものとする。
(2) ブリッジ
  (a) 遮へい変圧器(図1のT1) 電源の内部インピーダンスとブリッジのインピーダンス(約200      
      と整合させるもので,変圧器内部でのブリッジ側の巻線を接地させた導体で遮へいしたもの。その
      場合,ブリッジ側の巻線は分割平衡巻とする。
  (b) 比例辺(図1のT2) 巻線比が1 : 1(誤差0.2%以下)で,漏れインダクタンス及び巻線抵抗値の
      できるだけ小さい変圧器の1次巻線及び2次巻線を無誘導的に接続し,接続点を図1のeに示すと
      おりに接地し,他の2端子を1及びrに接続することによって比例辺とする。
                図1 比誘電率試験及び誘電正接試験の変圧器ブリッジ法測定回路の例
  (c) 可変コンデンサ(図1のCs1,Cs2) ガードを設けた空気コンデンサで,全容量200pF程度のもの
      を2個とし,一方を標準コンデンサCs1とし,他方を測定用コンデンサCs2として試料Cxを並列に
      挿入する。コンデンサは,静電容量の変化を精密に求めるために,容量の小さい方で変化が緩やか
      であり,容量の増加とともに変化が急になる形のものが望ましい。
        また,Cs1及びCs2の残留抵抗,残留インダクタンスは,それぞれ0.1 坎   下,0.1        下であるこ
      とが望ましい。
  (d) コンダクタンスシフタ 図1のm・d間に一定のコンダクタンスをもつ抵抗(図1のg)が挿入され,
      1・r間の抵抗値はmの位置に無関係に一定 (200    圀  ‰柿   1・m間の抵抗値は1000     地   柿  m・r間の

――――― [JIS C 6471 pdf 5] ―――――

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