JIS Z 8833:2011 粒子特性を評価するための粉体材料の縮分

                                                                                   Z 8833 : 2011

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  4 記号及び略語・・・・[3]
•  5 サンプリング及び試料分割・縮分の原則・・・・[4]
•  5.1 概要・・・・[4]
•  5.2 基礎誤差・・・・[4]
•  5.3 サンプリング誤差-試料又はインクリメントの数・・・・[6]
•  6 サンプリング計画・・・・[8]
•  7 基本手順・・・・[9]
•  7.1 安全対策・・・・[9]
•  7.2 一次サンプリング・・・・[9]
•  7.3 試料の取扱い・・・・[10]
•  7.4 試料の保管容器・・・・[10]
•  7.5 試料の保管容器の表示・・・・[11]
•  8 試料分割・縮分方法・・・・[11]
•  8.1 概要・・・・[11]
•  8.2 回転分割機(JIS M 8100の附属書2)・・・・[11]
•  8.3 二分割器(JIS M 8100の6.5.3,JIS Z 8816の5.3.4)・・・・[12]
•  8.4 円すい四分方法(JIS M 8100の付図4,JIS Z 8816の5.3.5)・・・・[14]
•  8.5 インクリメント縮分方法(JIS Z 8816の5.3.3)・・・・[14]
•  8.6 すくい取りサンプリング・・・・[16]
•  8.7 ペーストからのサンプリング・・・・[16]
•  8.8 懸濁液からのサンプリング・・・・[16]
•  9 妥当性確認・・・・[17]
•  附属書A(参考)サンプリング誤差及び最小試料質量の推算・・・・[18]
•  附属書B(参考)サンプリング系列の様々な段階における分散の計算・・・・[25]
•  附属書C(参考)参考文献・・・・[29]
•  附属書JA(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[30]

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――――― [JIS Z 8833 pdf 1] ―――――

Z 8833 : 2011

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,社団法人日本粉体工業技術協会(APPIE)及
び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,
日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

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――――― [JIS Z 8833 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                              Z 8833 : 2011

粒子特性を評価するための粉体材料の縮分

Sample reduction for the determination of particulate properties

序文

  この規格は,2007年に第1版として発行されたISO 14488を基に,我が国の実情を勘案し,技術的内容
を変更して作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。
変更の一覧表にその説明を付けて,附属書JAに示す。

1 適用範囲

  この規格は,粉体材料(ペースト,懸濁液,粉じんなどを含む。)において,定められた信頼水準でその
粉体材料全体を代表する試験試料を得るために必要な粒子量及び縮分方法について規定する。この規格は,
特に,2 mm以下の粉体材料の粒子径,粒子径分布,比表面積などの粒子特性を測定し,評価するための
粉体材料に適用する。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          ISO 14488:2007,Particulate materials−Sampling and sample splitting for the determination of
              particulate properties(MOD)
            なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
          ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS M 8100 粉塊混合物−サンプリング方法通則
    JIS Q 9001 品質マネジメントシステム−要求事項
      注記 対応国際規格 : ISO 9001,Quality management system−Requirements(IDT)
    JIS Z 8101-1 統計−用語と記号−第1部 : 確率及び一般統計用語
    JIS Z 8101-2 統計−用語と記号−第2部 : 統計的品質管理用語
    JIS Z 8816 粉体試料サンプリング方法通則
    JIS Z 8819-1 粒子径測定結果の表現−第1部 : 図示方法
    JIS Z 8819-2 粒子径測定結果の表現−第2部 : 粒子径分布からの平均粒子径又は平均粒子直径及びモ
        ーメントの計算
      注記 対応国際規格 : ISO 9276-2,Representation of results of particle size analysis−Part 2:
             Calculation of average particle sizes/diameters and moments from particle size

――――― [JIS Z 8833 pdf 3] ―――――

2
Z 8833 : 2011
             distributions(IDT)
    JIS Z 8824 粒子径測定のための試料調製−粉体の液中分散方法
      注記 対応国際規格 : ISO 14887,Sample preparation−Dispersing procedures for powders in
             liquids (MOD)
    ISO 3165,Sampling of chemical products for industrial use−Safety in sampling

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS Z 8101-1及びJIS Z 8101-2によるほか,次による。
3.1
試料(sample)
  特性解析のためにサンプリングした粉体材料の一部。
3.2
試料インクリメント(sample increment)
  1回のサンプリングの単位で,単位試料のこと。粉体材料中に指定した一連の場所からサンプリングし
た試料,又は生産・輸送工程において指定した一連の時間でサンプリングした試料。他のインクリメント
と混合することで大口試料(3.4参照)を形成する。
3.3
一次試料(primary sample)
  対象とする粉体材料からサンプリングした試料(単一又は複合)。
3.4
大口試料(gross sample)
  幾つかの試料インクリメントからなる一次試料。
3.5
代表試料(representative sample)
  与えられた信頼限界の範囲内で同じ特性をもち,その粉体材料を代表する試料。
3.6
スポット試料(spot sample)
  指定した場所又は生産時間に粉体材料のバッチからサンプリングした試料。
3.7
試験試料(test sample)
  特性解析の目的だけに使用する試料。
3.8
縮分(sample reduction)
  一つの試料を物理的特性,化学成分などが等しい幾つかの小さな試料に分けること(JIS Z 8816による。)。
3.9
分割(sample splitting)
  縮分のために一つの試料を幾つかの小さな試料に分けること。
3.10
サンプリング順序(sampling sequence)
  測定対象とする粉体材料の試験試料を得るためのサンプリング,試料分割及び組合せの順序。

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                                                                                   Z 8833 : 2011
3.11
かたより(bias)
  真値(又は許容値)と実測値との系統的な差。
3.12
誤差(error)
  実測値と真値との差で,偶然誤差及び系統誤差からなる。
3.13
サブ試料(sub-sample)
  一次試料から分割された試料。
3.14
縮分率(sample reduction ratio)
  一連の分割・縮分操作で得られたサブ試料のサンプルサイズと一次試料のそれとの比率。

4 記号及び略語

  この規格で用いる記号及び略語は,JIS Z 8819-1及びJIS Z 8819-2によるほか,次による。
 CV      変動係数(coefficient of variation)。すなわち,平均値に対する標準偏差の相対的な割合(%)
 Fφ1,φ2φ1及びφ2の自由度をもつF分布において,ある上側確率に対応するF分布の値
 FE      基礎誤差(fundamental error)。粒子のサンプリング場所に関係して,粒子特性のランダムなばら
         つきに起因する統計的誤差で,サンプリングした試料の粒子数,又は質量に依存する。
 n       試料又は試料インクリメントに含まれる全粒子数
 n0      与えられた粒子径区間に含まれる粒子数
 nmin    与えられた信頼水準で最大偏差εmax以内に基礎誤差を抑えるために必要な試料又は試料インク
         リメントに含まれる粒子数
 N       測定試料数
 Nr      着目する粒子特性に関する平均値の推定値と真値との間において,与えられた信頼水準で最大偏
         差をεmax以内にするために必要な試料数又は試料インクリメント数
 Q0(x)   個数基準の粒子径分布におけるふるい下積算分率(%)
 Q3(x)   質量基準の粒子径分布におけるふるい下積算分率(%)
 r       粒子径分布の基準 : r=0は個数,r=1は長さ,r=2は面積,r=3は体積又は質量
 SD      標準偏差(standard deviation)
 sy      測定結果から得たyの標準偏差の推定値
 sQ3     xP以下の粒子の質量分率Q3(xP)に関する基礎誤差
 t       統計的有意性に関するスチューデントのt値。信頼水準及び自由度N−1に依存する(t値は,t-
         分布表から引用する。)。
 Var     分散(variance)(統計的)
 x       粒子径(μm)
 xP      ふるい下積算分率P %の粒子径(μm)
 xP,r    基準rの粒子径分布におけるふるい下積算分率P %の粒子径(μm)
 y       粒子径,形状,比表面積などの粉体粒子の特性値

――――― [JIS Z 8833 pdf 5] ―――――

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