JIS R 1612:2010 ファインセラミックスの曲げクリープ試験方法

                                                                                   R 1612 : 2010

pdf 目 次

ページ

•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[1]
•  4 装置及び器具・・・・[2]
•  5 試験片・・・・[4]
•  5.1 試験片の形状及び寸法・・・・[4]
•  5.2 試験片のりょう(稜)の丸め又は面取り・・・・[5]
•  5.3 試験片の表面粗さ・・・・[5]
•  5.4 試験片の数・・・・[5]
•  6 試験方法・・・・[5]
•  6.1 試験片の幅及び厚さの測定・・・・[5]
•  6.2 支点間距離及び荷重点間距離・・・・[5]
•  6.3 雰囲気・・・・[5]
•  6.4 加熱方法・・・・[6]
•  6.5 負荷方法・・・・[6]
•  6.6 温度,変位量及び破断時間の測定方法・・・・[6]
•  6.7 試験時間,試験温度及び負荷応力の設定・・・・[6]
•  6.8 負荷荷重の計算・・・・[6]
•  7 ひずみ量の計算・・・・[6]
•  8 報告書・・・・[7]
•  8.1 必す(須)事項・・・・[7]
•  8.2 推奨事項・・・・[8]

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――――― [JIS R 1612 pdf 1] ―――――

R 1612 : 2010

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,社団法人日本ファ
インセラミックス協会(JFCA)及び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業
規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業
規格である。
  これによって,JIS R 1612:2002は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許
権,出願公開後の特許出願,実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について,責
任はもたない。

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――――― [JIS R 1612 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                          JIS
                                                                              R 1612 : 2010

ファインセラミックスの曲げクリープ試験方法

Testing method for bending creep of fine ceramics

1 適用範囲

  この規格は,一定温度,一定荷重の連続的な条件の下で,機械部品,構造材料などの高強度材料として
使用するファインセラミックスの4点曲げクリープ試験方法について規定する。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS B 0601 製品の幾何特性仕様(GPS)−表面性状 : 輪郭曲線方式−用語,定義及び表面性状パラメ
        ータ
    JIS B 0621 幾何偏差の定義及び表示
    JIS B 7502 マイクロメータ
    JIS B 7503 ダイヤルゲージ
    JIS B 7507 ノギス
    JIS C 1602 熱電対
    JIS R 1600 ファインセラミックス関連用語
    JIS Z 8401 数値の丸め方
    JIS Z 8704 温度測定方法−電気的方法

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS R 1600によるほか,次による。
3.1
4点曲げクリープ
  試験片を一定距離に配置された2支点上に置き,支点間の中央から左右に等しい距離にある2点に分け
て一定荷重を加えたときの,時間的経過に対する試験片の変形。
3.2
支持具
  4点曲げクリープ試験において,試験片を支点で支え,又は試験片に荷重を加える器具で,丸棒又は先
端が一定の曲率半径をもつナイフエッジ状のもの。
3.3
試験片変形量
  内側荷重点間の試験片の変形量を引張応力が負荷される面で直接測定した値(図4参照)。

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R 1612 : 2010
3.4
荷重点変位量
  上部又は下部のジグ移動量から荷重点の変位を測定した値(図5参照)。
3.5
ひずみ(歪)
  試験片の弾性変形量を除いた試験片変形量,又は荷重点変位量から算出した引張応力負荷面の伸び量を
元の長さで除した値。
3.6
負荷応力
  クリープ試験開始時に試験片に加える応力で,引張応力負荷面の最大応力。
3.7
破断時間
  4点曲げクリープ試験において,試験開始後から試験片が破断するまでの時間。

4 装置及び器具

4.1 試験機 試験機は,次のとおりとする。
a) 試験機は,その荷重容量の5100 %の範囲で,±0.5 %の荷重精度をもたなければならない。
b) 試験機は,外部からの振動及び衝撃の影響を受けないように据え付けなければならない。
c) 試験機は,おもりによる直接荷重式のもの,単てこ荷重式又はモータ駆動による電気機械式のものな
    どが好ましく,荷重の中心軸がずれることなく,円滑に負荷できる機構でなければならない。また,
    試験時の荷重変動が±1 %の範囲で制御可能なものでなければならない。
4.2 試験ジグ 試験ジグは4点曲げ(図1参照)とし,使用する試験片(箇条5及び図2参照)によって
支点間距離が30 mmと40 mmとに区分する(表1参照)。
                       表1−曲げ方式,試験片,支点間距離及び荷重点間距離
                                                                         単位 mm
                  曲げ方式          試験片          支点間距離      荷重点間距離
              4点曲げ方式         標準試験片I        30±0.5           10±0.5
                                 標準試験片II        40±0.5           20±0.5
4.3 加熱装置 加熱装置は,温度調節装置を備えた加熱炉を用い,試験中常に試験片全体にわたり,指示
温度の±0.5 %の温度範囲内で一様かつ一定に加熱することができるものでなければならない。
4.4 温度測定装置 温度測定装置は,計測器と熱電対とからなり,次のとおりとする。
a) 測定精度及び計測器 測定精度及び計測器は,測定精度が定格値の±0.5 %で,JIS Z 8704に規定する
    B級測定方式の測定精度及び計測器とする。
b) 熱電対 熱電対は,次による。
  1) 温度測定は,JIS C 1602に規定する熱電対で行う。
  2) 熱電対の測温接点は,試験片の表面と熱的によく接触し,炉壁からの放射熱を避けるように適切に
      遮へいしなければならない。
  3) 熱電対以外の温度計を使用するときは,熱電対による場合と同等又はそれ以上の精度のものでなけ
      ればならない。

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                                                                                   R 1612 : 2010
4.5 試験片変形量測定装置及び荷重点変位量測定装置 試験片変形量測定装置は,試験片の変形を直接測
定するものであり,荷重点変位量測定装置は,上部又は下部のジグ移動量から荷重点変位を測定するもの
で,0.001 mmの変位を読み取れるものでなければならない。試験片変形量測定装置及び荷重点変位量測定
装置は,温度変化の影響を受けないようにしなければならない。
4.6 支持具 支点及び荷重点における支持具は,試験温度において弾性率147 GPa以上をもち,試験中に
塑性変形及び破壊がなく,試験片との付着又は化学的反応を生じにくい材質のものとする。支持具先端の
曲率半径R1及びR2(丸棒の場合は直径D)は,図1に示すものを用いる。支持具先端表面の表面粗さは,
JIS B 0601に規定する0.4   刀慎       下とする。また,支持具は左右同一形状とし,試験片幅方向の支持具の
長さは,試験片の幅(W)より大きくなければならない。回転可能な構造をもつ支持具を用いる試験ジグ
の場合には,試験片と支持具との間に発生する摩擦力を緩和するためにだけ支持具が回転・移動する構造
とし,測定途中で支持具の位置が大きく変動しない構造とする必要がある。支持具が固定され回転しない
場合には,得られる測定値は,実際の強度よりも理論的に高くなるため,注意が必要である。
  なお,支持具が回転可能な構造をもつか否かを8.1 d) 5)で記載する。
4.7 マイクロメータ マイクロメータは,JIS B 7502に規定する外側マイクロメータ又はこれと同等以上
の精度をもつものを用いる。
4.8 ダイヤルゲージ ダイヤルゲージは,JIS B 7503に規定する目量が0.01 mmのダイヤルゲージ又はこ
れと同等以上の精度をもつものを用いる。
4.9 ノギス ノギスは,JIS B 7507に規定する最小読取値0.05 mmのノギス又はこれと同等以上の精度を
もつものを用いる。

――――― [JIS R 1612 pdf 5] ―――――

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