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JISハンドブック 46 機械計測 (2025) 一覧

ASIN 4542191168

出版社: 日本規格協会 (2025/1/31)

発売日: 2025/1/31

言語: 日本語

単行本: 2128ページ

ISBN-10: 4542191168

ISBN-13: 978-4542191167

寸法: 14.8 x 5 x 21 cm

【46】JISハンドブック JIS HB 46 機械計測 2025

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【46】JISハンドブック JIS HB 46 機械計測 2025

発売年月日：2025-01-31

A5判 ・2,128頁

【収録規格数】  120

【目次項目】ゲージ、長さ、角度、面・形状、基本（幾何特性）

記号項目規格名称記載ページ
ゲージ
MODJIS B 0251：2008メートルねじ用限界ゲージ［ISO 1502：1996（MOD）］p. 17
JIS B 0255：1998ユニファイねじ用限界ゲージp. 102
JIS B 0255：2008 AMENDMENT 1ユニファイねじ用限界ゲージ（追補 1）p. 136
MODJIS B 0253：1985管用テーパねじゲージ［ISO 7-2：1982（MOD）］p. 137
MODJIS B 0254：2011管用平行ねじゲージ［ISO 228-2：1987（MOD）］p. 148
JIS B 0261：2020平行ねじゲージ―測定方法p. 199
JIS B 0262：2022管用テーパねじゲージ―測定方法p. 209
JIS B 3102：2001ねじ用限界ゲージの形状及び寸法p. 225
MODJIS B 7420：1997限界プレーンゲージ［ISO/DIS 1938-1：1991（MOD）］p. 257
JIS B 3301：2008テーパゲージ ―モールステーパ及びメトリックテーパp. 294
MODJIS B 0271：2018ねじ測定用針［ISO 16239：2013（MOD）］p. 306
改JIS B 0271：2024 AMENDMENT 1（追補 1）p. 322
長さ
MODJIS B 7506：2004ブロックゲージ［ISO 3650：1998（MOD）］p. 327
JIS B 7541：2001標準尺p. 348
JIS B 7516：2005金属製直尺p. 352
JIS B 7534：2005金属製角度直尺p. 356
JIS B 7512：2018鋼製巻尺p. 361
JIS B 7522：2018繊維製巻尺p. 370
JIS B 7450：2023リニアエンコーダp. 376
JIS B 7545：2015テストバーp. 399
MODJIS B 7503：2017ダイヤルゲージ［ISO 463：2006（MOD）］p. 414
MODJIS B 7563：2021デジタルインジケータゲージ［ISO 13102：2012（MOD）］p. 435
MODJIS B 7533：2015てこ式ダイヤルゲージ［ISO 9493：2010（MOD）］p. 454
JIS B 7515：1982シリンダゲージp. 478
MODJIS B 7502：2016マイクロメータ［ISO 3611：2010（MOD）］p. 484
JIS B 7520：1981指示マイクロメータp. 519
JIS B 7544：1994デプスマイクロメータp. 525
MODJIS B 7507：2022製品の幾何特性仕様（GPS）―寸法測定機―ノギス［ISO 13385-1：2019（MOD）］p. 533
MODJIS B 7517：2018ハイトゲージ［ISO 13225：2012（MOD）］p. 555
MODJIS B 7518：2023製品の幾何特性仕様（GPS）―寸法測定器―デプスゲージ［ISO 13385-2：2020（MOD）］p. 580
JIS B 7524：2008すきまゲージp. 599
JIS B 7535：1982流量式空気マイクロメータp. 604
JIS B 7536：1982電気マイクロメータp. 608
JIS B 7153：1995測定顕微鏡p. 615
IDTJIS B 7440-1：2003製品の幾何特性仕様（GPS）―座標測定機（CMM）の受入検査及び定 期検査―第1部：用語［ISO 10360-1：2000（IDT）］p. 620
IDTJIS B 7440-2：2013製品の幾何特性仕様（GPS）―座標測定機（CMM）の受入検査及び定期検査―第2部：長さ測定［ISO 10360-2：2009（IDT）］p. 639
IDTJIS B 7440-3：2003製品の幾何特性仕様（GPS）―座標測定機（CMM）の受入検査及び定期検査―第3部：ロータリテーブル付き座標測定機［ISO 10360-3：2000（IDT）］p. 668
MODJIS B 7440-5：2022製品の幾何特性仕様（GPS）―座標測定システム（CMS）の受入検査及び定期検査―第 5部：シングル及びマルチスタイラス接触プロービングシステムを用いた離散点及びスキャニング測定［ISO 10360-5：2020（MOD）］p. 675
IDTJIS B 7440-6：2004製品の幾何特性仕様（GPS）―座標測定機（CMM）の受入検査及び定期検査―第6部：ソフトウェア検査［ISO 10360-6：2001（IDT）］p. 719
IDTJIS B 7440-7：2015製品の幾何特性仕様（GPS）―座標測定機（CMM）の受入検査及び定期検査―第7部：画像プローブシステム付き座標測定機［ISO 10360-7：2011（IDT）］p. 733
改
MOD		JIS B 7440-8：2024製品の幾何特性仕様（GPS）―座標測定システム（CMS）の受入検査及び定期検査―第 8部：光学式距離センサ付き座標測定機［ISO 10360-8：2013（MOD）］p. 770
IDTJIS B 7440-9：2017製品の幾何特性仕様（GPS）―座標測定システム（CMS）の受入検査及び定期検査―第 9部：マルチセンサシステム付き座標測定機［ISO 10360-9：2013（IDT）］p. 823
新JIS B 7440-11：2024製品の幾何特性仕様（GPS）―座標測定システム（CMS）の受入検査及び定期検査―第 11部：X線CTの原理を用いた座標測定システムp. 841
IDTJIS B 7440-12：2019製品の幾何特性仕様（GPS）―座標測定システム（CMS）の受入検査及び定期検査―第 12部：多関節アーム座標測定機（CMM）［ISO 10360-12：2016（IDT）］p. 857
新
MOD		JIS B 7440-13：2024製品の幾何特性仕様（GPS）―座標測定システム（CMS）の受入検査及び定期検査―第 13部：光学式座標測定システム［ISO 10360-13：2021（MOD）］p. 897
IDTJIS B 7443-3：2015製品の幾何特性仕様（GPS）―座標測定機（CMM）：測定不確かさの求め方―第 3部：校正された測定物又は測定標準を使用する方法［ISO 15530-3：2011（IDT）］p. 950
角度
JIS B 7510：1993精密水準器p. 969
JIS B 7523：1977サインバーp. 974
JIS B 7538：1992オートコリメータp. 977
JIS B 7540：1972Vブロックp. 979
JIS B 7432：1985角度標準用多面鏡p. 983
面・形状
JIS B 7513：1992精密定盤p. 987
JIS B 7514：1977直定規p. 994
JIS B 7526：1995直角定規p. 997
JIS B 7539：1971円筒スコヤp. 1005
JIS B 7430：1977オプチカルフラットp. 1008
JIS B 7431：1977オプチカルパラレルp. 1009
JIS B 7433：1989ニュートンゲージp. 1010
JIS B 7184：2021測定投影機p. 1018
MODJIS B 7451：1997真円度測定機［ISO 4291，6318：1985（MOD）］p. 1030
MODJIS B 0659-1：2002製品の幾何特性仕様（GPS）―表面性状：輪郭曲線方式；測定標準―第1部：標準片［ISO 5436-1：2000（MOD）］p. 1044
IDTJIS B 0601：2013製品の幾何特性仕様（GPS）―表面性状：輪郭曲線方式―用語，定義及び表面性状パラメータ［ISO 4287：1997，Amd.1：2009，Cor.1：1998，Cor.2：2005（IDT）］p. 1057
JIS B 0610：2001製品の幾何特性仕様（GPS）―表面性状：輪郭曲線方式―転がり円うねりの定義及び表示p. 1075
IDTJIS B 0631：2000製品の幾何特性仕様（GPS）―表面性状：輪郭曲線方式―モチーフパラメータ［ISO 12085：1996（IDT）］p. 1079
IDTJIS B 0633：2001製品の幾何特性仕様（GPS）―表面性状：輪郭曲線方式―表面性状評価の方式及び手順［ISO 4288：1996（IDT）］p. 1091
IDTJIS B 0634：2017製品の幾何特性仕様（GPS）―フィルタ処理―線形の輪郭曲線フィルタ：ガウシアンフィルタ［ISO 16610-21：2011（IDT）］p. 1097
IDTJIS B 0635：2018製品の幾何特性仕様（GPS）―フィルタ処理―線形の輪郭曲面フィルタ：ガウシアンフィルタ［ISO 16610-61：2015（IDT）］p. 1118
JIS B 0651：2001製品の幾何特性仕様（GPS）―表面性状：輪郭曲線方式―触針式表面粗さ測定機の特性p. 1137
MODJIS B 0651：2022 AMENDMENT 1製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）―表面性状：輪郭曲線方式―触針式表面粗さ測定機の特性（追補 1）［ISO 3274：1996（MOD）］p. 1149
MODJIS B 0670：2002製品の幾何特性仕様（GPS）―表面性状：輪郭曲線方式―触針式表面粗さ測定機の校正［ISO 12179：2000（MOD）］p. 1153
JIS B 0671-1：2002製品の幾何特性仕様（GPS）―表面性状：輪郭曲線方式；プラトー構 造表面の特性評価―第 1部：フィルタ処理及び測定条件p. 1166
MODJIS B 0671-1：2022 AMENDMENT 1製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）―表面性状：輪郭曲線方式；プラトー構造表面の特性評価―第１部：フィルタ処理及び測定条件（追補 1）［ISO 13565-1：1996（MOD）］p. 1170
IDTJIS B 0671-2：2002製品の幾何特性仕様（GPS）―表面性状：輪郭曲線方式；プラトー構 造表面の特性評価―第 2部：線形表現の負荷曲線による高さの特性評価［ISO 13565-2：1996（IDT）］p. 1173
IDTJIS B 0671-3：2002製品の幾何特性仕様（GPS）―表面性状：輪郭曲線方式；プラトー構造表面の特性評価―第 3部：正規確率紙上の負荷曲線による高さの特性評価［ISO 13565-3：1998（IDT）］p. 1177
MODJIS B 0681-1：2023製品の幾何特性仕様（GPS）―表面性状：三次元―第1部：表面性状の図示方法［ISO 25178-1：2016（MOD）］p. 1190
MODJIS B 0681-2：2018製品の幾何特性仕様（GPS）―表面性状：三次元―第2部：用語，定義及び表面性状パラメータ［ISO 25178-2：2012（MOD）］p. 1213
MODJIS B 0681-3：2019製品の幾何特性仕様（GPS）―表面性状：三次元―第3部：仕様オペレータ［ISO 25178-3：2012（MOD）］p. 1240
IDTJIS B 0681-6：2014製品の幾何特性仕様（GPS）―表面性状：三次元―第6部：表面性状測定方法の分類［ISO 25178-6：2010（IDT）］p. 1256
MODJIS B 0684-1：2019製品の幾何特性仕様（GPS）―平面度―第1部：用語及びパラメータ［ISO 12781-1：2011（MOD）］p. 1268
MODJIS B 0684-2：2019製品の幾何特性仕様（GPS）―平面度―第2部：仕様オペレータ［ISO 12781-2：2011（MOD）］p. 1280
JIS Z 2359：2021ひずみゲージ試験通則p. 1292
基本（幾何特性）
IDTJIS B 0021：1998製品の幾何特性仕様（GPS）―幾何公差表示方式―形状，姿勢，位置及 び振れの公差表示方式［ISO/DIS 1101：1996（IDT）］p. 1297
MODJIS B 0022：1984幾何公差のためのデータム［ISO 5459：1981（MOD）］p. 1335
IDTJIS B 0023：1996製図 ―幾何公差表示方式―最大実体公差方式及び最小実体公差方式［ISO 2692：1988，Amd.1：1992（IDT）］p. 1346
IDTJIS B 0025：1998製図 ―幾何公差表示方式―位置度公差方式［ISO/DIS 5458：1994（IDT）］p. 1364
IDTJIS B 0026：1998製図 ―寸法及び公差の表示方式―非剛性部品［ISO 10579：1993（IDT）］p. 1369
JIS B 0031：2003製品の幾何特性仕様（GPS）―表面性状の図示方法p. 1372
MODJIS B 0031：2022 AMENDMENT 1製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）―表面性状の図示方法（追補 1）［ISO 1302：2002（MOD）］p. 1403
IDTJIS B 0401-1：2016製品の幾何特性仕様（GPS）―長さに関わるサイズ公差の ISOコード方 式―第1部：サイズ公差，サイズ差及びはめあいの基礎［ISO 286-1：2010，Cor.1：2013（IDT）］p. 1407
IDTJIS B 0401-2：2016製品の幾何特性仕様（GPS）―長さに関わるサイズ公差の ISOコード方式―第2部：穴及び軸の許容差並びに基本サイズ公差クラスの表［ISO 286-2：2010，Cor.1：2013（IDT）］p. 1447
IDTJIS B 0405：1991普通公差―第1部：個々に公差の指示がない長さ寸法及び角度寸法に対する公差［ISO 2768-1：1989（IDT）］p. 1500
IDTJIS B 0419：1991普通公差―第2部：個々に公差の指示がない形体に対する幾何公差［ISO 2768-2：1989（IDT）］p. 1503
MODJIS B 0420-1：2016製品の幾何特性仕様（GPS）―寸法の公差表示方式―第 1部：長さに関わるサイズ［ISO 14405-1：2010（MOD）］p. 1509
MODJIS B 0420-2：2020製品の幾何特性仕様（GPS）―寸法の公差表示方式―第 2部：長さ又は角度に関わるサイズ以外の寸法［ISO 14405-2：2018（MOD）］p. 1545
MODJIS B 0420-3：2020製品の幾何特性仕様（GPS）―寸法の公差表示方式―第 3部：角度に関わるサイズ［ISO 14405-3：2016（MOD）］p. 1566
IDTJIS B 0612：2017製品の幾何特性仕様（GPS）―円すいのテーパ比及びテーパ角度の基準値［ISO 1119：2011（IDT）］p. 1586
IDTJIS B 0615-1：2017製品の幾何特性仕様（GPS）―くさび形体―第 1部：角度及び勾配の基準値［ISO 2538-1：2014（IDT）］p. 1594
IDTJIS B 0615-2：2017製品の幾何特性仕様（GPS）―くさび形体―第 2部：寸法及び公差の指示方法［ISO 2538-2：2014（IDT）］p. 1602
MODJIS B 0616：1996円すいはめあい方式［ISO 5166：1982（MOD）］p. 1611
MODJIS B 0621：1984幾何偏差の定義及び表示［ISO 1101：1983（MOD）］p. 1630
JIS B 0625：2021公差解析用語p. 1637
新
IDT		JIS B 0626：2024製品の幾何特性仕様（GPS）－母集団の仕様［ISO 18391：2016（IDT）］p. 1673
MODJIS B 0641-1：2020製品の幾何特性仕様（GPS）―製品及び測定装置の測定による検査―第1部：仕様に対する合否判定基準［ISO 14253-1：2017（MOD）］p. 1687
MODJIS B 0641-5：2021製品の幾何特性仕様（GPS）―製品及び測定装置の測定による検査―第5部：指示測定器の適合性検査における不確かさ［ISO 14253-5：2015（MOD）］p. 1716
MODJIS B 0642：2022製品の幾何特性仕様（GPS）―測定機器の一般的な概念及び要求事項［ISO 14978：2018（MOD）］p. 1736
IDTJIS B 0661：2020製品の幾何特性仕様（GPS）―マトリックスモデル［ISO 14638：2015（IDT）］p. 1778
JIS B 0661：2023 AMENDMENT 1製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）―マトリックスモデル（追補 1）p. 1793
新
MOD		JIS B 0662：2024製品の幾何特性仕様（GPS）―測得［ISO 14406：2010（MOD）］p. 1794
IDTJIS B 0672-1：2002製品の幾何特性仕様（GPS）―形体―第1部：一般用語及び定義［ISO 14660-1：1999（IDT）］p. 1809
IDTJIS B 0672-2：2002製品の幾何特性仕様（GPS）―形体―第2部：円筒及び円すいの測得中心線，測得中心面並びに測得形体の局部寸法［ISO 14660-2：1999（IDT）］p. 1815
MODJIS B 0682-1：2017製品の幾何特性仕様（GPS）―真円度―第 1部：用語及びパラメータ［ISO 12181-1：2011（MOD）］p. 1825
MODJIS B 0682-2：2017製品の幾何特性仕様（GPS）―真円度―第 2部：仕様オペレータ［ISO 12181-2：2011（MOD）］p. 1838
MODJIS B 0683-1：2017製品の幾何特性仕様（GPS）―真直度―第1部：用語及びパラメータ［ISO 12780-1：2011（MOD）］p. 1849
MODJIS B 0683-2：2017製品の幾何特性仕様（GPS）―真直度―第2部：仕様オペレータ［ISO 12780-2：2011（MOD）］p. 1861
関連
MODJIS B 0680：2023製品の幾何特性仕様（GPS）―製品の幾何特性及び寸法特性の仕様に関する標準基準温度［ISO 1：2022（MOD）］p. 1875
JIS Z 8103：2019計測用語p. 1882
MODJIS Z 8703：1983試験場所の標準状態［ISO 554：1976，IEC 60160：1963（MOD）］p. 1939
IDTJIS Z 8404-1：2018測定の不確かさ―第 1部：測定の不確かさの評価における併行精度，再現精度及び真度の推定値の利用の指針［ISO 21748：2017（IDT）］p. 1941
IDTJIS Z 8404-2：2008測定の不確かさ―第 2部：測定の不確かさの評価における繰返し測定及び枝分かれ実験の利用の指針［ISO/TS 21749：2005（IDT）］p. 1978
IDTJIS Z 8405：2021試験所間比較による技能試験に使用する統計的方法［ISO 13528：2015（IDT）］p. 2007
参考
1.測定器の選択表p. 2097
2.機械計測関連OIML一覧p. 2105
3.長さ測定機器等の規格番号対照表p. 2106
4.機械計測関係団体規格一覧p. 2120
JISの“まえがき ”の省略p. 2122
ISO,IECが発行する規格・出版物の著作権p. 2123
主な SI単位への換算率表p. 2125

記号の意味

記号・略号意味
新前版発行後に制定された規格。
改前版発行後に改正された規格。追補による改正も含む。
追今年版に追加収録した規格。
◇近く改正予定の規格
解説収録解説を一部省略して収録。
抜粋規格の本体・附属書の一部を抜粋して収録。
〈要約〉国際規格を部分翻訳・要約したJIS（要約JIS）。
改（追）規格の改正を迅速に行い，改正内容の実施を円滑にするために，規格の一部を改正したり，追加規定又は削除するために規格の全体を改正する場合と同じ手順を経て発行されるもの（国際規格準拠）。追補も含めたすべての規格が改正されたことになり，最終追補発行年が有効となる。注意：追補には，規格の一部（改正箇所）しか記載されていませんので，必ず当該規格を併読して用いてください。
R同一年内に2度改正されたJIS。
TS標準仕様書
TR標準報告書
IDTidentica（l 一致）：国際規格と一致している。
a） 技術的内容，構成及び文言において一致している。　又は，
b） 最小限の編集上の変更はあるが，技術的内容において一致している。
“逆も同様の原理”が当てはまる。
MODmodified（修正）：国際規格を修正している。
許容される技術的差異が明示され，かつ，説明されている。この場合，国際規格の構成を反映し，その構成の変更は両規格の内容が容易に比較できる限り許容される。修正規格は一致対応の場合に許容される変更も含む。
“逆も同様の原理”が当てはまらない。

ASIN 4542191168

出版社: 日本規格協会 (2025/1/31)

発売日: 2025/1/31

言語: 日本語

単行本: 2128ページ

ISBN-10: 4542191168

ISBN-13: 978-4542191167

寸法: 14.8 x 5 x 21 cm

【46】JISハンドブック JIS HB 46 機械計測 2025

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