JIS G 1351:2006 フェロアロイ―蛍光Ｘ線分析方法

                                                                                   G 1351 : 2006

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,日本フェロアロイ
協会(JFA)/財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正すべきとの申出
があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
  これによって,JIS G 1351:1987は改正され,この規格に置き換えられる。
  この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について,責任をもたない。

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――――― [JIS G 1351 pdf 1] ―――――

G 1351 : 2006

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1. 適用範囲・・・・[1]
•  2. 引用規格・・・・[1]
•  3. 定義・・・・[1]
•  4. 分析元素及び定量範囲・・・・[2]
•  5. 一般事項・・・・[2]
•  6. 試料・・・・[3]
•  6.1 試料の採取・・・・[3]
•  6.2 試料の調製・・・・[3]
•  6.3 検量用試料・・・・[3]
•  7. 定量方法・・・・[3]
•  7.1 要旨・・・・[3]
•  7.2 スペクトル線及び分光結晶・・・・[3]
•  7.3 測定・・・・[3]
•  7.4 検量線の作成・・・・[4]
•  7.5 含有率の算出・・・・[4]

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――――― [JIS G 1351 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                              G 1351 : 2006

フェロアロイ−蛍光X線分析方法

Ferroalloys - Method of X-ray fluorescence spectrometric analysis

序文

 この規格は,1977年に制定され,その後1回の改正を経て今日に至っている。前回の改正は1987
年に行われたが,その後の技術的進歩などに対応するために改正した。
  なお,対応国際規格は現時点で制定されていない。

1. 適用範囲

 この規格は,JIS G 2301,JIS G 2302,JIS G 2303,JIS G 2304,JIS G 2312,JIS G 2315及
びJIS G 2318で規定されているフェロアロイの蛍光X線分析方法について規定する。

2. 引用規格

 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS G 1301 フェロアロイ分析方法の通則
    JIS G 1311 フェロマンガン分析方法
    JIS G 1312 フェロシリコン分析方法
    JIS G 1313 フェロクロム分析方法
    JIS G 1314 シリコマンガン分析方法
    JIS G 1322 金属けい素分析方法
    JIS G 1325 シリコクロム分析方法
    JIS G 1327 フェロボロン分析方法
    JIS G 1501 フェロアロイのサンプリング方法通則
    JIS G 1601 フェロアロイの成分用試料のサンプリング方法(その1 フェロマンガン,フェロシリコ
        ン,フェロクロム,シリコマンガン及びシリコクロム)
    JIS G 1603 フェロアロイの成分用試料のサンプリング方法(その3 フェロホスホル,金属マンガン,
        金属けい素,金属クロム,カルシウムシリコン及びフェロボロン)
    JIS G 2301 フェロマンガン
    JIS G 2302 フェロシリコン
    JIS G 2303 フェロクロム
    JIS G 2304 シリコマンガン
    JIS G 2312 金属けい素
    JIS G 2315 シリコクロム
    JIS G 2318 フェロボロン
    JIS K 0119 蛍光X線分析方法通則

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G 1351 : 2006

3. 定義

 この規格で用いる主な用語の定義は,JIS G 1301,JIS G 1501及びJIS K 0119によるほか,次
による。
a) 分析元素 この規格を適用するフェロアロイ中の分析対象元素。

4. 分析元素及び定量範囲

 この規格を適用する品種ごとの分析元素及び定量範囲は,表1による。
                                   表 1 分析元素及び定量範囲
                          品種                   分析元素               定量範囲
                                                                     %(質量分率)
              フェロマンガン               マンガン                  7395
                                           けい素                     0.103.0
                                                                        0.0050.50
                                           りん
              フェロシリコン               けい素                     895
                                           アルミニウム               0.53.0
                                                                       0.0050.050
                                           りん
              高及び中炭素フェロクロム     クロム                    4575
                                           けい素                     1.010
                                                                       0.0050.050
                                           りん
              低炭素フェロクロム           クロム                    4575
                                           けい素                     0.2010
                                                                       0.0050.050
                                           りん
              シリコマンガン               マンガン                  6075
                                           けい素                    1035
                                           りん                        0.050.50
              金属けい素                   アルミニウム               0.201.0
                                           鉄                         0.201.5
                                           カルシウム                  0.0501.0
              シリコクロム                 けい素                    1055
                                           クロム                    2060
                                                                       0.0050.050
                                           りん
              高炭素フェロボロン           ほう素                     923
                                           けい素                     1.04.0
                                           アルミニウム               0.100.50
                                           りん                        0.0050.050
              低炭素フェロボロン           ほう素                     923
                                           けい素                     0.22.0
                                           アルミニウム               212
                                           りん                        0.0050.050

5. 一般事項

 定量方法に共通な一般事項については,JIS G 1301及びJIS K 0119による。

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                                                                                              3
                                                                                   G 1351 : 2006

6. 試料

6.1 試料の採取

 試料の採取は,JIS G 1501,JIS G 1601及びJIS G 1603による。ただし,低炭素フェ
ロクロムなど粉砕の困難な場合には,鋳型兼用スプーンなどを用いて直接溶湯から採取する。

6.2 試料の調製

6.2.1  粉状試料 JIS G 1601及びJIS G 1603に規定する成分試験試料の適切量を取り,更に粉砕機で粉
砕し(1),板状に加圧成形(2)して一面をX線照射面とする。
    注(1) 一般に試料の粒径を小さくすれば,精度は向上する。測定に際しては,あらかじめ試料の粒径
          又は粉砕条件と蛍光X線強度との比較を行い,蛍光X線強度が一定となる粒径又は条件を求め,
          この粒径以下に粉砕することが望ましい。
      (2) 成形性の悪い試料は,試料に石炭,でん粉,ステアリン酸などを均一に混合するか,又はX線
          照射面の裏面に銅粉,硫酸ナトリウムなどを層状に裏打ちして,加圧成形する。
6.2.2  塊状試料 鋳型兼用スプーンなどによって採取した供試体を,切断機などを用いて適切な寸法に成
形した後,その一面を粒度60番以上の研磨材を用いて平面研磨し,X線照射面とする。

6.3 検量用試料

 検量用試料は,次による。
a) 検量用試料は,試料と品種とが同一のもので,分析元素の含有率が定量範囲内であって,かつ,定量
    する試料の含有率範囲を含む一系列3試料以上を用いる。
b) 検量用試料は,試料と同一の方法で調製する。
c) 検量用試料の分析元素含有率は,日本工業規格(日本産業規格)に規定されているそれぞれのフェロアロイの分析方法
    規格(JIS G 1311,JIS G 1312,JIS G 1313,JIS G 1314,JIS G 1322,JIS G 1325及びJIS G 1327)に
    よって決定された値を使用する。

7. 定量方法

7.1 要旨

 平面状に調製した試料に,一次X線を照射して元素を励起させ,発生した分析元素の蛍光X
線を分光結晶で分光して検出器に導き,その強度を測定する。

7.2 スペクトル線及び分光結晶

 この分析方法で用いるスペクトル線及び分光結晶は,表2による。
                                表 2 スペクトル線及び分光結晶
                      分析元素     スぺクト   波長    次数      分光結晶
                                     ル線      nm
                   マンガン         MnKα    0.210 3   1   LiF又はトパーズ
                                    MnKβ    0.1910
                   けい素           S iKα   0.7126    1   EDDT又はPET
                   アルミニウム     A1Kα    0.8340    1   EDDT又はPET
                   クロム           CrKα    0.2291    1   LiF
                                    CrKβ    0.208 5
                   鉄               FeKα    0.193 7   1   LiF
                   カルシウム       CaKα    0.335 9   1   EDDT,PET又はLiF
                   りん             PKα     0.618 0   1   Ge,EDDT又はPET
                   ほう素           BKα     6.760     1   人工多層膜

7.3 測定

 試料を試料ホルダを用いて装置の試料室に正しく装着し,X線照射面積を試料マスク及びX
線管の絞りによって調節する。必要がある場合には,X線通路を真空にするか,又はヘリウムガス若しく
は水素ガスで置換した後,あらかじめ設定した測定条件(3)(4)によって,X線を照射して発生した分析元素

――――― [JIS G 1351 pdf 5] ―――――

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