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JIS R 1660-3:2004 規格概要
この規格 R1660-3は、ミリ波フィルタ,共振器に用いる低損失誘電体共振器用ファインセラミックス材料のNRDガイド励振誘電体共振器方法によるミリ波帯における誘電特性の測定方法について規定。
JISR1660-3 規格全文情報
- 規格番号
- JIS R1660-3
- 規格名称
- ファインセラミックスのミリ波帯における誘電特性測定方法―第3部 : NRDガイド励振誘電体共振器方法
- 規格名称英語訳
- Measurement method for dielectric properties of fine ceramics in millimeter wave frequency range -- Part 3:Dielectric resonator method excited by NRD-guide
- 制定年月日
- 2004年3月20日
- 最新改正日
- 2018年10月22日
- JIS 閲覧
- ‐
- 対応国際規格
ISO
- 国際規格分類
ICS
- 31.080.01, 81.060.30
- 主務大臣
- 経済産業
- JISハンドブック
- ファインセラミックス 2018
- 改訂:履歴
- 2004-03-20 制定日, 2008-10-01 確認日, 2013-10-21 確認日, 2018-10-22 確認
- ページ
- JIS R 1660-3:2004 PDF [19]
R 1660-3 : 2004
まえがき
この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,社団法人日本ファインセラミックス協会(JFCA)
/財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日
本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。
JIS R 1660の規格群には,次に示す部編成がある。
JIS R 1660-1 第1部 : 遮断円筒導波管方法
JIS R 1660-2 第2部 : 開放形共振器方法
JIS R 1660-3 第3部 : NRDガイド励振誘電体共振器方法
(pdf 一覧ページ番号 1)
――――― [JIS R 1660-3 pdf 1] ―――――
R 1660-3 : 2004
pdf 目 次
ページ
- 1. 適用範囲・・・・[1]
- 2. 引用規格・・・・[1]
- 3. 定義・・・・[1]
- 4. 測定項目・・・・[1]
- 5. 測定原理・・・・[2]
- 6. 試験環境・・・・[3]
- 7. 装置及びジグ・・・・[3]
- 7.1 装置・・・・[3]
- 7.2 ジグ・・・・[4]
- 8. 標準試料による短絡導体板の比導電率の測定・・・・[6]
- 9. 試験試料の比誘電率及び誘電正接の測定・・・・[11]
- 9.1 試験試料・・・・[11]
- 9.2 試験試料の寸法設計・・・・[11]
- 9.3 試験試料の比誘電率及び誘電正接の測定条件・・・・[13]
- 9.4 試験試料の比誘電率及び誘電正接の測定手順・・・・[13]
- 9.5 試験試料の比誘電率及び誘電正接の計算・・・・[14]
- 10. 報告・・・・[16]
(pdf 一覧ページ番号 2)
――――― [JIS R 1660-3 pdf 2] ―――――
日本工業規格(日本産業規格) JIS
R 1660-3 : 2004
ファインセラミックスのミリ波帯における誘電特性測定方法−第3部 : NRDガイド励振誘電体共振器方法
Measurement method for dielectric properties of fine ceramics in millimeterwave frequency range−Part3:Dielectric resonator method excited byNRD-guide
1. 適用範囲
この規格は,主にミリ波フィルタ,共振器に用いる低損失誘電体共振器用ファインセラミ
ックス材料のNRDガイド励振誘電体共振器方法によるミリ波帯における誘電特性の測定方法について規
定する。
備考 NRDガイド励振誘電体共振器とは,入出力用のNRDガイド(非放射性誘電体線路)によって
誘電体円柱共振器を,励振,検波することを特徴とする共振器である。NRDガイドの切断面と
誘電体円柱共振器が磁界によって結合される。
2. 引用規格
次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS B 0601 製品の幾何特性仕様 (GPS)−表面性状 : 輪郭曲線方式−用語,定義及び表面性状パラメ
ータ
JIS B 7502 マイクロメータ
JIS R 1600 ファインセラミックス関連用語
JIS R 1660-1 ファインセラミックスのミリ波帯における誘電特性試験方法−第1部 : 遮断円筒導波管
法
IEC 60028 International standard of resistance for copper
3. 定義
この規格で用いる主な用語の定義は,JIS R1600及びJIS R 1660-1による。
4. 測定項目
この規格で測定する項目は,複素比誘電率の実数部(以下,比誘電率という。) び誘電
正接tanδとする。
なお,この測定法が適用できる測定周波数, びtan ‰ 囲は,次による。
測定周波数 : 30100 GHz
: 250
tan : 10−610−2
――――― [JIS R 1660-3 pdf 3] ―――――
2
R 1660-3 : 2004
攀
5. 測定原理
この試験方法では,複素比誘電率 攀 −j ,tanδ= / ‰ 卑虧
面を2枚の平行な導体で短絡することで,TE0m1 (m=1,2···) モード(1) 誘電体共振器を構成する(図1参照)。
円柱試料の比誘電率 ( び誘電正接 (tanδ) は,TE0m1モードの共振周波数 ( f0),無負荷Q (Qu),直径
(D),高さ (H) 及び短絡導体板の比導電率 ( ‰湮 定値から求める。
試験試料のtan 定に先立って,短絡導体の 爰 定する。 爰潔 じ ,tan ‰ 準試料によっ
構成されたTE0m1モード共振器とTE0m ード共振器とのQuの差から求める。図2ではTE021モード共振器
及びTE02 ード共振器を示している。これらの誘電体共振器の入出力をNRDガイド(非放射性誘電体線
路)によって行うことで,透過形共振器を構成する。
備考 導波路の軸(図1では円柱軸)に垂直な平面内に電界があるモードを横電界姿態 (Transverse
Electric Mode) といい,TEモードと略称する。これについているサフィックスは,左から順に
円筒座標の軸回り方向及び径方向,軸方向の電界強度の節又は腹の数を示すものとする。
この試験方法ではTEモードを使用するので,測定される 及びtan ‰ 試料の円柱軸と垂
直方向との値である。
D
短絡導体 H
攀
誘電体円柱試料
図 1 誘電率及び誘電正接測定に用いる両端短絡形誘電体円柱共振器
電界
D 磁界
NRDガイド
H
TE021 モード 短絡導体板 TE02 0 ード
a) E021モード標準共振器 b) E02δモード標準共振器
図 2 短絡導体の導電率測定に用いる標準共振器
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3
R 1660-3 : 2004
6. 試験環境
特に指定がない限り,試験環境の温度は25±2 ℃とし,相対湿度は60 %以下とする。
7. 装置及びジグ
7.1 装置
装置の構成例を,図3に示す。図3 a) ではスカラー形ネットワークアナライザを使用し,図
3 b) ではベクトル形ネットワークアナライザを使用している。
図3 a) では,掃引信号発生器から出たミリ波信号は,方向性結合器で分割され,その一方は基準信号と
して検波器を介してネットワークアナライザに入力される。他方は,試料を装着した試験ジグに入力され
る。試験ジグを透過した信号は検波器を介してネットワークアナライザに入力され,基準信号との振幅比
として,縦軸に透過減衰量,横軸に周波数の形で画面上に表示される。
一方,図3 b) では,送信側ミリ波帯Sパラメータ・モジュールから出力されたミリ波信号は,試験用ジ
グを透過し,受信側ミリ波帯Sパラメータ・モジュールに入力され検波される。これと同時に送信側ミリ
シンセサイザ形 スカラー形
シンセサイザ型 スカラー型
掃引信号発生器 ネットワークアナライザ
掃引信号発生器 ネットワークアナライザ
基準信号用
基準信号用
アイソレータ
アイソレータ検波器
検波器
×N 信号逓倍器 方向性
方向性 試験信号用
試験信号用
×N 信号逓倍器 アイソレータ
アイソレータ 開放型共振器
試験用ジグ アイソレータ
アイソレータ
結合器
結合器 検波器
検波器
基準レベル測定用伝送路
基準レベル測定用伝送路
a) スカラー形ネットワークアナライザを使用した構成例
ベクトル形
ベクトル型
ネットワークアナライザ
ネットワークアナライザ
Sパラメータ
Sパラメータ Sパラメータ
Sパラメータ
試験用ジグ
開放型共振器
ミリ波モジュール
ミリ波モジュール ミリ波モジュール
ミリ波モジュール
基準レベル測定用伝送路
基準レベル測定用伝送路
b) ベクトル形ネットワークアナライザを使用した構成例
図 3 試験装置の構成例
――――― [JIS R 1660-3 pdf 5] ―――――
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JIS R 1660-3:2004の国際規格 ICS 分類一覧
- 81 : ガラス及びセラミック工業 > 81.060 : セラミックス > 81.060.30 : ニューセラミックス
JIS R 1660-3:2004の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB0601:2013
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―表面性状:輪郭曲線方式―用語,定義及び表面性状パラメータ
- JISB7502:2016
- マイクロメータ
- JISR1600:2011
- ファインセラミックス関連用語
- JISR1660-1:2004
- ファインセラミックスのミリ波帯における誘電特性測定方法―第1部:遮断円筒導波管方法