JIS C 6462:1996 電子機器用可変コンデンサの試験方法

                                                                               C 6462-1996

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ページ

•  1. 適用範囲・・・・[1]
•  2. 用語の定義・・・・[2]
•  3. 試験の状態・・・・[2]
•  3.1 標準状態・・・・[2]
•  3.2 基準状態・・・・[3]
•  3.3 判定状態・・・・[3]
•  3.4 注意事項・・・・[3]
•  4. 試験前後の処理・・・・[3]
•  4.1 前処理・・・・[3]
•  4.2 後処理・・・・[3]
•  4.3 強制乾燥・・・・[3]
•  4.4 試験での静電容量の設定値・・・・[4]
•  4.5 供試コンデンサの取付けなど・・・・[4]
•  4.6 個別規格に規定する事項・・・・[4]
•  5. 試験機器及び装置・・・・[4]
•  5.1 直流電源・・・・[4]
•  5.2 交流電源・・・・[4]
•  5.3 試験槽・・・・[4]
•  5.4 その他の試験機器及び装置・・・・[4]
•  6. 外観及び寸法試験・・・・[4]
•  6.1 装置・・・・[5]
•  6.2 試験・・・・[5]
•  6.3 個別規格に規定する事項・・・・[5]
•  7. 電気的性能試験・・・・[5]
•  7.1 耐電圧・・・・[5]
•  7.2 絶縁抵抗・・・・[7]
•  7.3 静電容量・・・・[7]
•  7.4 誘電正接・・・・[9]
•  7.5 Q・・・・[9]
•  7.6 回転部接触抵・・・・[10]
•  7.7 バックラッシ・・・・[12]
•  7.8 セッティング・ドリフト・・・・[12]
•  7.9 静電容量の温度特性及び静電容量のずれ・・・・[13]
•  7.10 回転軸固定装・・・・[15]
•  8. 機械的性能試験方法・・・・[16]

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――――― [JIS C 6462 pdf 1] ―――――

C 6462-1996

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•  8.1 端子強・・・・[16]
•  8.2 振動(耐振性・・・・[18]
•  8.3 衝撃(耐衝撃性・・・・[19]
•  8.4 はんだ付け・・・・[22]
•  8.5 はんだ耐熱・・・・[27]
•  8.6 耐溶剤・・・・[29]
•  8.7 トルク・・・・[30]
•  8.8 全回転角・・・・[31]
•  8.9 耐軸荷重性・・・・[31]
•  8.10 軸の耐回転止め・・・・[32]
•  8.11 回転耐久・・・・[33]
•  8.12 端子(電極)強・・・・[34]
•  8.13 はんだ付け・・・・[39]
•  8.14 はんだ耐熱・・・・[43]
•  8.15 電極の耐はんだ食われ・・・・[44]
•  8.16 バン・・・・[45]
•  8.17 封・・・・[48]
•  9. 耐候性試験・・・・[50]
•  9.1 低・・・・[50]
•  9.2 高・・・・[51]
•  9.3 温度急・・・・[52]
•  9.4 高温高湿(定常・・・・[52]
•  9.5 耐湿性(サイクル・・・・[53]
•  9.6 塩水噴・・・・[60]
•  9.7 減・・・・[61]
•  9.8 耐湿負・・・・[62]
•  9.9 高温負荷(直流連続)・・・・[63]
•  9.10 一連耐候性・・・・[64]
•  附属書 SMD(チップ)コンデンサの試験用 プリント配線板への取付け・・・・[66]
•  関連規格・・・・[67]

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――――― [JIS C 6462 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                             C 6462-1996

電子機器用可変コンデンサの試験方法

Test methods of variable capacitors for use in electronic equipment

1. 適用範囲

 この規格は,主として電子機器に用いる可変コンデンサ(以下,コンデンサという。)の試
験方法について規定する。ただし,この規格と個別規格との間に規定の相違がある場合には,個別規格の
規定による。
    備考1. この規格での試験に際し,回転子の動作を表す場合,すべて回転,回転方向などと表してい
            る。直線動作形,圧着(接)形などの場合は,動作,動作方向などと読み替えることとする。
         2. この規格の引用規格を,次に示す。
    JIS B 0251 メートル並目ねじ用限界ゲージ
    JIS B 0252 メートル細目ねじ用限界ゲージ
    JIS B 7502 マイクロメータ
    JIS B 7507 メギス
    JIS C 0010 環境試験方法−電気・電子−通則
    JIS C 0020 環境試験方法−電気・電子−低温(耐寒性)試験方法
    JIS C 0021 環境試験方法−電気・電子−高温(耐熱性)試験方法環
    JIS C 0022 環境試験方法(電気・電子)高温高湿(定常)試験方法
    JIS C 0023 環境試験方法(電気・電子)塩水噴霧試験方法
    JIS C 0025 環境試験方法(電気・電子)温度変化試験方法
    JIS C 0026 環境試験方法−電気・電子−封止(気密性)試験方法
    JIS C 0027 環境試験方法(電気・電子)温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法
    JIS C 0028 環境試験方法(電気・電子)温湿度組合せ(サイクル)試験方法
    JIS C 0029 環境試験方法(電気・電子)減圧試験方法
    JIS C 0040 環境試験方法−電気・電子−正弦波振動試験方法
    JIS C 0041 環境試験方法−電気・電子−衝撃試験方法
    JIS C 0042 環境試験方法−電気・電子−バンプ試験方法
    JIS C 0050 環境試験方法(電気・電子)はんだ付け試験方法
    JIS C 0051 環境試験方法−電気・電子−端子強度試験方法
    JIS C 0052 環境試験方法−電気・電子−耐溶剤性(洗浄溶剤浸せき)試験方法
    JIS C 0054 環境試験方法−電気・電子−表面実装部品 (SMD) のはんだ付け性,電極の耐はんだ食
        われ性及びはんだ耐熱性試験方法

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C 6462-1996
    JIS C 1303 高絶縁抵抗計
    JIS C 5102 電子機器用固定コンデンサの試験方法
    JIS C 5602 電子機器用受動部品用語
    JIS C 6461 電子機器用可変コンデンサ品目別通則
    JIS C 6484 プリント配線板用銅張積層板−ガラス布基材エポキシ樹脂
    JIS K 5902 ロジン
    JIS K 8101 エタノール(99.5)(試薬)
    JIS K 8839 2‐プロパノール(試薬)
    JIS Z 3282 はんだ
         3. この規格の対応国際規格を,次に示す。
          IEC 418-1 (1974)   ariable capacitors. Part 1:Terms and methods of test
              Amendment No.1 (1976)
              Amendment No.2 (1981)
          IEC 418-2 (1976)   ariable capacitors. Part 2:Type specification for variable tuning capacitors Type A
              Amendment No.1 (1981)
          IEC 418-3 (1976)   ariable capacitors. Part 3:Type specification for variable trimmer capacitors Type B
          IEC 418-4 (1976)   ariable capacitors. Part 4:Type specification for variable pre-set capacitors Type C

2. 用語の定義

 この規格及び個別規格で用いる主な用語の定義は,JIS C 6461及びJIS C 5602の規定に
よる。
  なお,コンデンサの用途による区分についての用語及び用語“SMD”について,次に示す。
                                                     主に,使用する都度静電容量を変化させ同調
(1) タイプAコンデンサ (Variable tuning capacitors Type A)
    用に使用するコンデンサ。
      なお,同調用可変コンデンサともいう。
      また,タイプCコンデンサを附属するものもある。
                                                       主に,静電容量の可変量が小さく,静電容
(2) タイプBコンデンサ (Variable trimmer capacitors Type B)
    量の微調整用に使用するコンデンサ。
      なお,微調整用可変コンデンサともいう。
                                                        主に,静電容量を調整した後は,固定して
(3) タイプCコンデンサ (Variable pre-set capacitors Type C)
    使用するコンデンサ。
      なお,半固定コンデンサともいう。
(4)   MD 表面実装部品 (Surface mounting devices) の略称。
    参考 (1)(3)の括弧内の英文は,IEC 418-1で用いられているものを示す。

3. 試験の状態

3.1 標準状態

 試験は,規定がない限り,JIS C 0010の5.3[測定及び試験のための標準大気条件(標準
状態)]に基づき,表1の標準状態で行う。ただし,この標準状態での測定値による判定に疑義を生じた場
合,又は特に要求された場合は,3.3の規定による。
  また,換算を必要とする場合は,3.2の規定による。

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                                                                                              3
                                                                                    C 6462-1996
                                         表1 標準状態
                                   温度    ℃    15 35
                                   相対湿度 %    45 75
                                   気圧  kPa     86106
    備考1. 供試コンデンサが大きい場合,又は試験場所の温度の維持が困難な場合には,標準状態以外
            の状態で試験を行ってもよい。この場合の温度は,1040℃の範囲とする。
         2. 温度及び湿度の変動は,試験の一部として行われる一連の測定では,最小に維持することが
            望ましい。
         3. 相対湿度は,試験結果に影響がなければ,無視してもよい。
         4. 標準状態での温度,相対湿度及び気圧の範囲を,この規格では,常温,常湿及び常圧という
            場合がある。

3.2 基準状態

 基準状態は,JIS C 0010の5.1[標準大気条件(基準状態)]の規定に基づき,表2によ
る。
                                         表2 基準状態
                                     温度 ℃        20
                                     気圧 kPa      101.3
    備考 相対湿度に対する要求は,計算による補正が一般に不可能なために規定しない。

3.3 判定状態

 判定状態は,JIS C 0010の5.2[判定測定,及び判定試験のための標準大気条件(判定状
態)]の規定に基づき,表3の中から選択した個別規格の規定による。ただし,規定がない限り,表3の記
号Aの2級とする。
                                         表3 判定状態
            記号                1級                               2級
                  温度 ℃ 相対湿度 %     気圧 kPa   温度 ℃ 相対湿度 %     気圧 kPa
             A     20  ±1    6367        86106      20  ±2    6070        86106
             B     23         4852                   23         4555
             C     25                                25
             D     27         6367                   27         6070
           備考1. 相対湿度は,試験結果に影響しない場合には,無視してもよい。
               2. 表3の記号及び級の区分呼称は,JIS C 0010の5.2には規定がない。この規格では,
                  JIS C 5102の3.3(判定状態)の記号及び級の区分呼称を適用した。

3.4 注意事項

 試験前後を通じて供試コンデンサに,日光,その他の熱源からの熱放射などの試験結果
に影響を及ぼすような要因がないようにする。

4. 試験前後の処理

4.1 前処理

 試験及び測定に際し,供試コンデンサを30分間以上,試験温度又は測定温度に放置し,十
分に放電しておく。

4.2 後処理

 最終測定に先立って,供試コンデンサを標準状態に,12時間放置する。

4.3 強制乾燥

 初期測定又は最終測定に先立って,供試コンデンサを,表4の条件によって乾燥する。
  なお,乾燥後,供試コンデンサを活性化アルミナ,シリカゲルなどの乾燥剤が入ったデシケータ中,又
は相対湿度20%以下の雰囲気中で保管する。

――――― [JIS C 6462 pdf 5] ―――――

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